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基本原理 1

第一章 X射线的性质 1

1-1引言 1

12电磁辐射 1

目 录 1

1-3连续光谱 3

1-4特征光谱 4

1-5吸收 7

1-6滤波片 11

1-7 X射线的产生 11

1-8 X射线的探测 15

1-9安全防护 16

2-1引言 19

2-2点阵 19

第二章 晶体几何学 19

2-3晶系 20

2-4对称性 22

2-5初基阵胞与非初基阵胞 24

2-6点阵方向与点阵平面 25

2-7晶体结构 29

2-8原子大小与配位 37

2-9晶体的形状 38

2-10孪晶 39

2-11极射赤面投影 42

第三章衍射（Ⅰ）：衍射光束的方向 55

3-1引言 55

3-2衍射 55

3-3布喇格定律 58

3-4 X射线光谱学 60

定性分析 2 60

14-3哈那瓦特法 2 61

3-5衍射方向 61

3-6衍射方法 62

3-7非理想条件下的衍射 67

4-1引言 73

第四章衍射（Ⅱ）：衍射光束的强度 73

4-2一个电子的散射 74

4-3一个原子的散射 76

4-4单晶胞的散射 78

4-5一些有用的关系 82

4-6结构因数的计算 82

4-7强度计算在粉末法中的应用 86

4-8多重性因数 86

4-9洛伦兹因数 87

4-10吸收因数 90

4-11温度因数 91

4-13强度计算举例 92

4-12粉末图样中线条的强度 92

4-14 X射线强度的测量 95

实验方法 97

第五章劳厄照相 97

5-1引言 97

5-2相机 98

5-3试样架 100

5-4准直管 101

5-5劳厄斑点的形状 103

6-2德拜－谢乐法 105

6-1引言 105

第六章粉末照相 105

6-3试样的制备 107

6-4底片的安装 108

6-5高温与低温相机 109

6 6聚焦相机 110

6-7塞曼－巴林相机 110

6-8背射聚焦相机 113

6-9针孔照相 114

6-10辐射的选择 116

6-11底影辐射 116

6-12晶体单色器 118

6-13线条位置的测量 121

6-14线条强度的测量 121

第七章衍射计测量 124

7-1引言 124

7-2一般特点 124

7-3 X射线光学 129

7-4强度的计算 130

7-5正比计数器 132

7-6盖革计数器 134

7-7闪烁计数器 138

7-8定标器 139

7-9脉冲速率计 142

7-10单色器的应用 145

8-2背射劳厄法 148

第八章单晶体的取向 148

8-1引言 148

实际应用 148

8-3透射劳厄法 156

8-4衍射计法 161

8-5晶体的定向安装法 163

8-6塑性变形的效应 165

8-7孪晶的相对取向 170

8-8沉淀相与基体相的相对取向 174

晶体大小 177

9-2晶粒大小 177

9-1引言 177

第九章 多晶聚合体的组织 177

9-3微粒大小 179

9-4晶体的完善性 180

晶体的完善性 180

9-5 X射线贯穿的深度 184

晶体的取向 186

9-6概述 186

9-7线材和棒材的织构（照相法） 189

9-8板材的织构（照相法） 191

9-9板材的织构（衍射计法） 194

9-10小结 201

第十章 晶体结构的测定 202

10-1引言 202

10-2资料的初步处理 203

10-3立方系图样的指数标定 204

10-4非立方系图样的指数标定（图解法） 207

10-5非立方系图样的指数标定（分析法） 213

10-6点阵畸变对粉末图样的影响 215

10-7单位晶胞中原子数的测定 216

10-8原子位置的测定 217

10-9结构测定举例 218

第十一章 点阵参数的精密测量 222

11-1引言 222

11-2德拜－谢乐相机 223

11-3背射聚焦相机 228

11-4针孔相机 229

11-5衍射计 229

11-6最小二乘方法 230

11-7科亨法 233

11-8定度法 235

12-2一般原理 237

12-1引言 237

第十二章相图的测定 237

12-3固溶体 241

12-4固溶线的测定（相消失法） 243

12-5固溶线的测定（参数法） 244

12-6三元系 246

第十三章有序－无序转变 249

13-1引言 249

13-2 AuCu3中的长程有序 249

13-3长程有序举例 253

13-4超点阵线条的探测 256

13-5短程有序和偏聚 258

14-1引言 260

第十四章衍射化学分析 260

14-2基本原理 260

14-4定性分析举例 264

14-5实际的困难 266

14-6表面沉积的铿定 267

定量分析（单相物质） 268

14-7参数测量化学分析 268

定量分析（多相物质） 268

14-8基本原理 268

14-9直接对比法 270

14-10内标法 273

14-11实际的困难 275

第十五章萤光化学分析 277

15-1引言 277

15-2一般原理 278

15-3分光计 280

15-4强度与分辨率 282

15-5计数器 284

15-6定性分析 284

15-7定量分析 285

15-8自动分光计 286

15-9无色散分析 287

15-10镀层厚度的测量 289

第十六章 吸收化学分析 291

16-1引言 291

16-2吸收缘法 292

16-3直接吸收法（单色光束） 293

16-4直接吸收法（多色光束） 294

16-5实际应用 295

第十七章应力测量 296

17-1引言 296

17-2附加应力与残留应力 296

17-3单轴应力 298

17-4两轴应力 299

17-5实验技术（针孔相机） 303

17-6实验技术（衍射计） 305

17-7重迭的宏观应力与微观应力 306

17-8定度 308

17-9实际应用 309

第十八章 对于进修的建议 312

18-1引言 312

18-2教科书 312

18-3参考书 314

18-4期刊 315

附录 316

附录1 点阵几何 316

A1-1面间距 316

A1-2阵胞体积 316

附录2 菱方系－六方系变换 317

A1-3面夹角 317

附录3 某些特征发射谱线和吸收缘的波长（埃） 319

附录4 质量吸收系数（μ/ρ）和密度（ρ） 321

附录5 sin2θ的数值 323

附录6 密勒指数的二次式 325

附录7 （sinθ）/λ的数值（埃-1） 326

附录8 原子散射因数 327

附录9 粉末照片的多重性因数 329

附录10 洛伦兹－偏振因数（1+cos22θ/sin2θcosθ） 330

附录11物理常数 331

附录12国际原子量（1953） 332

附录13晶体结构的资料 333

A14-2电子衍射 336

A14-1引言 336

附录14电子衍射和中子衍射 336

A14-3中子衍射 337

附录15倒易点阵 338

A15-1引言 338

A15-2成矢乘法 339

A15-3倒易点阵 339

A15-4衍射和倒易点阵 343

A15-5转晶法 345

A15-6粉末法 346

A15-7劳厄法 347

习题答案擇要 350

索引 352