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第1章 绪论 1

1.1 原子吸收光谱仪器研究和商品仪器的开发 1

1.1.1 原子吸收光谱仪器工作原理的形成 1

1.1.2 由原理样机到生产样机的研究开发 6

1.2 原子吸收光谱商品仪器的发展及现状 14

1.3 原子吸收光谱仪器的主要特点 16

1.4 原子吸收光谱分析的应用 17

参考文献 18

第2章 原子吸收光谱测量原理 20

2.1 Walsh测量峰值吸收的思想 20

2.2 原子吸收谱线与吸收系数 21

2.3 积分吸收系数与峰值吸收系数 22

2.4 原子吸收光谱分析的基本关系式 23

2.5 原子吸收光谱分析法的实际测量 24

2.6 原子吸收光谱分析的定量方法 25

2.6.1 标准曲线法 25

2.6.2 标准加入法 25

2.6.3 标准曲线的制作 26

2.7 影响测量结果的因素 27

参考文献 29

第3章 仪器基本构造 30

3.1 光源系统 30

3.1.1 原子吸收光谱仪对光源的要求 30

3.1.4 空心阴极灯 31

3.1.2 气体放电灯基本原理 31

3.1.3 气体放电光源的优点 31

3.1.5 无极放电灯 36

3.1.6 氘灯 37

3.1.7 连续光源 40

3.2 原子化系统 42

3.2.1 火焰原子化系统 42

3.2.2 非火焰原子化系统 51

3.3 光学系统 55

3.3.1 光束会聚子系统 55

3.3.2 光度子系统 57

3.3.3 分光子系统 58

3.3.5 光学件支持与调节系统 66

3.3.4 光信号接收系统 66

3.4 检测系统 69

3.4.1 光电倍增管工作原理 70

3.4.2 光电倍增管基本结构与类型 71

3.4.3 光电倍增管的特性参数 71

3.5 电学系统 72

3.5.1 光源供电及位置调控电路 73

3.5.2 原子化系统调控电路 73

3.5.3 光学系统调控电路 74

3.5.4 检测器调控电路 74

3.5.5 信号读出与显示系统 74

3.6.1 背景干扰的产生与特性 75

3.6 背景校正系统 75

3.6.2 背景校正技术发展概况 76

3.6.3 背景校正装置工作原理与特点 77

3.6.4 背景校正装置的构造 79

3.7 数据处理系统 80

3.7.1 分析数据库管理系统 81

3.7.2 信号处理系统 81

3.7.3 数据处理系统 81

3.7.4 分析数据质量控制 82

参考文献 83

4.2.1 准确度与重复性的含义 84

4.2 波长准确度与重复性 84

4.1 概述 84

第4章 仪器性能评价与检验 84

4.2.2 影响波长准确度与重复性的因素 85

4.2.3 波长准确度与重复性的检验方法 85

4.3 分辨力 86

4.3.1 分辨力的含义 86

4.3.2 影响分辨力的因素 87

4.3.3 分辨力的检验方法 88

4.4 基线稳定性 88

4.4.1 基线稳定性的含义 88

4.4.2 影响基线稳定性的因素 89

4.4.3 检验基线稳定性的方法 90

4.5.2 影响特征浓度（特征量）与灵敏度的因素 92

4.5 特征浓度（特征量）与灵敏度 92

4.5.1 特征浓度（特征量）与灵敏度的含义 92

4.5.3 特征浓度（特征量）与灵敏度的检验方法 93

4.6 精密度与准确度 93

4.6.1 精密度与准确度的含义 93

4.6.2 影响精密度与准确度的因素 94

4.6.3 精密度与准确度的检验方法 94

4.7 检出限 95

4.7.1 检出限的含义 95

4.7.2 影响检出限的因素 95

4.7.3 检出限的检验方法 95

4.8.2 影响背景校正能力的因素 96

4.8.1 背景校正能力的含义 96

4.8 背景校正能力 96

4.8.3 背景校正能力的检验方法 98

4.9 边缘能量 98

4.9.1 边缘能量的含义 98

4.9.2 影响边缘能量的因素 99

4.9.3 检验边缘能量的方法 99

4.10 性能评价体系的有关问题 99

4.10.1 名词术语方面 100

4.10.2 指标要求方面 101

4.10.3 检验方法方面 101

参考文献 103

5.1.1 工作环境要求 104

第5章 仪器的使用与维护 104

5.1 工作环境与安全保障要求 104

