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目录 1

序 1

前言 1

1 实验基础知识 1

1.1 概述 1

1.2 常用半导体电子元器件的识别与简单测试 3

1.3 常用电子仪器及其测量技术的简单介绍 10

1.4 测量误差及数据处理 22

1.5 电子电路的安装与调试 25

2.1 TTL集成逻辑门参数的测试实验 29

2 逻辑门应用实验 29

2.2 集电极开路门电路及三态门电路的研究实验 35

2.3 CMOS传输门应用实验 41

3 组合电路应用实验 47

3.1 用小规模集成电路进行组合逻辑电路设计实验 47

3.2 字符编码显示电路实验 52

3.3 编码器和译码器实验 57

3.4 数据选择器应用实验 62

3.5 数据选择器和数据分配器应用实验 66

3.6 组合逻辑电路冒险现象遇见的研究实验 71

4 时序电路应用实验 75

4.1 触发器基本功能测试实验 75

4.2 同步时序电路逻辑设计实验 81

4.3 变速时钟发生器实验 86

4.4 任意进制分频器实验 90

4.5 集成移位寄存器应用实验 97

5 脉冲信号产生与整形实验 100

5.1 基本门电路产生脉冲信号实验 100

5.2 集成单稳触发器应用实验 104

5.3 集成施密特触发器应用实验 109

5.4 555定时器典型应用实验 114

5.5 555定时器兴趣实验 119

6 数模转换和模数转换实验 123

6.1 D/A转换实验 123

6.2 数据采集原理（A/D）实验 129

6.3 数模转换器应用实验 133

7 综合实验 140

7.1 报时式数字时钟制作实验 140

7.2 按键扫描编码显示电路实验 145

7.3 数字式电容测试仪制作实验 148

7.4 生理刺激反应时间测试仪制作实验 154

附录1 常用逻辑器件索引表 158

附录2 部分集成逻辑器件型号对照表 160

附录3 部分集成器件管脚与功能 164

附录4 部分CMOS集成器件管脚与功能 181

参考文献 185