材料现代研究方法 研究生用PDF电子书下载

第1章 电子衍射原理及其分析方法 1

1.1 电子衍射原理 1

1.2 单晶电子衍射谱的标定 24

1.3 高阶劳厄区衍射谱的标定 40

1.4 透射电子显微镜样品制备技术 44

1.5 晶体取向关系测定 52

1.6 立方晶系孪晶电子衍射分析 61

1.7 层错的衍衬分析 69

1.8 界面的衍衬分析 78

1.9 位错的衍衬分析 89

习题 102

参考文献 103

第2章 材料表面分析技术 105

2.1 表面分析方法的物理基础 105

2.2 俄歇电子能谱仪 106

2.3 X射线光电子能谱仪 118

2.4 AES和XPS在材料科学研究中的应用 133

习题 140

参考文献 141

第3章 材料热分析方法 142

3.1 差热分析与差示扫描量热法 144

3.2 热重法 162

3.3 热机械法 168

3.4 影响热分析测量的实验因素 178

习题 182

参考文献 183

附录 184

附录1 常用晶体学公式 184

附录2 立方晶体晶面（或晶向）夹角表 190

附录3 电子衍射花样标定时用的数据表 204

附录4 立方晶系？表（？） 230

附录5 化学减薄液的成分 232

附录6 电解抛光液的成分 233

附录7 供制备萃取复型用的金属试样的电解抛光和腐蚀规范 234

附录8 Mg X射线元素谱线位置 236

附录9 Al X射线元素谱线位置 238

附录10 元素的电负性 240

附录11 元素有分析意义的俄歇线 241

附录12 电子结合能标识元素表（以MgKα为激发源） 242

附录13 电子结合能标识元素表（以AlKα为激发源） 244

附录14 顺磁态与逆磁态离子 246

附录15 原子灵敏度因子（ASF） 247

附录16 钢与合金中常见相的晶体学数据 249

附录17 不同c/a下，四方晶系边长比（r1/r2）和夹角（？）表（部分） 256

附录18 不同c/a下，六方晶系边长比（r1/r2）和夹角（？）表（部分） 257