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译者的话 1

前言 1

第一章 射线探伤基础 1

1.1 射线的贯穿和散射 1

1.1.1 单一波长X射线的贯穿和衰减 1

1.1.2 连续X射线的贯穿和衰减 4

1.1.3 宽束X射线的贯穿和衰减 6

1.2 射线探伤原理 11

1.2.1 被检体的对比度 11

1.2.2 射线探伤的各类 12

1.3 感光材料 13

1.3.1 X射线胶片 13

1.3.2 照相黑度 14

1.3.3 X射线胶片的特性曲线 15

1.3.4 X射线胶片的颗粒性 17

1.3.5 X射线胶片的种类 17

1.3.6 增感屏 18

第二章 射线透照灵敏度 21

2.1 射线底片的对比度 21

2.1.1 厚度差和射线底片对比度 21

2.1.2 散乱射线和射线底片对比度 23

2.1.3 几何条件和射线底片对比度 24

2.2 射线底片的识别界限对比度 25

2.2.1 缺陷在射线底片上的对比度及其识别 25

2.2.2 识别界限对比度 26

2.2.3 感光材料和识别界限对比度 28

2.3 射线底片象质的改善 28

2.3.1 一般检验和精密检验 28

2.3.2 改善方法 28

2.3.3 壁厚补偿层的利用 29

2.3.4 屏蔽层的利用(窄视野透照法) 30

2.4 观察方法和缺陷的识别 31

2.4.1 观片器 31

2.4.2 射线底片的表现对比度 31

2.4.3 观察方法和透度计识别度 32

第三章 射线透照条件 36

3.1 射线的线质及其选择 36

3.1.1 X射线的线质和照射率 36

3.1.2 线质和射线源种类对对比度的影响 37

3.2 几何因素及其选择 39

3.2.1 焦点及射线源尺寸 39

3.2.2 焦点尺寸和几何布置引起的影象模糊和放大 41

3.2.3 焦点尺寸和底片对比度 43

3.2.4 辐射场内的焦点尺寸和放大率的影响 43

3.3 曝光条件的确定 44

3.3.1 曝光因子 44

3.3.2 曝光曲线图 45

3.4 X射线胶片特性曲线和曝光曲线图的利用 47

3.4.1 X射线胶片特性曲线用的坐标纸 47

3.4.2 透照条件和X射线胶片的特性曲线 47

3.4.4 曝光条件的修正 50

3.4.3 X射线胶片和增感屏的组合及相对感光度 50

3.4.5 底片黑度范围的确定 52

3.4.6 试件的容许厚度差 54

第四章 放射线管理 57

4.1 射线管理的重要性 57

4.1.1 使用前的管理 58

4.1.2 使用中的管理 58

4.1.3 使用后的管理 59

4.2 射线的管理 59

4.2.1 射线探伤时的有害X射线 59

4.2.2 前散射线量率 60

4.2.3 后散射线量率 61

4.2.5 减少有害射线的方法 63

4.2.4 漏射线的线量率 63

4.2.6 射线防护法令 67

4.2.7 管理区和禁区的确定 67

4.3 射线的测定 68

4.3.1 电离作用和射线的测定 69

4.3.2 电离箱式剂量仪 69

4.3.3 胶片剂量计 70

4.3.4 其他测定法 71

5.1 标准的各类 72

第五章 标准及其说明 72

5.2 日本工业标准JIS Z 3104-1968 73

5.3 日本工业标准JIS Z3105-1977 105

5.4 日本工业标准JIS Z3108-1978 128

5.5 日本工业标准JIS Z3109-1980 159

5.6 日本工业标准JIS G0581-1968 168

5.7 日本工业标准JIS Z3861-1979 206

5.8 其它JIS标准 219

5.8.1 JIS Z3106-1971 219

5.8.2 JIS Z3107-1973 220