智能仪器设计-微处理器在仪器仪表中的应用 下PDF电子书下载

第一章 智能仪器设计的基本问题 1

1.1 智能仪器 1

1.2智能仪器设计的计划 1

目录 1

1·3早期硬件设计 5

1.4早期软件设计 8

1·5后期设计 12

1·6设计中的若干问题 16

2·1 概述 18

2·1·1输入输出控制与连接方式 18

第二章 输入输出 18

2·1·2输入输出定时 21

2·1·3先入先出缓冲器（FIFO） 23

2·2 发光二极管显示器 25

2·2·1 7段数字显示器 26

2·2·2显示电路及编程实例 29

2·2·3点阵字符号显示器 34

23 CRT显示器 35

2·3·1字符发生器 36

2·3·2 CRT显示控制逻辑 38

2·3·3 CRTC编程实例 41

2·4 打印输出 43

2·4·1接口硬件 45

2·4·2打印机控制程序 46

2·5 键盘 52

2·5·1键盘硬件 53

2·5·2键盘扫描和译码 54

2·5·3键盘分析程序设计 57

2·6 自检与告警显示 68

2·6·1硬件自检 69

2·6·2自检算法 72

第三章 D/A、A/D转换器与微处理器的接口及其编程 75

3·1 D/A转换器 75

3·1·1 D/A转换器的输出 76

3·1·2数据显示 83

3·1·3 10位D/A转换器与up的接口 88

3·1·4 10位D/A转换器接口的实验 93

3·1·5集成电路D/A转换器及其接口 96

3·2 A/D转换器 104

3·2·1线性斜波转换器 104

3·2·2逐次逼近转换器 107

3·2·3 A/D转换器与微计算机的接口 110

3·2·4集成电路A/D转换器及其接口 114

3·3 双斜A/D转换器及数字面板表 118

3·3·1双斜A/D转换器 118

3·3·2数字面板表 120

3·3·3数字面板表的接口 121

3·3·4数字面板的软件 129

3·4 数据采集 136

3 · 4·1数据采集所使用的A/D转换器 136

3·4·2数据采集的定时 138

3·4·3数据的使用 147

3·4·4数据采集模块 155

第四章 测量算法 161

4·1 测量算法 161

（1）关于算法的基本概念 161

（2）主序算法和内务算法 163

（3）测量中的定时算法 165

4·2 2进制整数的算术运算 167

4·2·1 2进制无符号与有符号整数 167

4·2·2整数的加法运算 170

4·2·3整数的减法运算 172

4·2·4整数的乘法运算 177

4·2·5整数的除法运算 187

4·3 2进制定点数的算术运算 195

4·3·1 2进制数的定点表示法 195

4·3·2定点数的加法与减法运算 196

4·3·3 定点数的乘法运算 198

4·3·4 定点数的除法运算 200

4·3·5 几种函数的定点运算 204

4·4 2进制浮点数的算术运算 212

4·4·1 2进制数的浮点表示法 212

4·4·2浮点数的乘法运算 216

4·4·3浮点数的除法运算 217

4·4·4浮点数的加法与减法运算 221

4·5·1 2进制表示的10进制数 226

4·5·2 10进制数转换为2进制数 227

4·5 2-10进制数的转换与运算 236

4·5·3 2进制数转换为10进制数 237

4·5·4 2-10进制数的算术运算 248

4·6·1无序清单的检索 251

4·6 清单与表格 251

4·6·2无序清单的排序 254

4·6·3有序清单的检索 257

4·6·4表格及其检索 258

4·7 精确度的提高 262

（1）随机误差的处理 262

（2）利用误差模型修正系统误差 265

（4） 通过曲线拟合求得校准方程 273

（5）温度补偿晶振举例 275

（6） 内插所致的误差 282

（1） 四相三斜型积分式A/D变换 285

4·8 仪器硬件性能的提高 285

（2）多斜Ⅰ型A/D变换 287

（3） 多斜Ⅱ型A/D变换 289

（4） 余数再循环式A/D变换器 291

（5） 提高测时分辨力的双游标法 293

（6）频率计数器中的自动变频法 294

第五章 通用接口设计 298

引言 298

5·1 GPIB接口要略 298

5·1·1母线结构 298

5·1·2功能上的规定 300

5·1·3消息编码及传递 304

5·2 GP IB的LSI接口片简介 309

5·2· 1 8291GPIB讲／听接口片 309

5·2·2 8292GPIB控接口片 311

5·2·3 8293GPIB收发器 311

5·2·4 8291/92/93接口片组 313

5·3 应用举例 313

5·3·18292的命令 314

5·3·2软件概要—命令 320

5·3·3应用软件 328

5·3·4 中断和DMA考虑 331

5·4 GPIB软件接口 331

5·4·1硬件说明 332

5·4·2简化状态图 332

5·4·3软接口功能子程序（系统命令） 333

5·4·4应用软件 335

第六章 软件设计 337

6·1 结构化设计 337

6·2 由顶向下设计 340

6·3 模块化编程 341

6·4 结构化编码 344

6·5 非结构化程序变换为结构化 347

6·6 伪编码 350

6·7 文件的编制与文体 351

9·8 结构化分析 354

6·9 结构化设计举例 359

6·10 编码 361

6·11 操作系统 364

（2）逻辑分析仪 369

（1）逻辑探头 369

（3） 字认别器 369

（4）显示格式编排器 369

7·1 微处理器测试设备 369

第七章 开发和调试设备的利用 369

7·2 微处理器开发设备 370

（3）利用校准曲线用查表法修正 370

（5）数字锁存器 370

7·3 逻辑分析仪 371

（1）数据采集 371

（2）缓冲存贮 372

（3）冻结存贮的触发 372

（4）定时关系显示 373

（5） 复位 374

7·4 逻辑分析仪能力的增强 374

（1）点图映射显示 374

（2）状态表显示 375

（3）参考状态表 376

（4）自对数据比对 377

（5）缓冲存贮的有效扩展 377

（6） 对GPIB的监察 378

7·5 A型开发系统 379

（1） 与外围设备交换信息 380

（2）与外部计算机交换程序 380

（3）执行样机程序 380

（4）修改程序 380

（5） 编制、存贮、执行测试短程序 380

（6）电路内部分仿真 380

7·6 调试仪 381

（9）符号化调试 381

（8）反汇编 381

（7）电路内总体仿真 381

（1）调试仪的结构特点 382

（2）调试仪的电气特点 383

（3）缓冲存贮内容的显示 384

7·7 B型开发系统 385

（1） B型MDE的结构 385

（2）B型MDE上的软件开发 385

（3） B型和A型MDE的混合使用 386

7·8 仿真 386

（1）仿真时的调试 387

7·9 正式的调试 387

（2）电路内部分仿真 388

（3）电路内总体仿真 389

（4）异步调试 389

（5）定时循环的检验 390

（6）中断的检验 390

7·10 多重微处理器系统的调试 390

附 录 392

附录 A 392

B 445

C 445

D 459

E 472