集成电路系统设计、验证与测试PDF电子书下载

集成电路电子设计自动化简介 2

系统级设计 6

微体系结构设计 7

逻辑验证 7

测试 8

RTL到GDSII，综合、布局和布线 8

模拟和混合信号设计 9

物理验证 10

工艺计算机辅助设计 11

参考文献 11

绪论 12

验证 14

实现 16

可制造性设计 22

参考文献 23

绪论 26

视频应用的特点 26

其他应用领域 27

平台级的特点 27

基于模型的设计中计算和工具的模型 30

仿真 37

软、硬件的协同综合 38

总结 39

参考文献 40

绪论 43

特定领域语言和方法的调研 44

异构平台及方法学 52

总结 53

参考文献 54

IP复用和基于模块设计的经济性问题 58

标准总线接口 59

基于声明验证的使用 59

IP配置器和生成器的使用 61

设计集成和验证的挑战 62

SPIRIT XML数据手册提案 63

总结 64

参考文献 65

绪论 66

对于系统设计流程中性能评估的介绍 66

MPSoC性能评估 73

总结 74

参考文献 76

绪论 79

动态电源管理 80

电池监控动态电源管理 86

软件级动态电源管理 90

总结 93

参考文献 93

绪论 96

使用ADL进行处理器建模 97

ADL驱动方法 105

总结 111

参考文献 112

摘要 115

绪论 115

同步模型和异步模型 125

同步模型 125

异步模型 128

嵌入式软件模型的研究 143

总结 149

参考文献 149

绪论 153

作为基准点测试平台的ISS 154

理想与实际处理器基准的比较 155

标准基准类型 156

以往的性能级别：MIPS、MOPS和MFLOPS 156

经典的处理器基准（早期） 157

现代处理器性能基准 164

可配置性处理器和处理器内核基准的未来 173

总结 175

参考文献 175

绪论 177

技术发展水平的背景及调研 178

并行HLS 186

SPARK PHLS框架 189

总结 190

参考文献 191

绪论 196

系统建模和设计方法学 197

系统级建模对象的反向标注 200

统计特征的自动提取 203

开放式系统级建模问题 209

参考文献 209

摘要 212

绪论 212

背景 213

结构模型 214

微体系结构功耗建模和估计 215

微体系结构功耗优化 22

总结 236

参考文献 23

绪论 242

平面布局 244

布线规划 249

针对折中的形式系统 256

参考文献 261

绪论 264

历史 265

设计语言 266

验证语言 278

总结 288

参考文献 289

绪论 291

面向事件与面向进程的仿真 292

逻辑仿真方法和算法 293

语言对逻辑仿真的影响 299

逻辑仿真方法 301

HVL对仿真的影响 304

总结 304

参考文献 305

绪论 306

相关工作 306

从系统到RTL设计流程的介绍 308

TLM——设计流程的补充层次 310

TLM建模应用编程接口 314

一个多媒体平台的实例 316

设计流程自动化 319

总结 321

感谢 321

参考文献 321

绪论 323

历史 324

技术发展水平 329

参考文献 333

绪论 334

模拟器架构介绍 336

设计建模 341

调试 345

使用模型 347

电路内模拟的意义 348

关于成功模拟的考虑 348

总结 351

参考文献 351

绪论 352

形式属性验证方法和技术 354

软件形式验证 358

总结 361

参考文献 361

绪论 366

微电子产品可测试性设计的目的 366

芯片级可测试性设计技术的介绍 369

总结 397

参考文献 397

绪论 400

组合ATPG 400

顺序ATPG 405

ATPG和SAT 411

ATPG的应用 417

高级ATPG 422

参考文献 424

绪论 429

模拟电路和模拟规范 429

可测试性分析 431

故障建模和测试规范 432

灾难性故障建模和仿真 433

参数化故障、最差情况容差分析和测试生成 433

可测试性设计简介 434

模拟测试总线标准 434

基于振荡的DFT／BIST 435

PLL、 VCO和抖动测试 437

抖动测试技术简介 438

总结 448

参考文献 448

专业术语中英文对照 451