大规模集成电路设计基础PDF电子书下载

目录 1

第一章 绪言 1

§1.1电子线路与计算机 1

§1.2大规模集成电路计算机辅助设计 2

§1.3本书内容概述 5

第二章 集成电路基础知识 6

§2.1双极型集成电路基础 6

一、双极型晶体管 6

二、晶体管－晶体管逻辑集成电路TTL 9

三、发射极耦合逻辑电路ECL 12

四、集成注入逻辑电路（I2L） 14

§2.2MOS型集成电路基础 15

一、MOS晶体管 16

二、MOS晶体管电路 17

§2.3集成电路制造工艺 24

二、氧化 25

一、外延 25

三、光刻 26

四、扩散 27

五、低压化学气相淀积 29

六、蒸发 29

§2.4版图设计规则 30

一、TTL电路版图实例 31

二、MOS集成电路的版图设计 33

§2.5小结 37

第三章 双极型数字大规模集成电路 39

§3.1存贮器 39

一、随机存贮器（RAM）工作原理和工作方式 39

二、只读存贮器（ROM）工作原理和线路 48

三、存贮器的工艺和版图 48

§3.2位片系统 51

一、AMD2901ALU／寄存器芯片 52

二、AMD2910定序器 55

三、AMD2930程序控制单元 57

四、AMD2925时钟发生器和驱动器 58

§3.3定制及半定制电路 59

一、可编程逻辑阵列的结构 59

二、可编程逻辑阵列的使用 60

三、门阵列电路 64

§3.4小结 66

第四章 MOS大规模集成电路 67

§4.1晶体管组合法和积木式单元法 67

§4.2门阵列法 70

§4.3保护电路 75

§4.4MOS存贮器 76

一、MOS随机存贮器的存贮单元 76

二、存贮器实例 78

三、只读存贮器 78

§4.58位单片微处理器8080A 79

一、总体结构 79

二、寄存器阵列 82

三、算术逻辑单元 88

四、指令寄存器和指令译码器 91

五、定时控制部件 92

§4.616位单片微处理器8086 98

一、8086的逻辑设计 98

二、8086的电路设计 101

三、8086的版图安排 104

§4.7小结 104

一、双极型D/A转换器原理 106

第五章 线性大规模集成电路 106

§5.1双极型D/A转换器 106

二、双极型差动放大器 108

三、12位D/A转换器AD562 109

§5.2双极型A/D转换器 111

一、双极型A/D转换器原理 111

二、12位逐次近似A/D转换器AD572 112

一、线性MOS大规模集成电路中的元件 114

§5.3MOS转换器 114

二、并行式MOSD/A转换器 115

三、MOSA/D转换器 116

§5.4小结 116

第六章 设计自动化技术 118

§6.1设计自动化的范围 118

§6.2逻辑设计自动化 121

一、逻辑模拟 121

二、逻辑元件模型的建立 121

三、逻辑图的输入 123

四、逻辑模拟算法 124

五、逻辑描述语言 125

§6.3版图设计自动化 135

一、版图图形编辑软件 136

二、符号布图法 140

三、自动布局、布线设计方法 141

§6.4小结 144

§7.2测试的种类 146

第七章 大规模集成电路测试技术 146

§7.1测试技术的一般情况 146

一、直流特性测试 147

二、交流特性测试 148

三、逻辑功能测试 149

§7.3随机存贮器的功能测试 149

一、简单组合图形测试法 150

二、N2类测试图形 152

三、N1.5类测试图形 153

四、下雨测试法 153

§7.4逻辑型大规模集成电路的测试方法 154

一、实装测试法 155

二、比较测试法 155

三、测试图形存贮法 156

四、实时测试图形生成法 157

一、组合电路使用的算法 158

§7.5测试图形生成法 158

二、时序电路使用的算法 162

§7.6对微处理器的测试 163

§7.7抽象执行图描述和功能结构兼测法 165

一、微处理器的功能描述 166

二、故障模型的建立 174

三、数据处理部分的测试方法 175

§7.8大规模集成电路测试仪 179

一、TALICEMAN9240的组成 180

二、TALICEMAN9240的软件系统 182

§7.9小结 186

第八章 集成电路的可靠性 188

§8.1可靠性概述 188

一、可靠性基本概念 188

二、可靠性分析的主次图和因果图 191

三、概率统计在集成电路可靠性工作中的作用 194

一、电路设计时的考虑 195

§8.2集成电路的可靠性设计 195

二、结构设计时的考虑 196

§8.3集成电路的质量保证 196

一、概述 196

二、筛选试验 197

三、可靠性试验 199

四、抽样检验与批允许不合格率 201

五、制造工艺的管理 201

§8.4集成电路的失效分析 201

一、集成电路的失效模式 201

二、PN结和表面退化 203

三、互连线的失效 203

四、键合不良 204

五、树脂模塑型集成电路的失效 205

§8.5小结 205

参考文献 206