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目录 1

第一部分 实验的内容和要求 1

一、对实验报告的要求 1

（一）实验准备报告要求 1

（二）实验报告要求 1

二、实验内容 1

实验一 常用电子仪器的使用 1

实验二 电子示波器的使用 2

实验三 半导体分立元件特性和主要参数的测试 3

实验四 集成运算放大器主要参数的测试 3

实验五 数字逻辑功能测试仪的使用 4

实验六 放大器偏置电路的设计与实验 4

实验七 阻容耦合放大器的设计与实验 5

实验八 负反馈放大器的设计与实验 6

实验九 差动放大电路的设计与实验 7

实验十一 模拟运算电路的设计与实验 8

实验十 比例运算电路的设计与实验 8

实验十二 有源滤波器的设计与实验 9

实验十三 波形发生电路的设计与实验 10

实验十四 门电路实验 11

实验十五 组合逻辑电路实验 12

实验十六 触发器实验 13

实验十八 逻辑电路的设计与实验 15

实验十七 时序逻辑电路实验 17

一、放大器偏置电路设计及静态工作点的调整 20

（一）温度对静态工作点的影响 20

第二部分 实验参考资料 20

第一章 基本模拟电路的设计与调试 20

（二）放大器常用的偏置电路 23

（三）放大器偏置电路的设计 25

（四）放大器静态工作点的测量和调试 27

二、阻容耦合放大电路的设计与调试 28

（一）放大器设计的一般原则 28

（二）阻容耦合放大器的设计 33

（三）容阻耦合放大器的调试 38

三、负反馈放大器的分析与设计 41

（一）负反馈对放大器性能的影响 42

（二）反馈放大器的设计 46

四、基本差动放大电路的设计与调试 56

（一）基本差动放大电路的偏置方法及静态工作点的计算 56

（二）差模输入信号的放大原理 58

（三）基本差动放大电路的设计和调试 59

五、集成运算放大器的应用基础 62

（一）运算放大器的自激与补偿 62

（二）运算放大电路的误差分析 66

六、比例放大电路 74

（一）反相比例放大电路的设计相调试 74

（二）同相比例放大电路的设计和调试 77

（三）多级交流放大器的设计 79

七、积分和对数运算电路 80

（一）积分电路的设计和调试 80

（二）对数运算电路的设计和调试 85

（三）指数（反对数）放大器的设计和调试 89

八、有源滤波器 94

（一）有源低通滤波器 94

（二）有源高通滤波器 98

（三）有源带通滤波器 100

（四）有源带阻滤波器 102

九、波形发生电路 104

（一）RC正弦波振荡电路 104

（二）方波和三角波发生器的设计和调试 107

第二章 数字电路的设计与实验 110

一、数字逻辑门电路 110

（一）TTL与非门静态特性的测试 110

（二）TTL与非门动态特性的测试 115

附录：用图示仪测试与非门的各外部特性 115

（三）TTL与非门逻辑功能的测试 117

（四）集电极开路门与三态门 118

（五）MOS数字集成电路静态特性的测试 120

（六）MOS数字集成电路使用注意事项 121

（七）几种常用逻辑门之间的替换 122

（八）门电路的应用 122

二、组合逻辑电路的分析与设计 127

（一）逻辑函数的表示法和化简方法 127

（二）组合逻辑电路的分析 128

（三）组合逻辑电路的设计 130

（四）卡诺图的构成及其填写方法 131

（五）卡诺图的化简 133

（六）根据逻辑表达式设计逻辑电路 134

（七）器件选择应注意事项 136

（八）组合逻辑设计中的几个实际问题 137

（九）组合逻辑电路设计举例 140

三、集成电路触发器 143

（一）集成触发器的基本类型及其逻辑功能 143

（二）常见集成触发器的结构及其特点 147

（三）各型触发器逻辑功能的相互转换 148

（四）集成电路触发器的参数及其测试 150

（五）有关触发器的几个问题 153

四、时序逻辑电路的分析与设计 155

（一）时序逻辑电路的组成及其特点 155

（二）时序逻辑电路的分析方法 156

（三）同步时序电路的设计方法 156

（四）脉冲异步时序逻辑电路的设计 164

五、各类逻辑电路之间的接口电路 165

（一）TTL与MOS电路之间的接口电路 165

（二）MOS与TTL电路之间的接口电路 168

（三）ECL和TTL电路之间的接口电路 169

（四）HTL和TTL电路之间的接口电路 171

第三章 常用电子仪器与测试技术 174

一、电压的测量 174

（一）电压测量的基本要求 174

（二）电压测量仪器的分类 175

（三）测量电压的基本方案 175

（四）电压测量中应注意的几个问题 181

二、时间和频率的测量 182

（一）频率的测量 183

（二）时间的测量 184

三、相位的测量 186

（一）相位－电压转换式相位测量原理 187

（二）相位－频率转换式相位测量原理 189

四、电子示波器 191

（一）示波器的组成及波形显示原理 191

（二）使用示波器应注意的几个问题 199

（三）利用示波器的基本测量方法 201

五、信号源 208

（一）XD-2型信号发生器 208

（二）XD-11型多用信号发生器 209

六、晶体管特性图示仪 212

（一）晶体管特性图示仪的基本工作原理 212

（二）图示仪的基本方框图 214

（三）QT1晶体管特性图示仪的测试原理和使用方法 215

附录：用万用表检查晶体管 223

（四）使用注意事项 223

七、集成运算放大器的参数测试 225

（一）集成运算放大器的主要参数及其测试方法 225

（二）TOC-2型集成运算放大器测试仪 235

八、逻辑电路综合测试仪 243

（一）测试范围 243

（二）测试原理 244

（三）面板布置及其说明 247

（四）使用方法 250

（五）使用注意事项 253

九、选择和使用电子仪器应注意的几个问题 254

（一）正确选用电子测量仪器 254

（二）正确选择测量仪器的功能和量程 254

（三）正确选择测量方法 254

（四）严格遵守仪器使用的操作程序 254

（五）使用仪器应注意的“共地”问题 255

（六）正确使用仪器的开关和旋钮 255