简明地质束分析技术 扫描电镜和X射线粉末衍射PDF电子书下载

1　扫描电镜 1

1.1　概述 2

1.2　扫描电镜基本原理 6

1.2.1 一次电子束在固体靶表面附近的散射作用 7

1.2.2　二次电子与二次电子像 8

1.2.3　背散射电子与背散射电子像 10

1.2.4　次生特征X射线与能谱 12

1.3　扫描电镜仪器结构 19

1.3.1 电子枪 19

1.3.2　样品台 21

1.3.3　真空系统 23

1.3.4　二次电子检测器 24

1.3.5　背散射电子检测器 26

1.3.6　X射线能量检测器 27

1.4　扫描电镜在地学中的运用 31

1.4.1　运用范畴 31

1.4.2　样品准备 32

1.4.3　运用示例 34

2　X射线粉末衍射技术 41

2.1　概述 41

2.1.1　X射线发展简史 41

2.1.2　X射线粉末衍射技术特点及主要应用领域 42

2.2　X射线粉末衍射技术分析法的基本原理 43

2.2.1　X射线的性质 43

2.2.2　X射线的获得 44

2.2.3　X射线光谱 46

2.2.4　X射线衍射的几何条件 50

2.2.5　X射线的衍射线强度、检测方法及防护 54

2.3　多晶X射线的研究方法 62

2.3.1　粉末或多晶衍射原理 63

2.3.2　德拜法 64

2.3.3　衍射仪法 65

2.4　X射线粉末衍射方法的应用 69

2.4.1　概述 69

2.4.2　物相分析 70

2.5　全岩物相分析应用举例 83

附录 95

附录1　常见矿物的扫描电镜X射线能谱图 95

附录2　元素的物理性质 101

附录3　X射线衍射分析用X射线管的特征波长及有关数据 105

附录4　一些纯物质的衍射数据 106

附录5　典型矿物的X射线粉末衍射数据 108

参考文献 115