第一章 测试与容错的基本知识 1
§1-1 诊断与容错技术的产生及发展 1
§1-2 测试技术概述 2
一、测试的一般模型 2
二、故障与故障模型 3
三、故障的检测与诊断 6
四、测试费用分析 6
§1-3 容错技术概述 8
一、可靠性概念 8
二、基本容错技术 9
三、容错技术在高可靠系统设计中的应用 9
参考文献 10
习题 11
第二章 组合电路测试 13
§2-1 组合逻辑电路简介 13
§2-2 跟踪敏化通路的测试生成方法 13
一、单通路敏化法 14
二、D算法 15
三、九值算法 22
四、PODEM算法 24
五、FAN算法 30
六、临界通路法 35
§2-3 产生测试的代数方法 36
一、布尔差分法 36
二、主路径敏化法 40
一、波格(paoge)法 43
§2-4 跟踪信号通路的测试生成方法 43
二、全通路图法 45
§2-5 故障的精简 46
一、用故障的等价性进行故障归类 46
二、用故障之间的强于关系精简故障 47
三、校验点 47
§2-6 故障模拟 48
一、故障模拟的作用 48
二、模拟程序 49
三、并行故障模拟 52
四、同时故障模拟 52
五、替代故障模拟的方法 54
六、故障模拟用于随机测试生成 55
§2-7 故障字典 56
一、故障诊断集 56
二、故障字典 56
§2-8 测试响应的压缩 58
一、转移计数测试 59
二、特征分析技术 59
参考文献 62
习题 63
第三章 时序电路测试 65
§3-1 时序电路简介 65
§3-2 时序电路测试中的问题 66
一、初始化问题 66
三、冒险的影响 67
二、振荡问题 67
§3-3 同步时序电路的测试生成法 68
一、组合化模型 68
二、用D算法求测试之例 68
三、D算法的扩展 69
§3-4 异步时序电路的测试生成法 71
一、组合化模型 71
二、反馈线的识别 72
三、测试生成之例 74
§3-5 自动机的识别法 75
一、同步序列 75
二、区分序列 76
四、核实序列 77
三、引导序列 77
参考文献 78
习题 79
第四章 部件测试 80
§4-1 功能测试概述 80
§4-2 模块级的功能测试 81
一、基本功能块的测试 81
二、故障影响的传播与线确认 82
三、功能测试的代数方法 83
§4-3 重复逻辑阵列的测试 84
一、一维重复逻辑阵列的测试 85
二、树型结构的测试 89
二、RAM的功能测试方法 90
一、RAM的功能故障模型 90
§4-4 随机访问存储器(RAM)的功能测试 90
§4-5 微处理器的功能测试 92
一、抽象执行图的方法 93
二、系统图的方法 98
参考文献 103
习题 104
第五章 可测试性设计 106
§5-1 可测试性分析 106
一、可测试性分析的意义 106
二、可测试性测度的定义 106
三、可测试性测度的计算 107
四、一种更精确的可测试性测度 110
一、特定的方法 111
§5-2 易测试设计方法 111
二、结构设计的方法 112
§5-8 自测试 121
一、微处理器自激励测试 121
二、BILBO结构 121
三、内部验证测试 123
四、外加奇存器自测试 126
参考文献 126
习题 127
第六章 系统级诊断 129
§6-1 基本概念 129
一、计算机系统的自诊断 129
二、基本定义 131
§6-2 PMC模型的一步系统诊断 131
一、可诊断性的特征 132
二、诊断算法 134
三、最佳设计 136
§6-3 系统诊断的发展 137
一、诊断目标的发展 137
二、模型的发展 139
三、状态值的发展 141
四、诊断方法的发展 142
五、各种发展的综合模型 143
§6-4 系统诊断的应用 143
一、模拟电路的诊断 143
二、容错计算 146
三、社会诊断 146
参考文献 147
习题 149
第七章 差错控制码 151
§7-1 引言 151
一、差错控利码的概念 151
二、差错模型 152
三、译码原则 152
四、差错控制的策略 153
§7-2 代数基础 153
一、群 153
二、有限域 154
三、多项式 154
四、有限域的表示 156
一、基本定义 158
§7-3 奇偶校验码 158
五、向量空间 158
二、检单错奇偶校验码 162
三、海明码 162
四、SEC/DED码 164
五、乘积码 164
六、b邻接码 166
§7-4 循环码 167
一、循环码的结构 168
二、循环码的编码和译码 170
三、截短码 172
四、BCH码 172
§7-5 算术码 175
一、算术差错模型 175
二、算术码及其分类 176
§7-6 其它码 177
一、校验和码 177
二、m出自n码 178
参考文献 179
习题 179
第八章 容错技术 182
§8-1 故障检测技术 182
一、基本定义 182
二、完全自校验电路 184
三、完全自校验网络 185
四、部分自校验电路及网络 188
五、其它检测技术 189
一、自校正逻辑 190
§8-2 故障屏蔽技术 190
二、N倍冗余(NMR)系统 191
三、门级屏蔽逻辑 194
四、线路级的屏蔽逻辑 197
§8-3 混合冗余技术 198
一、可重组的二倍冗余 199
二、NMR后援技术 199
三、NMR自适应表决技术 200
四、NMR比较技术 201
五、恢复技术 203
参考文献 204
习题 205
一、定数参数 206
二、概率函数参数 206
§9-1 可靠性参数 206
第九章 系统可靠性评价技术 206
三、投影参数 207
四、比较参数 208
§9-2 组合模型 209
一、串/并联系统 209
二、NMR表决系统 209
三、NMR后援系统 210
§9-3 网络模型 211
一、方块图 211
二、系统的方块图 212
三、系统的可靠性 213
一、状态图 214
§9-4 马尔柯夫模型 214
二、状态方程 215
三、状态方程的求解 216
四、状态图的简化 217
五、典型系统的可靠性计算 218
参考文献 221
习题 221
第十章 容错系统设计 223
§10-1 设计方法论 223
一、确立系统的可靠性目标 223
二、设计故障处理机构 223
§10-2 SIFT计算机设计 225
一、可靠性目标 225
三、系统评价 225
二、系统设计 226
三、可靠性评价 228
§10-3 Intel 432系统设计 228
一、设计目标 228
二、系统设计 228
三、系统评价 230
§10-4 Stratus系统设计 230
一、设计目标 230
二、系统设计 230
小结 231
参考文献 232
习题 232