半导体存储器测试技术PDF电子书下载

目录 1

半导体存储器测试技术 1

动态存储器 15

半导体存储器测试 18

MOS存储器的图形灵敏度 27

4096位随机存取存储器的图形灵敏度 29

MOS随机存取存储器的诊断性测试 37

随机存取存储器的测试图形及测试对策 44

4K随机存取存储器的测试问题及其解决方法 52

严密、高速的“移动变反”测试图形 61

存储器测试对策 67

只读存储器和可编程序只读存储器的测试需要什么条件 75

静态双极型随机存取存储器的测试 86

在芯片和插件板一级测试双极型半导体存储器所遇到的问题 97

电荷耦合存储器的测试原理 99

多少测试项目才够数？ 111

存储器和大规模集成电路的时间测试的必要性 116

器件测试系统之探讨 131

第三代测试系统的新结构 141

计算样品统计分布的四次测量及通知非正态性分布的一种快速工作程序 147

汇编结构及改正算法 153

高速存储器／随机逻辑测试系统 160