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可靠性与环境试验参考资料 13 IEEE可靠性物理年会论文集选编 1PDF电子书下载
- 电子书积分:8 积分如何计算积分?
- 作 者:可靠性与环境试验编辑部编辑
- 出 版 社:可靠性与环境试验编辑部
- 出版年份:1983
- ISBN:
- 页数:117 页
图书介绍:
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《可靠性与环境试验参考资料 13 IEEE可靠性物理年会论文集选编 1》目录
加速试验技术 1
湿度对钽膜电容器反向偏压试验的影响 1
含有点缺陷的MNOS电容器失效与时间、电压的关系 6
器件可靠性退化模型 15
失效分析技术 18
等离子腐蚀在失效分析中的应用 18
用于失效分析的液晶技术 23
显微探测 24
塑封半导体器件热冲击引起的铝金属化形变 29
其它 29
失效机理及其分析 37
铌酸锂声表面波元件的潜在失效机理 37
离子漂移失效在时间/温度应力下的恢复特性 43
封装及组件的可靠性 47
塑料封装和气密性模块的腐蚀模型 47
塑料模制化合物的吸潮和释潮与器件寿命和失效模式的关系 54
集成电路α粒子轨迹电荷收集的瞬时特性 63
湿气激活TO型外壳玻璃管座的表面漏电通道 69
塑封集成电路的应力分布和可靠性测试 73
芯片粘合环氧树脂沾污时CF4/O2等离子体可加速塑封ICs的铝金属化腐蚀过程 81
用二次离子质谱仪评价关键表面清洁度 85
离子失效机理随温度而变的缺陷级 91
根据普遍的电迁移失效模型进行蒙特卡罗计算 94
用锯齿波法的瞬时介质可靠性试验 102
电子显微技术与失效分析 109
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