单片机应用与电子设计竞赛实训 第2版PDF电子书下载

第1章 基础部分 1

1.1 电阻 1

1.1.1 电阻器参数的识别 1

1.1.2 电阻器的种类 4

1.1.3 电阻器的检测 5

1.2 电容 7

1.2.1 电容参数的识别 7

1.2.2 电容的种类 8

1.2.3 电容的检测 9

1.3 电感 10

1.3.1 电感参数的识别 10

1.3.2 常用电感的种类 11

1.3.3 电感的检测 12

1.4 二极管 12

1.4.1 二极管参数的识别 12

1.4.2 二极管的种类 13

1.4.3 二极管的检测 14

1.5 三极管 15

1.5.1 三极管的参数识别 16

1.5.2 三极管的种类 16

1.5.3 三极管的检测 17

1.6 逻辑电路 17

1.6.1 基本逻辑电路 18

1.6.2 存储电路 22

1.6.3 寄存器 23

1.6.4 计数器 24

1.6.5 锁存器 24

第2章 单片机基础 26

2.1 单片机的寄存器 26

2.2 单片机的存储装置 27

2.3 单片机的指令 28

2.4 单片机的端口 28

2.4.1 控制I/O端口的功能寄存器 29

2.4.2 端口的输入控制 30

2.4.3 端口的输出控制 30

2.5 单片机的定时器 31

2.5.1 定时器的类型 31

2.5.2 8位定时器／事件计数器50 32

2.6 单片机内部的A/D转换器 34

2.6.1 A/D转换器的操作 35

2.6.2 A/D转换器的应用 36

2.6.3 使用开发工具进行系统开发 41

2.7 单片机内部的串行接口 48

2.7.1 异步串行通讯接口 49

2.7.2 3线串行通讯接口 53

2.8 中断 54

2.9 选项字节 59

第3章 实验环境 61

3.1 教学板硬件概述 61

3.1.1 教学板及附件 61

3.1.2 NEC AF/SP-1编程器的连接 62

3.1.3 NEC NTC MINICUBE78K0的连接 62

3.1.4 教学板配置图 63

3.2 系统结构框图 64

3.3 存储器映射图 65

3.3.1 存储器组 65

3.3.2 存储器映射 65

3.4 I/O映射 66

第4章 系统开发环境介绍 68

4.1 开发环境概述 68

4.1.1 软件包 69

4.1.2 语言处理软件 70

4.1.3 Flash存储器写入工具 70

4.1.4 调试工具（硬件） 71

4.1.5 调试工具（软件） 71

4.2 可以自动生成代码的系统配置功能——Applilet 71

4.2.1 Applilet的简述 71

4.2.2 Applilet的操作 71

4.2.3 加载到 PM Plus 77

4.3 PM Plus的操作 78

4.4 QB-78K0MINI仿真器的使用 82

4.4.1 界面介绍 82

4.4.2 使用QB-78K0MINI仿真器 83

4.4.3 在ID78K0-QB for MINICUBE中调试 85

4.4.4 高级调试功能 94

4.5 系统仿真器SM＋for 78K0/Kx2的使用 98

4.5.1 加载SM＋for 78K0/Kx2 98

4.5.2 运行程序 99

4.5.3 使用系统仿真器SM＋for 78K0/Kx2进行调试 100

第5章 实验项目 101

5.1 KEY＆LED控制 101

5.1.1 实验目的 101

5.1.2 实验内容 101

5.1.3 预备知识 101

5.1.4 实验原理 101

5.1.5 实验方法 105

5.2 点阵式LCD的控制 116

5.2.1 实验目的 116

5.2.2 实验内容 116

5.2.3 预备知识 116

5.2.4 实验原理 117

5.2.5 实验方法 122

5.3 串行口控制 135

5.3.1 实验目的 135

5.3.2 实验内容 135

5.3.3 预备知识 136

5.3.4 实验原理 136

5.3.5 实验方法 139

5.4 直流电机控制 146

5.4.1 实验目的 146

5.4.2 实验内容 146

5.4.3 预备知识 146

5.4.4 实验原理 146

5.4.5 实验方法 151

5.5 步进电机控制 155

5.5.1 实验目的 155

5.5.2 实验内容 156

5.5.3 预备知识 156

5.5.4 实验原理 156

5.5.5 实验方法 158

5.6 音乐键＋喇叭控制 162

5.6.1 实验目的 162

5.6.2 实验内容 163

5.6.3 预备知识 163

5.6.4 实验原理 163

5.6.5 实验方法 166

5.7 EEPROM控制 176

5.7.1 实验目的 176

5.7.2 实验内容 176

5.7.3 预备知识 176

5.7.4 实验原理 176

5.7.5 实验方法 182

5.8 温度、压力传感器控制 194

5.8.1 实验目的 194

5.8.2 实验内容 194

5.8.3 预备知识 194

5.8.4 实验原理 195

5.8.5 实验方法 201

5.9 综合实验 209

5.9.1 实验目的 209

5.9.2 实验内容 209

5.9.3 实验环境 209

5.9.4 实验原理 209

5.9.5 实验方法 212

第6章 电子制作 220

6.1 电路构成 220

6.2 闪存编程器的制作 221

6.3 编程器的应用 225

6.4 程序开发 228

6.4.1 开发工具的准备 228

6.4.2 编程 228