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目录 1

第一章 测试与容错的基本知识 1

§1-1 诊断与容错技术的产生及发展 1

§1-2 测试技术概述 2

一、测试的一般模型 （2） 二、故障与故障模型 3

三、故障的检测与诊断 （6） 四、测试费用分析 6

§1-3 容错技术概述 8

三、容错技术在高可靠系统设计中的应用 9

一、可靠性概念 （8） 二、基本容错技术 9

参考文献 10

习题 11

第二章 组合电路测试 13

§2-1 组合逻辑电路简介 13

§2-2 跟踪敏化通路的测试生成方法 13

一、单通路敏化法 （14） 二、D算法 15

＊三、九值算法 （22） 四、PODEM算法 24

＊五、FAN算法 （30） 六、临界通路法 35

§2-3 产生测试的代数方法 36

一、布尔差分法 （36） ＊二、主路径敏化法 40

§2-4 跟踪信号通路的测试生成方法 43

一、波格（paoge）法 （43） 二、全通路图法 45

§2-5 故障的精简 46

一、用故障的等价性进行故障归类 （46） 二、用故障之间的强于关系精简故障 47

三、校验点 47

§2-6 故障模拟 48

一、故障模拟的作用 （48） 二、模拟程序 49

三、并行故障模拟 （52） 四、同时故障模拟 52

五、替代故障模拟的方法 （54） 六、故障模拟用于随机测试生成 55

一、故障诊断集 （56） 二、故障字典 56

＊§2-7 故障字典 56

§2-8 测试响应的压缩 58

一、转移计数测试 （59） 二、特征分析技术 59

参考文献 62

习题 63

第三章 时序电路测试 65

§3-1 时序电路简介 65

§3-2 时序电路测试中的问题 66

三、冒险的影响 67

一、初始化问题 （66） 二、振荡问题 67

§3-3 同步时序电路的测试生成法 68

一、组合化模型 （68） 二、用D算法求测试之例 68

三、D算法的扩展 69

§3-4 异步时序电路的测试生成法 71

一、组合化模型（71） ＊二、反馈线的识别 72

三、测试生成之例 74

§3-5 自动机的识别法 75

一、同步序列（75） 二、区分序列 76

三、引导序列（77） 四、核实序列 77

参考文献 78

习题 79

第四章 部件测试 80

§4-1 功能测试概述 80

§4-2 模块级的功能测试 81

一、基本功能块的测试 （81） 二、故障影响的传播与线确认 82

三、功能测试的代数方法 83

§4-3 重复逻辑阵列的测试 84

一、一维重复逻辑阵列的测试（85）　　二、树型结构的测试 89

一、RAM的功能故障模型（90） 　二、RAM的功能测试方法 90

§4-4 随机访问存储器（RAM）的功能测试 90

§4-5 微处理器的功能测试 92

＊一、抽象执行图的方法（93） 二、系统图的方法 98

参考文献 103

习题 104

第五章 可测试性设计 106

§5-1 可测试性分析 106

一、可测试性分析的意义（106） 二、可测试性测度的定义 106

三、可测试性测度的计算（107） 　＊四、一种更精确的可测试性测度 110

§5-2 易测试设计方法 111

一、特定的方法 （111） 二、结构设计的方法 112

§ 5-3 自测试 121

一、微处理器自激励测试 （121） 二、BILBO结构 121

三、内部验证测试 （123） 四、外加寄存器自测试 126

参考文献 126

习题 127

＊第六章 系统级诊断 129

§6-1　基本概念 129

§6-2 PMC模型的一步系统诊断 131

一、计算机系统的自诊断（129） 二、基本定义 131

一、可诊断性的特征 （132） 二、诊断算法 134

三、最佳设计 136

＊§6-3 系统诊断的发展 137

一、诊断目标的发展 （137） 二、模型的发展 139

三、状态值的发展 （141） 四、诊断方法的发展 142

五、各种发展的综合模型 143

＊§6-4 系统诊断的应用 143

三、社会诊断 146

一、模拟电路的诊断 （143） 二、容错计算 146

参考文献 147

习题 149

第七章 差错控制码 151

§7-1 引言 151

一、差错控利码的概念 （151） 二、差错模型 152

三、译码原则 （152） 四、差错控制的策略 153

＊§7-2 代数基础 153

一、群 （153） 二、有限域 154

三、多项式（154） 四、有限域的表示 156

五、向量空间 158

§7-3 奇偶校验码 158

一、基本定义 （158） 二、检单错奇偶校验码 162

三、海明码 （162） 四、SEC/DED码 164

＊五、乘积码（164） 六、b邻接码 166

＊§7-4 循环码 167

一、循环码的结构 （168） 二、循环码的编码和译码 170

三、截短码 （172） 四、BCH码 172

＊§7-5 算术码 175

一、算术差错模型 （175） 二、算术码及其分类 176

＊§7-6 其它码 177

一、校验和码 （177） 二、m出自n码 178

参考文献 179

习题 179

第八章 容错技术 182

§8-1 故障检测技术 182

一、基本定义 （182） 二、完全自校验电路 184

三、完全自校验网络 （185） 四、部分自校验电路及网络 188

五、其它检测技术 189

§8-2 故障屏蔽技术 190

一、自校正逻辑 （190） 二、N偣冗余（NMR）系统 191

三、门级屏蔽逻辑（194） 四、线路级的屏蔽逻辑 197

§8-3 混合冗余技术 198

一、可重组的二倍冗余 （199） 二、NMR后援技术 199

三、NMR自适应表决技术 （200） 四、NMR比较技术 201

五、恢复技术 203

参考文献 204

习题 205

一、定数参数 （206） 二、概率函数参数 206

§9-1 可靠性参数 206

第九章 系统可靠性评价技术 206

三、投影参数 （207） 四、比较参数 208

§9-2 组合模型 209

一、串／并联系统 （209） 二、NMR表决系统 209

三、NMR后援系统 210

＊§9-3 网络模型 211

一、方块图 （211） 二、系统的方块图 212

三、系统的可靠性 213

＊§9-4 马尔柯夫模型 214

一、状态图 （214） 二、状态方程 215

三、状态方程的求解 （216） 四、状态图的简化 217

五、典型系统的可靠性计算 218

参考文献 221

习题 221

第十章 容错系统设计 223

§10-1 设计方法论 223

一、确立系统的可靠性目标 （223） 二、设计故障处理机构 223

三、系统评价 225

＊§10-2 SIFT计算机设计 225

一、可靠性目标 （225） 二、系统设计 226

三、可靠性评价 228

＊§10-3 Intel 432系统设计 228

一、设计目标 （228） 二、系统设计 228

三、系统评价 230

§10-4 Stratus系统设计 230

一、设计目标 （230） 二、系统设计 230

小结 231

参考文献 232

习题 232