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自动测试系统与可程控仪器
自动测试系统与可程控仪器

自动测试系统与可程控仪器PDF电子书下载

工业技术

  • 电子书积分:14 积分如何计算积分?
  • 作 者:孙续编著
  • 出 版 社:北京:电子工业出版社
  • 出版年份:1994
  • ISBN:7505323601
  • 页数:430 页
图书介绍:本书介绍GPIB(IEC-625、IEEE-488)系统的基本知识
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《自动测试系统与可程控仪器》目录

一、对自动测试的迫切需要 1

一、仪器接口功能的选配 2 1

第一章 迅速发展的自动测试系统 1

第一节 自动测试系统的产生和发展 1

二、自动测试系统的发展 4

二、接口功能的状态图表示法 7 5

一、从人工测试到自动测试 10

二、GPIB系统的组成 13

第二节 GPIB系统概述 16

三、GPIB系统的基本特性 20

第二章 通用接口系统中消息的传递 23

第一节 器件内部功能的划分和消息的分类 23

一、器件内部功能的划分 23

二、GPIB系统内消息的分类 25

三、消息的发送和接收 30

第二节 多线消息及其编码 33

一、多线接口消息 34

一、GPIB系统的检测要求 3 39

二、器件消息 43

一、挂钩母线和挂钩消息 48

第三节 挂钩母线及管理母线传递的消息 48

二、三线挂钩的工作过程 50

三、管理母线传递的消息 56

第四节 目动测试系统的基本操作和相应消息序列 60

一、器件消息传递序列 61

二、远地控制和本地控制的转换 62

三、服务请求和串行查询序列 63

四、并行查询序列 65

五、器件清除和器件触发 69

第三章 通用接口系统中的接口功能 72

第一节 接口功能概述 73

一、接口功能的基本概念 73

第二节 五种主要接口功能 78

一、讲者接口功能 78

二、听者接口功能 86

三、控者接口功能 91

四、源方挂钩接口功能 106

五、受方挂钩接口功能 113

一、服务请求接口功能 119

第三节 五种辅助接口功能 119

二、远地/本地接口功能 122

三、并行查询接口功能 126

四、器件清除接口功能 130

五、器件触发接口功能 132

第四章 智能仪器及个人仪器 134

第一节 微计算机化仪器 134

一、智能仪器的组成结构 137

第二节 智能仪器 137

二、智能仪器的面板控制和输出显示 138

三、智能仪器的仪器功能 149

四、智能仪器实例 163

第三节 个人仪器 192

一、个人仪器的崛起 192

二、个人仪器与个人仪器年统的构成 193

三、插件式仪器的广阔前景 197

第五章 可程控仪器及其远地控制 200

第一节 接口功能的配置 201

二、接口功能子集 204

第二节 接口功能的实现 208

一、概述 208

二、采用大规模集成电路实现接口功能 209

三、接口功能的其它实现方法 219

第三节 编码和格式惯例 230

一、由数据拜特构成的消息单元 232

二、数据的表示法及编码 234

三、状态数据的结构和编码 239

第四节 可程控仪器及其远控特性实例 240

一、Fluke8520A数字多用表 241

二、HP3325A合成器/函数发生器 248

第六章 自动测试系统的组建和测试程序的编制 265

第一节 自动测试系统的组建 266

一、组建自动测试系统的准备工作 266

二、组建自动测试系统的几项主要工作 267

第二节 用IBMPC担任控者及其编程——DS-GPIB介绍 273

一、引言 273

二、DS-GPIB接口板的硬件配置 275

三、DS-GPIB的软件及其装配 278

四、GPIB功能调用及编程实例 285

第三节 采用HPBASIC4.0语言编程 295

一、HPBASIC4.0语言选介 296

二、采用HPBASIC4.0编程实例 311

第四节 使用BASIC语言编程 316

一、使用BASIC语言编程的主要特点 316

二、使用BASIC语言程控仪器——实例之一 320

三、用BASIC语言编写自动测试程序——实例之二 325

第五节 其它扩展BASIC语言编程实例及测试程序调试 330

一、副地址使用实例 331

二、服务请求处理程序实例 333

三、测试程序调试简介 336

第七章 GPIB系统的检测和自动测试系统的发展 338

第一节 自动测试系统的检测 338

二、用逻辑分析仪检测GPIB系统 341

三、用专用GPIB分析仪器进行检测 353

第二节 IEEE488.1及488.2的公布及自动测试系统的发展 358

一、1EEE488.1及488.2标准简介 358

二、GPIB系统的发展 362

三、第三代自动测试系统的原理与应用 366

第三节 采用VXI母线的模块式仪器系统 377

一、VXI母线的产生背景 377

二、VXI系统的组成结构 381

三、VXI系统中的母线、器件和通信规程(协议) 388

四、未来测试系统的设想 393

附录 396

习题 421

第一章 习题 421

第二章 习题 421

第三章 习题 422

第四章 习题 424

第五章 习题 425

第六章 习题 426

第七章 习题 427

参考文献 429

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