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第1章 概述 1

1.1测试性的概念、目标及其影响 1

1.1.1测试性概念 1

1.1.2测试性的影响 2

1.2测试性的发展过程 4

1.2.1测试性技术发展阶段 4

1.2.2测试性标准 4

1.3测试性工程及关键技术 6

1.4常用测试性术语及参数 9

1.4.1常用测试性术语 9

1.4.2参数 14

第2章 测试性建模技术 16

2.1系统划分 16

2.1.1基于模糊有向图的系统划分 16

2.1.2基于模糊聚类的系统划分 21

2.2故障模式分析 25

2.2.1故障模式分析法 25

2.2.2测试性与故障模式分析 26

2.3相关矩阵 28

2.3.1相关矩阵概念 28

2.3.2相关矩阵生成方法 29

2.3.3相关矩阵的化简 34

2.4测试性模型 35

2.4.1信息流模型 35

2.4.2多信号模型 36

2.4.3混合诊断模型 40

2.5测试性建模方法 46

第3章 测试性分配技术 47

3.1概述 47

3.1.1测试性分配的输入/输出 47

3.1.2分配原则与要求 48

3.1.3数学模型 49

3.2经典测试性分配方法 49

3.2.1故障率分配法 49

3.2.2加权分配法 50

3.2.3综合加权分配法 52

3.3基于层次分析的测试性分配方法 53

3.3.1AHP方法基本理论 53

3.3.2基于AHP方法的测试性分配 54

3.3.3示例分析 55

3.4基于线性插值的测试性分配方法 57

3.4.1基于线性插值的测试性分配方法 57

3.4.2基于二次线性插值的测试性分配方法 58

第4章 测试（点）选择 61

4.1概述 61

4.1.1测试选择问题 61

4.1.2测试参数的描述 62

4.2测试可靠情况下的测试优选方法 63

4.2.1基于布尔逻辑的测试优选 63

4.2.2基于启发式搜索策略的测试优选 64

4.2.3基于粘贴模型的测试优选 67

4.3测试点优选方法 70

4.3.1基于二元分裂法的测试点优选 70

4.3.2基于信息论的测试点优选 72

4.3.3基于分割相关矩阵的测试点优选 75

4.3.4测试点优选方法比较 76

4.3.5测试点选取原则 76

第5章 诊断策略构建与优化技术 77

5.1概述 77

5.2面向单故障的诊断策略构建技术 78

5.2.1DP算法 78

5.2.2基于AO＊算法的诊断策略构建问题 79

5.2.3基于广义AO＊算法的诊断策略问题 86

5.2.4基于搜索算法的诊断策略优化 90

5.3诊断策略优化方法 95

5.3.1诊断策略优化提出 95

5.3.2诊断策略优化方法 96

5.3.3诊断策略优化的理论证明 96

5.4面向多故障的诊断策略构建技术 103

5.4.1求解极小碰集的方法 104

5.4.2求解掩盖故障的方法 108

5.4.3基于SURE的诊断策略构建问题 110

5.4.4扩展的单故障诊断策略构建问题 114

5.4.5改进的多故障诊断策略构建问题 115

第6章 测试性预计 119

6.1概述 119

6.2工程预计法 120

6.3其他参数的预计问题 126

第7章 测试性设计与分析 128

7.1测试性要求 129

7.2诊断方案 130

7.2.1诊断方案的组成因素 131

7.2.2诊断方案的制订程序 133

7.2.3诊断方案权衡 134

7.3固有测试性设计 137

7.3.1复杂装备的合理划分 138

7.3.2功能与结构设计 139

7.3.3初始化 140

7.3.4测试控制（可控性） 141

7.3.5观测性设计准则及元器件选择 143

7.4测试性设计准则 144

7.4.1测试性设计准则的内容 144

7.4.2测试性设计准则条款示例 145

7.5 BIT设计内容 157

7.5.1 BIT工作模式设计 157

7.5.2 BIT布局形式 158

7.5.3 BIT软、硬件设计 159

7.5.4 BIT设计技术 160

7.5.5 BIT设计准则 166

7.6防虚警设计 168

7.6.1确定合理的测试容差 169

7.6.2确定合理的故障指示、报警条件 171

7.6.3提高BIT工作的可靠性 171

7.6.4智能BIT 172

7.7外部诊断设计 175

7.7.1测试点设计 175

7.7.2诊断逻辑与测试程序设计 178

7.7.3兼容性设计 182

7.8测试性分析（核查） 184

7.8.1测试性设计准则符合性检查 184

7.8.2兼容性评价 187

7.8.3装备测试性分析的实施 191

第8章 测试性验证技术 195

8.1测试性验证试验方法 195

8.1.1以二项分布为基础的验证方法 195

8.1.2以正态分布为基础的验证方法 203

8.2故障样本量的确定方法 204

8.3故障样本分配方法 205

8.3.1按比例分层抽样分配方法 205

8.3.2按比例简单随机抽样分配法 206

8.3.3基于故障模式的样本分配法 206

8.3.4基于危害度相对比值的样本分配方法 209

8.3.5基于多因子综合的样本分配法 211

8.3.6故障样本分配方法优缺点比较 212

8.4故障样本选取方法 212

8.4.1基于多信号模型的故障样本选取算法 213

8.4.2基于模糊聚类法的故障样本选取算法 215

8.4.3基于影响度的故障样本选取算法 217

8.5故障模拟与注入 223

8.6测试性参数估计 225

8.6.1点估计 225

8.6.2区间估计 226

8.6.3近似估计 227

8.7虚警率验证方法 227

8.7.1按可靠性要求验证 228

8.7.2按成功率验证 228

8.7.3考虑双方风险时的验证 228

8.7.4近似验证方法 229

第9章 装备测试性验证 230

9.1测试性验证目的和内容 231

9.2测试性验证的工作框架及要求 231

9.3测试性验证工作内容与要求 232

9.3.1测试性验证的程序 232

9.3.2测试性验证计划及要求 233

9.3.3测试性验证方法 233

9.3.4数据收集与参数计算 234

9.3.5测试性验证组织与职责 234

9.3.6测试性验证报告 235

9.4测试性验证实施方案示例 235

9.4.1测试性试验验证计划 235

9.4.2测试性试验验证过程 237

9.4.3测试性试验验证结果评定与试验报告 239

参考文献 240