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存储测试系统的设计理论及其应用
存储测试系统的设计理论及其应用

存储测试系统的设计理论及其应用PDF电子书下载

工业技术

  • 电子书积分:9 积分如何计算积分?
  • 作 者:张文栋著
  • 出 版 社:北京:高等教育出版社
  • 出版年份:2002
  • ISBN:7040104326
  • 页数:172 页
图书介绍:
《存储测试系统的设计理论及其应用》目录

第1章 综述 1

1.1 存储测试与存储测试系统 1

1.1.1 存储测试 1

1.1.2 存储测试系统 1

1.1.3 存储测试的特点及其应用领域 2

1.2 国内外相关研究情况及发展趋势 3

1.3 作者在存储测试领域的实践 4

1.4 本书在存储测试系统设计理论上的贡献 7

第2章 系统设计理论 9

2.1 概述 9

2.2 系统构成 10

2.3 宏观设计原理 12

2.3.1 设计哲学 12

2.3.2 宏观设计原则 12

2.4 设计程式 19

2.5 状态设计理论 20

2.5.1 基本概念 20

2.5.2 状态集合 20

2.5.3 状态网络设计 22

2.5.4 系统状态及其转换的数学描述 25

2.5.5 功耗时间因子 25

第3章 测试通道设计理论 27

3.1 引论 27

3.1.1 存储测试系统信息传输模型 27

3.1.2 存储测试系统与Shannon通信系统 30

3.1.3 被测信号的信息度量 30

3.1.4 信息传输有效性准则 33

3.2 模拟信号测试通道 34

3.2.1 信道容量 34

3.2.2 抗干扰容限 36

3.2.3 信息传输率与信号能量之间的关系 37

3.2.4 最佳模拟信号测试通道 38

3.2.5 测试通道失真与信息传输率 40

3.3 数字信号测试通道 43

3.3.1 数字信号传输通道 43

3.3.2 指令信息测试通道 48

3.3.3 数字量信息测试通道 48

第4章 采样策略与量化理论 50

4.1 采样策略 50

4.1.1 采样设计面临的问题 50

4.1.2 采样策略 51

4.1.3 采样误差 54

4.2 量化理论 57

4.2.1 概述 57

4.2.2 均匀量化品 58

4.2.3 非均匀量化品 61

4.3.2 ADC及多路转换器的选择原则 63

4.3 多路转换与信息编码 63

4.3.1 信号容量 63

4.3.3 信息编码 66

第5章 信息存储、压缩及容错设计 67

5.1 信息存储 67

5.1.1 信息存储子系统 67

5.1.2 存储控制 69

5.1.3 信息存储有效性准则 70

5.2 信息压缩存储 70

5.2.1 信息不失真压缩编码原理与冗余度 70

5.2.2 信息压缩存储算法 71

5.3 容错技术与冗余设计 78

5.3.1 容错设计 78

5.3.2 冗余设计 80

6.1.1 电子元器件的失效分析 83

6.1 失效机理分析与保证可靠性的措施 83

第6章 可靠性分析与可靠性预计 83

6.1.2 元器件的选用 85

6.1.3 组装工艺造成的失效分析 88

6.2 可靠性模型与可靠性预计 91

6.2.1 可靠性预计的数学模型 91

6.2.2 可靠性预计 92

6.2.3 某战略导弹数据记录设备可靠性设计 95

6.3 故障树分析法(FTA) 97

6.3.1 故障对分析法 97

6.3.2 某战略导弹数据记录设备的FTA 98

6.4 某战略导弹数据记录设备的FMECA 101

第7章 存储测试的关键技术 103

7.1 建模与补偿技术 103

7.1.1 系统建模 103

7.1.2 动态性能补偿 106

7.2.1 波型化技术 109

7.2 三微技术 109

7.2.2 微功耗技术 112

7.2.3 微噪声技术 112

7.3 专用集成电路TH9601 113

7.3.1 自适应采集算法 113

7.3.2 电路设计 113

7.3.3 专用集成电路 116

7.4 抗高过载技术 116

7.4.1 强化技术 117

7.4.2 缓冲技术 118

7.5 接口技术 118

7.5.1 与被测对象的接口技术 118

7.5.2 与计算机的接口设计 119

8.1.2 被测信号特点及测试要求 121

8.1.1 研制背景 121

8.1 研制背景及概况 121

第8章 智能导弹黑匣子 121

8.1.3 研制与应用情况 124

8.2 智能导弹黑匣子系统设计 126

8.2.1 设计原则 126

8.2.2 系统组成 126

8.2.3 电路模块方案设计 127

8.3 硬件电路设计 139

8.3.1 启动控制电路设计 139

8.3.2 各记录通道设计 140

8.3.3 各通道记录方式确定及可行性分析 143

8.4 软件功能设计 145

8.4.1 系统软件设计 146

8.4.2 自检功能 146

8.4.3 采集功能 147

8.4.4 读数功能实现 149

8.4.5 部分采集数据的后处理 154

8.5 激光窄脉冲信号的记录 155

8.5.1 激光窄脉冲结果特征分析 155

8.5.2 窄脉冲信号的采集及记录方式 155

8.5.3 窄脉冲信号测试电路设计 156

8.5.4 硬件电路设计 157

8.5.5 激光窄脉冲信号软件设计 161

8.6 低温应用技术 161

8.7 落点指示器 162

8.8 导弹信号模拟发生器 162

8.9 智能导弹黑匣子测试试验 165

8.9.1 电路调试 165

8.9.2 地面联试 166

8.9.3 导弹实弹飞行实验数据测试实验 166

参考文献 167

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