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第一篇 X射线光谱分析基础 3

第一章 X射线物理学基础 3

1.1 X射线光谱分析的发展简史 3

1.2 X射线 4

1.3 X射线的产生 5

1.4 X射线谱 6

1.5 X射线与物质的相互作用 9

1.6 X射线荧光强度的理论计算 16

参考文献 19

第二章 X射线光谱分析概述 21

2.1术语 21

2.2 X射线光谱分析的基本原理与特点 22

2.3 X射线光谱仪的分类 23

2.4 X射线光谱分析的现状与发展 25

参考文献 28

第三章 特征X射线的激发 30

3.1概述 30

3.2 X射线管激发 30

3.3放射源激发 32

3.4加速粒子激发 33

3.5不同激发方式的性能比较 34

参考文献 36

第二篇 X射线荧光光谱分析 39

第四章 波长色散X射线荧光光谱分析 39

4.1概述 39

4.2 X射线的波长色散（晶体分光） 40

4.3探测 52

4.4测量 58

4.5谱仪性能测试 63

4.6波长色散X射线荧光光谱仪现状及其应用 67

参考文献 71

第五章 能量色散X射线荧光光谱分析 73

5.1概述 73

5.2谱仪基本结构 73

5.3滤波选择 75

5.4二次激发 76

5.5探测器 77

5.6能谱采集 82

5.7 WDXRF谱仪与EDXRF谱仪的区别 86

5.8谱仪性能测试 89

5.9能量色散X射线荧光光谱仪的现状及其应用 90

参考文献 94

第六章 样品制备 96

6.1概述 96

6.2固体块样的制备 98

6.3粉末样的制备 100

6.4熔融样的制备 102

6.5溶液样的制备 105

6.6特殊样品的制备 107

参考文献 114

第七章 定性分析和半定量分析 116

7.1概述 116

7.2定性分析 117

7.3半定量分析 119

参考文献 122

第八章 定量分析 123

8.1概述 123

8.2外标法 124

8.3内标法 127

8.4增量法 130

8.5数学校正法 131

8.6波长色散谱仪定量分析条件的设定 134

8.7能量色散谱仪定量分析条件的设定 136

8.8 X射线荧光光谱定量分析中的不确定度 137

参考文献 145

第三篇 其它X射线光谱分析 149

第九章 全反射X射线荧光光谱分析 149

9.1概述 149

9.2 TXRF基本原理和装置 150

9.3全反射X射线荧光光谱仪 152

9.4全反射X射线荧光分析的基本特点 154

9.5全反射X射线荧光光谱分析的应用与展望 157

参考文献 159

第十章 电子探针显微分析 161

10.1概述 161

10.2仪器构造与工作原理 162

10.3电子探针显微分析仪的分析方法及应用 169

10.4电子探针显微分析仪性能测试 176

参考文献 178

第十一章 质子激发X射线光谱分析 180

11.1概述 180

11.2质子激发X射线光谱分析装置 180

11.3质子静电加速器 182

11.4 PIXE真空分析靶室 182

11.5 PIXE非真空分析装置 184

11.6 PIXE分析样品制备 185

参考文献 188

附录 190

附录1 K壳层临界及激发能和K系特征X射线能量 190

附录2 K壳层临界吸收限和K系特征X射线波长 195

附录3 K系特征X射线相对强度和K壳层荧光产额 200

附录4 L壳层临界激发能和L系特征X射线能量 205

附录5 L壳层临界吸收限和L系特征X射线波长 210

附录6 L系特征X射线相对强度和壳层平均荧光产额 215

附录7 M系特征X射线波长 219

附录8 M系特征X射线能量 221