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第一章 测试与容错的基本知识 1

§1-1 诊断与容错技术的产生及发展 1

§1-2 测试技术概述 2

一、测试的一般模型 2

二、故障与故障模型 3

三、故障的检测与诊断 6

四、测试费用分析 6

§1-3 容错技术概述 8

一、可靠性概念 8

二、基本容错技术 9

三、容错技术在高可靠系统设计中的应用 9

参考文献 10

习题 11

第二章 组合电路测试 13

§2-1 组合逻辑电路简介 13

§2-2 跟踪敏化通路的测试生成方法 13

一、单通路敏化法 14

二、D算法 15

三、九值算法 22

四、PODEM算法 24

五、FAN算法 30

六、临界通路法 35

§2-3 产生测试的代数方法 36

一、布尔差分法 36

二、主路径敏化法 40

一、波格(paoge)法 43

§2-4 跟踪信号通路的测试生成方法 43

二、全通路图法 45

§2-5 故障的精简 46

一、用故障的等价性进行故障归类 46

二、用故障之间的强于关系精简故障 47

三、校验点 47

§2-6 故障模拟 48

一、故障模拟的作用 48

二、模拟程序 49

三、并行故障模拟 52

四、同时故障模拟 52

五、替代故障模拟的方法 54

六、故障模拟用于随机测试生成 55

§2-7 故障字典 56

一、故障诊断集 56

二、故障字典 56

§2-8 测试响应的压缩 58

一、转移计数测试 59

二、特征分析技术 59

参考文献 62

习题 63

第三章 时序电路测试 65

§3-1 时序电路简介 65

§3-2 时序电路测试中的问题 66

一、初始化问题 66

三、冒险的影响 67

二、振荡问题 67

§3-3 同步时序电路的测试生成法 68

一、组合化模型 68

二、用D算法求测试之例 68

三、D算法的扩展 69

§3-4 异步时序电路的测试生成法 71

一、组合化模型 71

二、反馈线的识别 72

三、测试生成之例 74

§3-5 自动机的识别法 75

一、同步序列 75

二、区分序列 76

四、核实序列 77

三、引导序列 77

参考文献 78

习题 79

第四章 部件测试 80

§4-1 功能测试概述 80

§4-2 模块级的功能测试 81

一、基本功能块的测试 81

二、故障影响的传播与线确认 82

三、功能测试的代数方法 83

§4-3 重复逻辑阵列的测试 84

一、一维重复逻辑阵列的测试 85

二、树型结构的测试 89

二、RAM的功能测试方法 90

一、RAM的功能故障模型 90

§4-4 随机访问存储器(RAM)的功能测试 90

§4-5 微处理器的功能测试 92

一、抽象执行图的方法 93

二、系统图的方法 98

参考文献 103

习题 104

第五章 可测试性设计 106

§5-1 可测试性分析 106

一、可测试性分析的意义 106

二、可测试性测度的定义 106

三、可测试性测度的计算 107

四、一种更精确的可测试性测度 110

一、特定的方法 111

§5-2 易测试设计方法 111

二、结构设计的方法 112

§5-8 自测试 121

一、微处理器自激励测试 121

二、BILBO结构 121

三、内部验证测试 123

四、外加奇存器自测试 126

参考文献 126

习题 127

第六章 系统级诊断 129

§6-1 基本概念 129

一、计算机系统的自诊断 129

二、基本定义 131

§6-2 PMC模型的一步系统诊断 131

一、可诊断性的特征 132

二、诊断算法 134

三、最佳设计 136

§6-3 系统诊断的发展 137

一、诊断目标的发展 137

二、模型的发展 139

三、状态值的发展 141

四、诊断方法的发展 142

五、各种发展的综合模型 143

§6-4 系统诊断的应用 143

一、模拟电路的诊断 143

二、容错计算 146

三、社会诊断 146

参考文献 147

习题 149

第七章 差错控制码 151

§7-1 引言 151

一、差错控利码的概念 151

二、差错模型 152

三、译码原则 152

四、差错控制的策略 153

§7-2 代数基础 153

一、群 153

二、有限域 154

三、多项式 154

四、有限域的表示 156

一、基本定义 158

§7-3 奇偶校验码 158

五、向量空间 158

二、检单错奇偶校验码 162

三、海明码 162

四、SEC/DED码 164

五、乘积码 164

六、b邻接码 166

§7-4 循环码 167

一、循环码的结构 168

二、循环码的编码和译码 170

三、截短码 172

四、BCH码 172

§7-5 算术码 175

一、算术差错模型 175

二、算术码及其分类 176

§7-6 其它码 177

一、校验和码 177

二、m出自n码 178

参考文献 179

习题 179

第八章 容错技术 182

§8-1 故障检测技术 182

一、基本定义 182

二、完全自校验电路 184

三、完全自校验网络 185

四、部分自校验电路及网络 188

五、其它检测技术 189

一、自校正逻辑 190

§8-2 故障屏蔽技术 190

二、N倍冗余(NMR)系统 191

三、门级屏蔽逻辑 194

四、线路级的屏蔽逻辑 197

§8-3 混合冗余技术 198

一、可重组的二倍冗余 199

二、NMR后援技术 199

三、NMR自适应表决技术 200

四、NMR比较技术 201

五、恢复技术 203

参考文献 204

习题 205

一、定数参数 206

二、概率函数参数 206

§9-1 可靠性参数 206

第九章 系统可靠性评价技术 206

三、投影参数 207

四、比较参数 208

§9-2 组合模型 209

一、串/并联系统 209

二、NMR表决系统 209

三、NMR后援系统 210

§9-3 网络模型 211

一、方块图 211

二、系统的方块图 212

三、系统的可靠性 213

一、状态图 214

§9-4 马尔柯夫模型 214

二、状态方程 215

三、状态方程的求解 216

四、状态图的简化 217

五、典型系统的可靠性计算 218

参考文献 221

习题 221

第十章 容错系统设计 223

§10-1 设计方法论 223

一、确立系统的可靠性目标 223

二、设计故障处理机构 223

§10-2 SIFT计算机设计 225

一、可靠性目标 225

三、系统评价 225

二、系统设计 226

三、可靠性评价 228

§10-3 Intel 432系统设计 228

一、设计目标 228

二、系统设计 228

三、系统评价 230

§10-4 Stratus系统设计 230

一、设计目标 230

二、系统设计 230

小结 231

参考文献 232

习题 232