电子显微术基础PDF电子书下载

第一章 电子及其与固体的相互作用 1

第一节 电子的性质 1

前言页 1

第二节 电子散射 4

一、弹性散射 5

二、非弹性散射及能量损失 9

第三节 电子与固体作用产生的信息 11

一、背散射电子 13

三、吸收电子 14

二、二次电子 14

四、透射电子 15

五、特征X射线 15

六、俄歇电子 15

七、阴极荧光 17

八、电子束感生电流 17

第二章 透射电子显微镜 18

第一节 电子光学基础 18

一、光学显微镜的局限性 18

二、电场对电子的作用 静电透镜 20

三、磁场对电子的作用 磁透镜 22

第二节 电子透镜的光学特征 26

一、球面像差 26

二、畸变 27

三、色差 28

四、像散 28

五、电子显微镜的分辨率 30

六、场深和焦深 31

第三节 透射电镜的构造和光学系统 33

一、镜筒 35

二、真空系统 42

三、供电系统 45

第四节 试样制备 45

一、塑-碳二级复型法 46

二、溅射处理 49

三、真空镀膜机 49

四、萃取复型法 51

五、金属薄膜法 52

一、布拉格定律和倒易点阵 56

第一节 倒易点阵 56

第三章 电子衍射 56

二、倒易点阵几何分析 58

三、倒易点阵矢量分析 61

四、倒易点阵举例 66

五、晶带定律 68

六、二维倒易面画法 72

第二节 倒易点阵与晶体衍射强度 74

一、厄瓦尔德球与衍射线方向 74

二、一个原子和晶胞对电子的散射 76

三、一个小晶体的散射 79

四、倒易点的形状和大小 83

五、倒易杆与衍射束 85

第三节 电子衍射与电子衍射仪 85

第四节 电子显微镜中的电子衍射 88

一、电子显微镜中的电子衍射 88

二、有效相机常数 89

三、选区电子衍射 91

四、选区误差 94

一、多晶体电子衍射花样 97

第五节 多晶体和单晶体电子衍射花样 97

二、单晶体电子衍射花样 98

第六节 简单电子衍射花样的指数标定 102

一、立方系单晶体已知物质的衍射指数标定 103

二、入射束方向 111

三、非立方系单晶体衍射花样指数标定 112

四、未知晶体衍射斑点的标定 118

五、180°不唯一性 120

第七节 复杂电子衍射花样 121

一、高阶劳埃带 122

二、菊池线 123

三、二次电子衍射 128

四、孪晶衍射 132

五、双晶带电子衍射 134

第四章 透射电子显微镜成像原理 137

第一节 复型试样成像原理 137

一、成像原理 137

二、复型像解释 139

第二节 衍射衬度像 142

一、衍衬像原理--明场像 142

二、暗场像和中心暗场像 144

第三节 完整晶体中衍衬像运动学理论 146

一、引言 146

二、完整晶体衍射强度公式 149

三、振幅周相图 152

四、等厚条纹 154

五、等倾条纹 157

第四节 不完整晶体衍衬像运动理论 160

一、不完整晶体衍射强度公式 160

二、堆垛层错衍衬像 162

三、位错衍衬像 166

第五节 衍衬像动力学理论概要 177

一、完整晶体动力学理论 178

二、不完整晶体动力学理论 184

第六节 多相合金的衍射和衬度效应 189

一、第二相的衍射效应 189

二、第二相的衬度效应 195

第一节 扫描电子显微镜的工作原理和结构 210

一、扫描电子显微镜的特点 210

第五章 扫描电子显微镜 210

二、扫描电子显微镜的工作原理 211

三、扫描电子显微镜的结构 214

第二节 各种成像类型及其特点 222

一、二次电子像 222

二、背散射电子像 226

三、吸收电子像 229

四、透射电子像 230

五、电子通道花样 231

第四节 扫描电镜在金属材料研究中的应用 234

第三节 扫描电镜的试样制备 234

一、失效分析中的应用 235

二、观察小试样 235

三、动态观察 236

第六章 电子探针X射线显微分析 237

第一节 仪器结构及工作原理 237

一、概述 237

二、电子探针的结构和工作原理 238

第二节 X射线谱仪 240

一、波长色散谱仪 240

二、能量色散谱仪 246

三、波谱仪与能谱仪的比较 250

第三节 定量分析 250

一、定量分析的修正 250

二、定量分析应注意的几个问题 252

第四节 分析方法及应用举例 253

一、分析方法 253

二、应用举例 255

第七章 表面分析方法 257

第一节 离子探针显微分析 257

第二节 俄歇电子能谱分析 260

第三节 低能电子衍射 263

第四节 X射线光电子能谱分析 265

第八章 分析电子显微术简介 269

第一节 扫描透射电子显微术 269

一、扫描透射电子显微像 269

二、扫描透射显微术的特点 271

三、α和β角对STEM像的影响 271

第二节 薄膜晶体X射线显微分析原理 273

一、引言 273

二、薄膜厚度判据 274

三、电子束展宽 空间分辨率 276

四、非试样散射 277

五、试验条件选择 279

六、应用说明--非标准分析法 281

第三节 能量损失谱(EELS) 283

一、引言 283

二、EELS装置原理 290

三、能量损失谱 291

二、聚集探针微衍射 296

一、引言 296

第四节 微衍射 296

附录 298

一、点阵几何 298

二、立方晶系晶面(或晶向)间的夹角 300

三、立方晶系和c/α=1.834六方晶体标准衍射图 303

四、消光距离 314

五、电镜试样减薄技术 316

六、标定电子衍射花样用表 323

七、各种元素特征辐射能量 348