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第一章 固体中的缺陷 1

1.1 晶格缺陷的分类 2

1.2 热平衡状态的点缺陷 9

1.3 位错的某些性质 14

一般参考文献 31

第二章 几种实验技术 32

2.1 固体中缺陷的产生 32

2.2 研究缺陷的实验方法 39

2.3 密度和晶格参数和变化 40

2.4 电阻率的测量 41

2.5 电子自旋共振和电子-核双共振 43

2.6 光谱方法 47

2.7 内耗和介电损失的测量 54

2.8 显微结构的研究 56

第三章 离子晶体中的点缺陷 60

3.1 热平衡时的点缺陷 60

3.2 纯净晶体的离子导电性 61

3.3 离子晶体中的杂质导电 64

3.4 扩散和离子导电性 68

3.5 卤化碱晶体的测量结果 71

3.6 其他离子晶体 74

3.7 缺陷能的理论研究 75

第四章 离子晶体中的色心 79

4.1 卤化碱晶体中色心结构 79

4.2 F心的ESR谱和ENDOR谱 82

4.3 F心的光学性质 90

4.4 F心的受激态 98

4.5 受扰F心 99

4.6 F聚集中心 103

4.7 卤化碱晶体中的俘获空穴中心 112

4.8 卤化碱晶体以外的绝缘体 116

附录A4 绝缘体中点缺陷的桑德-西布利(Sonder-Sibley)符号规则 117

第五章 半导体晶体中的缺陷 120

5.1 半导体的某些特性 120

5.2 扩散和热平衡时的点缺陷 128

5.3 硅中的辐照产生的缺陷 135

5.4 半导体中的位错 153

一般参考文献 154

第六章 金属和合金中的点缺陷 155

6.1 热平衡时的晶格空位 155

6.2 淬火金属中的缺陷结构 167

6.3 金属中的辐照操伤 178

一般参考文献 183

第七章 位错与其他缺陷之间的相互作用 184

7.1 佩尔斯-纳巴罗力 184

7.2 晶体中的滑移源 187

7.3 点缺陷和位错的相互作用 190

7.4 缺陷相互作用和固体形变 196

7.5 合金的沉淀硬化 207

7.6 位错之间的相互作用 213

一般参考文献 219

参考文献 220

人名索引 224

索引 228