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第1章　绪论 1

第2章　建模 7

2.1　基本概念 7

2.2　逻辑级的功能建模 8

2.2.1　真值表和原始立方 8

2.2.2　状态表和流程表 9

2.2.3　二叉判决图 12

2.2.4　作为功能模型的程序 13

2.3　寄存器级的功能建模 14

2.3.1　基本的寄存器传输语言结构 14

2.3.2　寄存器传输语言中的时序模型 16

2.3.3　内部寄存器传输语言模型 17

2.4　结构模型 17

2.4.1　外部表示 17

2.4.2　结构属性 19

2.4.3　内部表示 21

2.4.4　线逻辑和双向性 22

2.5　建模的层次 23

参考文献 25

习题 26

第3章　逻辑模拟 27

3.1　应用 27

3.2　基于模拟设计验证中的问题 28

3.3　模拟的类型 29

3.4　未知的逻辑值 30

3.5　编译后模拟 32

3.6　事件驱动模拟 34

3.7　时延模型 35

3.7.1　门级时延模型 35

3.7.2　功能元件的时延模型 36

3.7.4　时延模型的其他方面 37

3.7.3　RTL中时延模型 37

3.8　元件求值 38

3.9　冒险检测 40

3.10　门级事件驱动模拟 43

3.10.1　跳变独立的额定传输时延 43

3.10.2　其他逻辑值 47

3.10.3　其他时延模型 49

3.10.4　振荡控制 52

3.11　模拟引擎 53

参考文献 55

习题 58

第4章　故障模型 61

4.1　逻辑故障模型 61

4.2　故障检测和冗余 63

4.2.1　组合电路 63

4.2.2　时序电路 67

4.3　故障等价和故障定位 69

4.3.1　组合电路 69

4.3.2　时序电路 71

4.4　故障支配 71

4.4.1　组合电路 71

4.4.2　时序电路 72

4.5　单固定型故障模型 72

4.6　多固定型故障模型 77

4.7　固定的RTL变量 80

4.8　故障变量 80

参考文献 81

习题 83

第5章　故障模拟 86

5.1　应用 86

5.2.2　公共概念和术语 88

5.2.1　串行故障模拟 88

5.2　通用故障模拟技术 88

5.2.3　并行故障模拟 89

5.2.4　演绎故障模拟 91

5.2.5　并发故障模拟 97

5.2.6　比较 102

5.3　组合电路的故障模拟 103

5.3.1　并行向量的单故障传播 103

5.3.2　临界路径跟踪 104

5.4　故障采样 111

5.5　统计故障分析 113

5.6　本章小结 115

参考文献 116

习题 120

第6章　单固定型故障测试 122

6.1　基本问题 122

6.2.1　面向故障的自动测试生成 123

6.2　组合电路中的单固定型故障的自动测试生成 123

6.2.2　故障独立ATG 147

6.2.3　随机测试生成 152

6.2.4　组合的确定性／随机TG 158

6.2.5　ATG系统 162

6.2.6　其他TG方法 165

6.3　时序电路SSF的ATG 167

6.3.1　使用迭代阵列模型的TG 167

6.3.2　基于模拟的TG 177

6.3.3　使用RTL模型的TG 177

6.3.4　随机测试生成 182

6.4　本章小结 182

参考文献 184

习题 190

7.1　桥接故障模型 195

第7章　桥接故障测试 195

7.2　无反馈桥接故障的检测 197

7.3　反馈桥接故障的检测 198

7.4　桥接故障模拟 201

7.5　桥接故障的测试生成 203

7.6　本章小结 204

参考文献 204

习题 204

第8章　功能测试 206

8.1　基本问题 206

8.2　不使用故障模型的功能测试 206

8.2.1　启发式方法 206

8.2.2　使用二叉判决图的功能测试 209

8.3　穷举和伪穷举测试 211

8.3.1　组合电路 211

8.3.2　时序电路 213

8.3.3　迭代逻辑阵列 214

8.4　针对具体故障模型的功能测试 218

8.4.1　功能故障模型 218

8.4.2　微处理器故障模型 218

8.4.3　测试生成过程 222

8.4.4　实例研究 226

8.5　本章小结 226

参考文献 227

习题 229

第9章　可测试性设计 231

9.1　可测试性 231

9.1.1　折衷 232

9.1.2　可控制性和可观测性 233

9.2　特别的可测试性设计技术 234

9.2.1　测试点 234

9.2.2　初始化 236

9.2.3　单稳多频振荡器 238

9.2.4　振荡器和时钟 239

9.2.5　分割计数器和移位寄存器 239

9.2.6　分割大的组合电路 240

9.2.7　逻辑冗余 241

9.2.8　全局反馈通路 241

