电子设备系统可靠性设计与试验技术指南PDF电子书下载

第1篇 可靠性工程与设备的可靠性指标第1章 可靠性工程介绍 2

1.1 什么是可靠性工程 2

1.2 可靠性工程包括的内容 2

1.3 什么是电子设备的可靠性 3

1.4 固有可靠性和使用可靠性 5

1.5 可靠性增长 6

1.6 可靠性设计的主要任务和基本原则 7

第2章 可靠性的概率分布函数与可靠性的数量特征（指标） 8

2.1 随机变量、分布函数、分布的参数 8

2.2 可靠性常用的概率分布函数 9

2.3 排列和组合 16

2.4 规定产品可靠性数量特征（指标）的意义 17

2.5 可靠性的主要数量特征（指标）及计算方法 18

第2篇 设备系统的总体可靠性设计第3章 可靠性指标的论证与确定 36

3.1 可靠性指标的论证 36

3.2 确定设备系统可靠性指标的原则与方法 38

第4章 可靠性结构模型与数学模型 39

4.1 建立可靠性模型的条件与原则 39

4.2 可靠性结构模型的建立 41

4.3 可靠性结构模型与数学模型 45

第5章 可靠性预计 59

5.1 可靠性预计的作用 59

5.2 可靠性预计的方法和程序 60

5.3 详细的元器件应力分析预计法举例 69

第6章 可靠性指标的分配 73

6.1 可靠性指标分配的作用 73

6.2 可靠性分配的基本原则和注意事项 74

6.3 可靠性分配方法和程序 75

第7章 系统的维修性和安全性设计 88

7.1 系统的维修性设计 88

7.2 安全性设计的要求和措施 97

第8章 可靠性设计与人的关系 101

8.1 引言 101

8.2 设计与生产 102

8.3 人的因素理论与人机工程 102

8.4 人的因素与可靠性之间的关系 104

8.5 人-机分配与可靠性 104

8.6 人的差错率的研究与预测方法 106

8.7 人-机工程设计的一般要求 107

第3篇 保证设备系统可靠性的设计技术第9章 元器件工程与降额设计 112

9.1 设备系统实施元器件工程的重要性与主要工作内容 112

9.2 降额设计 114

9.3 降额设计的原则 125

9.4 元器件选用准则及在工程中的应用 126

第10章 冗余设计 134

10.1 概述 134

10.2 冗余设计技术的分类及功能 135

10.3 冗余设计技术介绍 137

10.4 冗余系统的选择 142

10.5 使用冗余系统应考虑的因素 144

第11章 环境影响及耐环境设计 147

11.1 环境条件对设备可靠性的影响 147

11.2 热设计技术 151

11.3 防冲击和振动设计 161

第12章 电磁兼容设计 168

12.1 电磁兼容概述 168

12.2 电磁干扰源及干扰引入方式 169

12.3 电磁兼容设计的一般要求 176

12.4 抑制电磁干扰的一些方法 177

12.5 电磁兼容性设计技术 177

第13章 其他可靠性设计技术 178

13.1 简化电路设计及减少元器件品种和数量 178

13.2 集成化设计 178

13.3 采用成熟的新技术 179

第14章 可靠性分析技术 181

14.1 失效模式、影响及危害度分析 181

14.2 失效树分析法 191

第15章 可靠性设计评审 199

15.1 设计评审的作用和目的 199

15.2 设计评审的准备及评审的内容范围 199

15.3 设计评审的组织及成员职责 204

15.4 设计评审的程序与结论 204

第4篇 设备系统的可靠性试验第16章 可靠性试验的基础知识 210

16.1 影响产品可靠性的因素 210

16.2 可靠性试验的定义与原理 211

16.3 可靠性试验的种类及其目的 213

16.4 正确评定设备的可靠性 215

第17章 统计试验方案 218

17.1 试验参数的定义 218

17.2 怎样正确选择试验参数 219

17.3 试验方案的种类及选择试验方案的原则 221

17.4 标准型试验方案及其判决标准 223

17.5 试验样品数量和试验时间的确定 234

17.6 恒定失效率有效性检验 236

17.7 用试验观察数据估计设备的平均无故障工作时间（MTBF） 239

第18章 可靠性试验的一般要求 248

18.1 试验类型的选择 248

18.2 可靠性试验的设计 248

18.3 可靠性鉴定试验前应具备的条件 249

18.4 试验样品的要求 252

18.5 试验设备、仪器仪表的要求 253

18.6 试验实施的要求 254

18.7 受试设备的检测要求 254

18.8 受试设备接收与否的判决 255

18.9 纠正措施 256

18.10 预防性维护 256

18.11 受试设备的复原 257

18.12 对可靠性试验的检查与监督 258

第19章 试验条件选择及试验周期设计 259

19.1 设备的分类 259

19.2 试验条件的分类 260

19.3 试验条件的选择 266

19.4 对基本环境试验方法的要求 272

19.5 试验中的工作条件 272

19.6 试验周期（循环）与试验程序的设计 274

19.7 推荐的试验周期 275

19.8 编制可靠性试验程序的实例与说明 277

第20章 失效的分类、分析与处理 289

20.1 失效的定义与分类 289

20.2 失效时间的判定 291

20.3 失效的处理方法 292

20.4 失效的分析方法与要求 292

20.5 失效的检测方法与要求 293

20.6 失效的最后分类与相关失效数的确定 294

20.7 制定纠正措施方案 298

第21章 试验的记录与报告 299

21.1 可靠性试验报告 299

21.2 可靠性试验测试记录 300

21.3 可靠性试验失效综合报告表 301

21.4 可靠性试验分析与修理报告表 302

第22章 现场可靠性试验 304

22.1 试验的目的 304

22.2 试验的一般要求 305

22.3 试验条件 305

22.4 受试设备性能和相关试验时间 306

22.5 数据收集 306

22.6 正确评定与比较现场可靠性试验与试验室模拟可靠性试验数据 306

第23章 可靠性试验技术与管理 308

23.1 可靠性试验技术 308

23.2 关于大中型电子设备的可靠性评定 309

23.3 可靠性试验的管理 310

第24章 可靠性增长试验方法 313

24.1 概述 313

24.2 术语 314

24.3 一般要求 314

24.4 详细要求 317

24.5 杜安可靠性增长模型的说明和MTBF移动平均值法的探讨 321

24.6 AMSAA模型增长分析 326

参考文献 333