5.1.2 工作条件要求 105

5.2 安装 108

5.2.1 货品验收与开箱 108

5.2.2 安装前的准备 108

5.2.3 主机安装 109

5.2.4 原子化器系统的安装 110

5.2.5 配套设备的安装 113

5.2.6 管道泄漏的检查 115

5.3 验收 115

5.3.1 验收项目 115

5.3.3 验收内容与方法 116

5.3.2 验收要求 116

5.4 参数选择与使用要点 120

5.4.1 光源的使用及参数选择 120

5.4.2 光学系统的使用与参数选择 123

5.4.3 原子化系统的使用与参数选择 125

5.4.4 电学与数据处理系统的使用与参数选择 132

5.5 日常保养与维护 134

5.5.1 光源系统 134

5.5.2 光学系统 135

5.5.3 检测系统 136

5.5.4 原子化系统 136

5.5.5 气水供给系统 139

5.5.6 电路系统 140

参考文献 140

第6章 常见故障分析与处置方法 141

6.1 光源系统故障分析与处置 141

6.1.1 空心阴极灯故障分析 141

6.1.2 氘灯故障分析 142

6.2 光学系统故障分析与处置 143

6.2.1 分光系统故障分析 143

6.2.2 光束传导系统故障分析 144

6.3 原子化系统故障分析与处置 144

6.3.1 火焰原子化系统故障分析 144

6.3.2 石墨炉原子化系统故障分析 145

6.4 检测系统故障分析与处置 146

6.5 电学系统故障分析与处置 147

6.6 数据处理系统故障分析与处置 148

6.7 背景校正系统故障分析与处置 148

6.7.1 氘灯背景校正故障分析 148

6.7.2 自吸效应背景校正故障分析 149

6.7.3 塞曼效应背景校正故障分析 149

6.8 故障综合因素分析与处置 150

6.9 紧急情况分析与处置 152

参考文献 152

7.1 空气压缩机 153

7.1.1 类型与结构特点 153

第7章 主要附件 153

7.1.2 选配要求 154

7.1.3 使用注意事项 155

7.2 氢化物发生器 155

7.2.1 工作原理 155

7.2.2 结构及功能 156

7.2.3 特点 157

7.2.4 安装注意事项 158

7.2.5 使用注意事项 158

7.3 自动进样器 160

7.3.1 基本结构 160

7.3.4 使用维护注意事项 162

7.3.2 技术规格 162

7.3.3 功能特性 162

7.4 冷却循环水机 163

参考文献 164

第8章 仪器技术的进展 165

8.1 原子化器系统的进步 165

8.1.1 火焰原子化系统 165

8.1.2 石墨炉原子化器 167

8.1.3 阴极溅射原子化器 171

8.2 高分辨中阶梯光栅分光系统 173

8.2.1 中阶梯光栅、棱镜两次色散一维分光系统 173

8.2.2 中阶梯光栅、棱镜两次色散二维分光系统 173

8.2.3 中阶梯光栅、棱镜两次色散电子扫描分光系统 174

8.3.1 电荷耦合器件（CCD） 176

8.3 固体检测器件的应用 176

8.3.2 电荷注入器件（CID） 177

8.3.3 CMOS图像传感器 177

8.4 背景校正技术系统的发展 178

8.4.1 一次测量背景校正系统商品仪器的问世 178

8.4.2 连续光源一次测量背景校正法 179

8.4.3 背景校正性能的改进与扩展 180

8.5 快速检测电路与大规模IC元件的应用 182

8.5.1 大规模集成电路对仪器进步的影响 182

8.5.2 芯片间总线的使用 183

8.5.3 快速检测电路 183

参考文献 184

8.6 仪器的自动化和智能化 184

第9章 国内外原子吸收光谱仪器发展概要 188

9.1 原子吸收光谱仪器的类型 188

9.1.1 氘灯背景校正原子吸收光谱仪器 188

9.1.2 塞曼背景校正原子吸收光谱仪器 190

9.1.3 两种不同背景校正组合方式原子吸收光谱仪器 195

9.2 国外原子吸收光谱仪器发展 196

9.2.1 连续光源原子吸收光谱仪器 196

9.2.2 多元素同时测定原子吸收光谱仪器 197

9.3 国内原子吸收光谱仪器的发展 198

参考文献 202

附录 乙炔火焰使用安全要求 204