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目录 1

第一部分　用现有仪器构成自动测试系统 1

第1章 自动测试系统概述 1

1.1 自动测试系统的组成 1

1.2 自动测试系统的分类 2

1.3　现代自动测试系统的特点 3

习题 3

第2章　通用接口总线概述 4

2.1　概述 4

2.2　接口基本性能及仪器功能 6

2.3　总线结构 9

2.4　接口基本特性 12

习题 14

第3章　通用接口总线协议编码 15

3.1　信息分类 15

3.2　接口信息及编码 15

3.3　设备信息及编码 23

习题 24

第4章　接口功能 25

4.1　清除功能（DC） 25

4.2　设备触发功能（DT） 26

4.3　听功能（L） 27

4.4　讲功能（T） 29

4.5　源功能（SH） 31

4.6　受功能（AH） 32

4.7　服务请求功能（SR） 33

4.8　远程／本地功能（RL） 34

4.9　控者功能（C） 35

习题 40

第5章　USB及虚拟仪器 41

5.1　USB总线协议简介 41

5.2　基本结构简介 43

5.3 USB协议总览 45

5.4 连接特性 48

5.5 VXI概念 54

习题 57

第6章 CAT概述及TM7简介 58

6.1 CAT概述 58

第二部分 模拟集成电路测试系统 58

6.2　TM7简介 59

习题 62

第7章　测试语言简介 63

7.1　BASIC语法定义 63

7.2　TBASIC命令 66

7.3　TBASIC的语句 66

7.4　测试用的新增函数 72

7.5　其他语句组 73

7.6　数字测试扩展语句 74

7.7　如何使用TBASIC7 75

7.8　测试语言的深层次讨论 76

习题 77

8.1　TM7的硬件系统结构 78

第8章　TM7的硬件 78

8.2　硬件的层次结构（三层结构） 81

8.3　TM7的接口控制电路的几个问题 81

8.4　TM7的数字电路 82

8.5　模拟电路 84

8.5.1　程控源 84

8.5.2　PMU可程控测量单元（精密测量单元） 85

8.5.3　测量放大器及数字电压表 88

习题 89

第9章　基本种类IC的测试 90

9.1　运算放大器的测试 90

9.1.1　实际的运算放大器 90

9.1.2　运算放大器组件的基本参数和测试方法 91

9.1.3　运算放大器类适配器的设计 95

9.1.4　运算放大器类的测试程序 96

9.2　集成三端稳压器的测试 97

9.2.1　集成三端稳压器的基本参数的意义及其测试方法 97

9.2.2　适配器的设计 98

9.2.3　脉冲式电压源及电流负载的电路实现举例 99

9.3 DAC的测试 101

9.3.1　DAC的测试项目及定义 101

9.3.2　使用数字电压表法测试DAC 102

9.3.3　满度建立时间的测量 105

9.3.4　测DAC时对DVM的要求 105

9.4　ADC的测试及适配器的工作原理 106

9.4.1　TM7可测试A/D组件的基本参数 106

9.4.2　TM7 A/D适配器的工作原理 107

9.4.3　A/D适配器的特点 112

9.4.4　测试程序 113

9.4.5　调试A/D转换器测试程序时的注意事项 116

习题 116

第10章　测试仪系统软件的开发及仪器自检和校准 117

10.1　系统软件的结构 117

10.1.1　开发方案 117

10.1.2　软件设计说明 117

10.1.3　软件测试 120

10.2　自检原理及算法 121

10.2.1　容错主要采用的技术及发展趋势 121

10.2.3 自检的方法 122

10.2.2　自检的技术指标 122

10.2.4 自检算法 125

10.3　校准 128

10.4　TM7的校准和模拟量自检方法 129

10.4.1　TM7的校准方法举例 129

10.4.2　TM7的模拟量自检方法举例 131

习题 131

附录A　TBASIC命令表 132

附录B　函数表 133

附录C　测试语句表 133

附录D　TBASIC错误信息表 136

英文缩略词英汉对照表 137

参考文献 140