9.3　通过扫描寄存器提高可控制性和可观测性 242

9.4　通用的基于扫描的设计 247

9.4.1　全串行集成扫描 247

9.4.2　隔离的串行扫描 248

9.4.3　非串行扫描 248

9.5　扫描设计的存储单元 249

9.6　典型的扫描设计 253

9.7　扫描设计成本 258

9.8.2　系统级扫描通路 259

9.8　板级和系统级DFT方法 259

9.8.1　系统级总线 259

9.9　高级扫描概念 260

9.9.1　多测试阶段 260

9.9.2　使用I通路的部分扫描 261

9.9.3　结构化部分扫描设计BALLAST 264

9.10　边界扫描标准 268

9.10.1　背景 268

9.10.2　边界扫描单元 270

9.10.3　板级测试模式和芯片测试模式 271

9.10.4　测试总线 274

9.10.5　测试总线电路 274

参考文献 278

习题 282

10.1　压缩技术的基本方面 287

第10章　测试压缩技术 287

10.2　对1计数压缩 288

10.3　跳变计数压缩 290

10.4　奇偶校验压缩 292

10.5　症候测试 293

10.6　特征分析 294

10.6.1　线性反馈移位寄存器的理论和操作 294

10.6.2　用LFSR实现的特征分析器 301

10.6.3　多输入特征寄存器 304

10.7　本章小结 306

参考文献 306

习题 310

第11章　内建自测试 313

11.1　BIST概念介绍 313

11.1.2　测试分级 314

11.1.1　硬核 314

11.2　BIST测试向量生成 315

11.2.1　穷举测试 315

11.2.2　伪随机测试 315

11.2.3　伪穷举测试 316

11.3　一般离线BIST体系结构 329

11.4　一些特定的BIST体系结构 331

11.4.1 中央独立式板级BIST体系结构 331

11.4.2　内建评估和自测试 332

11.4.3　随机测试插槽 332

11.4.4　LSSD片上自测试 333

11.4.5　使用MISR和并行SRSG的自测试 335

11.4.6　并发BIST体系结构 336

11.4.7　带有边界扫描的中央式、内嵌的BIST体系结构 337

11.4.8　随机测试数据 337

11.4.9　同时自测试 338

11.4.11　循环自测试通路 340

11.4.10　循环分析测试系统 340

11.4.12　内建逻辑模块观测 344

11.4.13　小结 351

11.5　高级BIST概念 352

11.5.1　测试调度 353

11.5.2　对BILBO寄存器的控制 354

11.5.3　部分－侵入BIST 356

11.6　板级自测试设计 357

参考文献 358

习题 365

第12章　逻辑级诊断 368

12.1　基本概念 368

12.2　故障字典 369

12.3　引导探针测试 373

12.4　精简UUT的诊断方法 377

12.5　组合电路的故障诊断 378

12.6　诊断专家系统 379

12.7　效果－原因分析 381

12.8　基于结构和行为的诊断推理 383

参考文献 385

习题 387

第13章　自校验设计 388

13.1　基本理论 388

13.2　检错码和纠错码的应用 389

13.3　多个位错误 393

13.4　校验电路和自校验 393

13.5　自校验的校验器 394

13.6　奇偶校验函数 395

13.7　完全自校验m/n码校验器 396

13.8　完全自校验的等价校验器 398

13.9　自校验的伯格码校验器 398

13.10　自校验组合电路的通用理论 399

13.11　自校验的时序电路 400

参考文献 401

习题 402

第14章　PLA测试 403

14.1　引言 403

14.2　PLA测试问题 404

14.2.1　故障模型 405

14.2.2　传统测试生成方法中的问题 406

14.3　PLA的测试生成算法 406

14.3.1　确定性测试生成 407

14.3.2　半随机测试生成 407

14.4　可测试PLA设计 408

14.4.1　具有特殊编码的并发可测试PLA 408

14.4.2　奇偶可测试PLA 411

14.4.3　特征可测试PLA 414

14.4.4　PLA的划分和测试 417

14.4.5　完全可测试PLA设计 420

14.5　PLA测试方法的评价 421

14.5.1　TDM度量准则 421

14.5.2　PLA测试技术的评价 423

参考文献 428

习题 431

第15章　系统级诊断 433

15.1　系统级诊断的简单模型 433

15.2　PMC模型的一般化 437

15.2.1　系统诊断图的一般化 437

15.2.2　可能测试结果的一般化 438

15.2.3　诊断度量的一般化 438

参考文献 440

习题 441

索引 443