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半导体核粒子探测器和电路
半导体核粒子探测器和电路

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工业技术

  • 电子书积分:14 积分如何计算积分?
  • 作 者:G.迪恩利著;齐慧译
  • 出 版 社:北京:原子能出版社
  • 出版年份:1981
  • ISBN:15175·182
  • 页数:429 页
图书介绍:
《半导体核粒子探测器和电路》目录

目录 1

第一章 探测器基本性能 1

引言 1

探测器性能的基本限制 2

半导体探测器电离能的精确测定 14

用薄窗硅面垒型探测器测量核碰撞引起的脉冲高度亏损 29

半导体探测器中的等离子体效应 38

热载流子在硅中漂移速度的实验结果和与之有关的各向异性 44

效应 44

半导体探测器中的俘获现象 51

宽温度范围的Ge(Li)探测器的性能 59

半导体探测器的表面噪声 83

采用层结构于高电压下工作的锂漂移硅探测器 91

第二章 锗 95

引言 95

关于高纯锗的展望 96

锂在锗中的漂移能力 101

探测器输出脉冲高度的比较 106

多元探测器系统 111

大体积高分辨率的Ge(Li)谱仪 117

Ge(Li)探测器效率与能量的关系 120

Ge(Li)探测器的γ射线谱峰宽度和能量的关系 124

第三章 电极接触和特殊结构 127

引言 127

面垒探测器的窗 127

雪崩倍增二极管 129

第四章 辐射损伤 134

引言 134

锗的γ补偿 135

核反应实验中锂漂移硅探测器辐射损伤的观察 137

第五章 脉冲放大器 139

引言 139

作信号发生器用的半导体探测器 139

前置放大器 143

场效应晶体管噪声与温度和频率的关系 151

金属-氧化物-半导体型和结型场效应管噪声源 159

用于Ge(Li)探测器的脉冲放大器的特性和要求 164

第六章 高计数率高分辨率系统 174

引言 174

在高低计数率下均能提供高分辨率的、配半导体探测器使用 175

的多用前置放大器 175

高计数率高分辨率Ge(Li)谱仪 179

带有各种计数率校正的高分辨率谱仪的重要设计特点 192

用于核能谱测量的高分辨率高计数率放大器系统的设计与性能 201

关于电流“组合块”的进展报告 218

核粒子谱仪的直接耦合脉冲放大和分析系统 227

第七章 滤波器 237

引言 237

高分辨率脉冲幅度谱仪的信号处理方法 238

有噪声和重叠涨落时的最佳信号噪声比 249

用于脉冲幅度分析器和短时间测量的最佳滤波器 260

简单的非线性滤波器 262

用转换时间常数和选通积分器降低核粒子谱仪的噪声 264

用于高计数率脉冲幅度谱仪的时变滤波器 271

用于核脉冲放大器的选通滤波器的信号-噪声比 284

应用时间范畴分析和相关技术的脉冲放大器的噪声理论 304

取样法快涨落信号的统计分析 316

脉冲幅度测量中基线恢复对信-噪比的影响 330

第八章 高分辨率γ射线探测系统 346

引言 346

高分辨率Ge(Li)谱仪系统运用和校准中的问题 347

Ge(Li)探测器在γ射线能谱学中的应用:用途和基本考虑 361

检验Ge(Li)探测器用的3.85兆电子伏γ射线源 381

Ge(Li)双晶体康普顿谱仪 385

康普顿抑制谱仪和电子对谱仪 388

固体探测器系统中冲击亏损的分析 397

高稳定偏置放大器和展宽器系统 401

用水银继电器脉冲发生器测量放大器的非线性和增益稳定性 408

脉冲幅度谱仪稳定系统的比较 421

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