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芯片接口库I/O Library和ESD电路的研发设计应用PDF电子书下载
- 电子书积分:9 积分如何计算积分?
- 作 者:王国立著
- 出 版 社:北京:人民邮电出版社
- 出版年份:2018
- ISBN:9787115487063
- 页数:185 页
第1章 I/O Library介绍 1
1.1 I/O Library的特征 1
1.2 I/O Library的设计流程 4
1.3 研究工艺的特点 5
1.4 设计测试芯片 6
1.5 ESD测试模块 7
第2章 ESD——I/O Library的第一道墙 11
2.1 ESD现象 11
2.2 半导体芯片中的ESD失败现象 12
2.3 电路可靠性—ESD测试模型 16
2.4 ESD标准测试模型的测试组合 25
2.5 ESD标准测试模型的测试误差 28
2.6 输入/输出管脚ESD器件的设计和布局 29
参考文献 75
第3章 闩锁和保护环 77
3.1 闩锁的机理 77
3.2 防止闩锁的方法 79
3.3 Latch-up的测试方法 88
参考文献 94
第4章 I/O电路设计 95
4.1 通用型I/O数据规范和设计 95
4.2 传输线现象 96
4.3 GPIO的输出模块 100
4.4 GPIO的输入模块 114
4.5 模拟输入信号 117
4.6 混合电压输入/输出电路 120
4.7 高压容忍电路中的输入/输出电路 125
4.8 输出电路的布局 128
4.9 I/O的电源线分布 132
4.10 Bond PAD的位置和布局 134
4.11 内核面积决定化和PAD面积决定化 136
参考文献 139
第5章 高速I/O电路 141
5.1 电路补偿 141
5.2 DDR 146
5.3 LVDS 150
参考文献 154
第6章 I/O Library的模型 155
6.1 综合模型 155
6.2 行为模型 169
6.3 IBIS模型 171
参考文献 181
结束语 183
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