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绪言 1

第一部分 晶体光学基本原理 3

第一章 光的基本概念 3

1. 光的性质 3

2. 光波 4

3. 反射定律 8

4. 折射定律 9

5. 全反射 13

第二章 双折射 16

6. 自然光和偏光 16

7. 均质介质和非均质介质 16

8. 双折射 18

1. 反射法 22

9. 平面偏光获取的方法 22

2. 吸收法 24

3. 棱镜法 25

10. 平面偏光的分解和迭加 30

1. 在同一平面内振动的平面偏光的迭加 30

2. 振动面互相垂直的平面偏光的迭加 32

第三章 折射率面和光率体 38

11. 折射率面 38

1. 高级晶族的折射率面 38

2. 中级晶族的折射率面 38

3. 低级晶族的折射率面 42

12. 光率体 47

2. 中级晶族(一轴晶)的光率体 48

1. 高级晶族的光率体 48

3. 一轴晶光率体在晶体中的位置 51

4. 低级晶族(二轴晶)的光率体 52

5. 二轴晶光率体在晶体中的方位(光性方位) 57

6. 光率体的色散 60

第四章 光波面与光波法线面 64

13. 定义 64

14. 均质体的光波面与光波法线面 65

15. 一轴晶的光波面与光波法线面 65

16. 二轴晶的光波面与光波法线面 70

17. 弗楞乃尔面和波法线蛋形体 77

18. 惠更斯作图法解释双折射 79

19. 内锥折射与外锥折射 88

20. 偏光显微镜的构造 91

第二部分 晶体光学研究方法 91

第五章 偏光显微镜 91

21. 偏光显微镜中象的形成 105

22. 偏光显微镜的附件 107

23. 偏光显微镜的校正 111

24. 偏光显微镜的保养 114

25. 偏光显微镜的光源 117

26. 透明薄片的制法 121

第六章 一个偏光镜下的观察 125

27. 观察晶体的晶形 125

28. 测定晶体的粒径 128

29. 测定岩石薄片中矿物的数量 130

30. 观察晶体的解理并测定解理角 134

31. 突起和糙面的观察 137

32. 贝克线及其产生的原因 139

33. 颜色与多色性的观察 145

34. 薄片厚度的测定 150

35. 不透明矿物的观察 152

第七章 正交偏光镜下的观察 153

36. 正交偏光镜下光的干涉作用 153

37. 平行偏光镜间光的干涉作用 160

38. 干涉色 163

39. 双折射率的测定 167

40. 反常干涉色 181

41. 在定向切面中测定光率体的轴名 182

42. 测定晶体的延长符号 185

43. 消光的种类和消光角的测量 189

44. 双晶的观察 195

45. 取敛偏光(锥光)的装备的特点 198

第八章 聚敛偏光下的观察 198

46. 各类介质在聚敛光下的性质 200

47. 一轴晶各种切面干涉图的特征及其形成原因 201

48. 一轴晶光性符号的测定 211

49. 二轴晶的各种切面上干涉图的特征及其形成原因 218

50. 二轴晶光性符号的测定 232

51. 光轴角的测定 238

52. 在二轴晶干涉图中观察光率体色散 240

53. 聚敛光中测定光性方位 244

54. 在平行光和聚敛光中观察偏光面的转动 247

第九章 油浸法 253

55. 浸没介质 253

56. 侵没介质之温度系数的色散率 263

57. 浸没介质折射率之检定 265

58. 油浸薄片之制法 269

59. 在油浸薄片中比较晶体与浸没介质的折射率之方式 271

60. 均质体折射率之测定过程 277

61. 非均质晶体折射率之测定过程 280

62. 双变油浸法 284

63. 没浸法用于岩石薄片 286

第十章 利用偏光显微镜鉴定透明矿物之步骤 288

第三部分 费氏旋转台使用法 293

第十一章 费氏台的安装、校正兼投影 293

64. 费氏台的发展简史 293

65. 费氏台的应用范畴 294

66. 费氏台的结构 294

67. 实测角度的校正 298

68. 费氏台的安装和校正 300

69. 投影 304

第十二章 在费氏台上测定晶体光性 311

70. 解理、晶面和晶棱间夹角之测定 311

71. 晶体光性之判别 314

72. 一轴晶光性的测定 318

73. 二轴晶光性的测定 325

74. 费氏台锥光法 337

75. 双晶的研究 339

第十三章 利用费氏台对矿物的鉴定 344

76. 费氏台上斜长石的鉴定法 344

77. 费氏台上钾钠长石的鉴定法 367

78. 单斜辉石和单斜角闪石的鉴定 368

参考文献 372