放射性同位素X射线荧光分析PDF电子书下载

第一章 基本原理 1

1.1 原子结构和荧光产额 1

1.2 γ射线和物质的相互作用 6

1.3 γ射线的吸收 11

1.4 X射线荧光的激发 14

1.5 散射强度和散射影响 20

1.6 X射线荧光分析的能量色散法 21

第二章 放射源 24

2.1 概述 24

2.2 γ射线源和X射线源 25

2.3 β-X射线源和轫致辐射源 33

2.4 源靶装置 35

2.5 α、β放射源和X光管 40

第三章 X射线探测器 46

3.1 正比计数器 46

3.2 闪烁计数器 50

3.3 锂漂移型半导体探测器 53

3.4 探测器性能比较 58

3.5 其它探测器 63

第四章 能量分析用的电子线路 66

4.1 能量色散型X射线荧光分析仪的线路要求 66

4.2 放大器 75

4.3 脉冲幅度分析器 83

4.4 计数电路 89

第五章 能量色散装置和样品制备 98

5.1 能量色散装置的设计要求 98

5.2 散射角的选择 99

5.3 放射源-样品-探测器的几何布置 102

5.4 能量色散装置的材料选择 106

5.5 样品的制备 107

第六章 能量选择滤光片和辐射体 111

6.1 原理和分类 111

6.2 金属片型平衡滤光片的设计 116

6.3 塑料氧化物型平衡滤光片的设计 120

6.4 滤光片的制造方法 123

6.5 平衡滤光片的指标和测试 126

6.6 X射线辐射体 129

第七章 基体效应 132

7.1 吸收效应和增强效应 132

7.2 基体效应修正的实验方法 134

7.3 重叠谱线的数学分解 147

7.4 样品厚度效应 149

7.5 表面效应和化合介效应 156

第八章 颗粒样品的非均匀效应 158

8.1 光子辐射对非均匀样品的通过率 158

8.2 含有两种等颗粒度颗粒的样品的荧光强度非均匀效应 162

8.3 贯穿辐射和散射辐射的颗粒度效应 169

8.4 含有多种等颗粒度颗粒的样品的非均匀效应 173

8.5 非等颗粒度样品的颗粒度效应 176

8.6 连续颗粒度分布样品的荧光辐射强度的颗粒度效应 180

第九章 测量误差和仪器工作性能的统计检验 182

9.1 定量分析的测量误差 182

9.2 计数的概率分布 185

9.3 偶然误差和系统误差 190

9.4 计数统计误差和仪器误差 194

9.5 仪器性能重复性的统计检验 197

9.6 仪器工作性能的统计控制 202

10.1 标准样品和定标曲线 207

第十章 定量分析 207

10.2 一元线性回归分析 210

10.3 相关系数和可疑观测值的舍弃 213

10.4 精确度和准确度 218

10.5 灵敏度和探测限 223

10.6 提高精确度的一些测量方法 229

第十一章 定量分析的数学方法 235

11.1 分析多元样品的基本方程 235

11.2 克里斯-伯克斯经验系数法 238

11.3 克莱斯-昆廷经验系数法 242

11.4 拉斯伯里-海因里奇经验系数法 244

11.5 卢卡斯-图思经验系数法 246

11.6 各种经验系数法的比较 250

11.7 克里斯-伯克斯基本参数法 254

第十二章 应用(Ⅰ) 259

12.1 在地质和矿山上的应用 259

12.2 流程分析 271

12.3 冶金分析 280

12.4 覆盖层厚度测量 285

第十三章 应用(Ⅱ) 293

13.1 在医学上的应用 293

13.2 环境公害样品的分析 298

13.3 其它分析应用 308

13.4 颗粒度测量 308

结束语 312

附录一 原子能级图和特征X射线 314

附录二 元素的K吸收限和主要的K系特征X射线 315

附录三 元素的L吸收限和主要的L系特征X射线 317

附录四 光子的质量吸收系数 319

附录五 低能范围的光子质量吸收系数 326

附录六 元素对特征X射线的质量吸收系数 328

附录七 K吸收限和L吸收限的突变化 377

附录八 硫、铁、铜、钼、锡和铅的X射线作用截面 378

附录九 空气、P10气和聚酯膜、聚乙烯醇缩甲醛膜对光子的质量吸收系数 385

附录十 φ200铁框分样筛的规格 386

附录十一 ex及e-x值表 386