数字电子技术基础 系统方法PDF电子书下载

第1章 数字系统简介 1

1.1 数字和模拟信号及系统 1

1.2 二进制数字、逻辑电平和数字波形 5

1.3 逻辑运算 9

1.4 组合和时序逻辑功能 11

1.5 可编程逻辑 14

1.6 固定功能逻辑器件 18

1.7 数字系统举例 20

1.8 测量仪器 22

小结 28

关键术语 28

是非测试题 29

自测题 29

习题 30

各节测试题答案 31

相关问题答案 32

是非测试题答案 32

自测题答案 32

第2章 数制、运算和编码 33

2.1 十进制 33

2.2 二进制 34

2.3 十进制与二进制间的转换 36

2.4 二进制算术运算 39

2.5 二进制数的反码和补码 41

2.6 带符号数 42

2.7 带符号数的算术运算 47

2.8 十六进制 52

2.9 八进制 56

2.10 二-十进制码 58

2.11 数字编码 61

2.12 误码检测 66

小结 70

关键术语 70

是非测试题 71

自测题 71

习题 72

各节测试题答案 75

相关问题答案 76

是非测试题答案 77

自测题答案 77

第3章 逻辑门和组合门 78

3.1 布尔代数简介 78

3.2 反相器 83

3.3 与门 85

3.4 或门 89

3.5 与非门 92

3.6 或非门 94

3.7 异或门和同或门 97

3.8 门的性能特性及参数 99

3.9 可编程逻辑 102

3.10 故障排除 108

小结 111

关键术语 112

固定功能逻辑器件 113

是非测试题 113

自测题 113

习题 114

拓展题 117

Muitisim故障排除练习 117

各节测试题答案 117

相关问题答案 118

是非测试题答案 119

自测题答案 119

第4章 组合逻辑 120

4.1 基本组合逻辑电路 120

4.2 布尔表达式和真值表 123

4.3 摩根定理 128

4.4 与非门和或非门的通用特性 129

4.5 脉冲波形运算 130

4.6 用VHDL和Verilog描述组合逻辑 132

4.7 储液罐系统 137

4.8 故障排除 140

小结 144

关键术语 145

是非测试题 145

自测题 145

习题 146

拓展题 150

Muitisim故障排除练习 150

各节测试题答案 150

相关问题答案 151

是非测试题答案 152

自测题答案 152

第5章 组合逻辑功能模块 153

5.1 药片瓶装系统 153

5.2 半加器与全加器 157

5.3 并行加法器 159

5.4 串行进位与超前进位加法器 163

5.5 比较器 165

5.6 译码器 167

5.7 编码器 173

5.8 码转换器 176

5.9 复用器（数据选择器） 177

5.10 解复用器 183

5.11 奇偶发生器／校验器 184

5.12 逻辑功能模块的VHDL和Verilog描述 186

5.13 故障排除 189

小结 191

关键术语 191

固定功能逻辑器件 192

是非测试题 192

自测题 192

习题 193

拓展题 197

Muitisim故障排除练习 197

各节测试题答案 197

相关问题答案 198

是非测试题答案 199

自测题答案 199

第6章 锁存器、触发器与定时器 200

6.1 交通信号控制系统 200

6.2 锁存器 203

6.3 触发器 207

6.4 触发器的工作特性 215

6.5 定时器 217

6.6 双稳态逻辑的VHDL和Verilog描述 221

6.7 交通信号控制系统的VHDL和Verilog描述 223

6.8 故障排除 229

小结 235

关键术语 236

是非测试题 236

自测题 236

习题 237

拓展题 241

Muitisim故障排除练习 241

各节测试题答案 241

相关问题答案 242

是非测试题答案 242

自测题答案 242

第7章 移位寄存器 243

7.1 安全系统 243

7.2 基本移位寄存器的工作原理 245

7.3 移位寄存器的类型 246

7.4 双向移位寄存器 252

7.5 移位寄存器型计数器 253

7.6 安全系统的VHDL和Verilog描述 257

7.7 故障排除 260

小结 264

关键术语 264

固定功能逻辑器件 264

是非测试题 264

自测题 265

习题 265

拓展题 268

Multisim故障排除练习 268

各节测试题答案 268

相关问题答案 269

是非测试题答案 269

自测题答案 269

第8章 计数器 270

8.1 计时系统 270

8.2 有限状态机 272

8.3 异步计数器 273

8.4 同步计数器 278

8.5 加／减同步计数器 282

8.6 级联计数器 285

8.7 计数器译码 288

8.8 计数器的VHDL和Verilog描述 289

8.9 故障排除 291

小结 294

关键术语 295

固定功能逻辑器件 295

是非测试题 295

自测题 295

习题 296

拓展题 299

Multisim故障排除练习 299

各节测试题答案 299

相关问题答案 300

是非测试题答案 300

自测题答案 300

第9章 可编程逻辑 301

9.1 简单可编程逻辑器件 301

9.2 复杂可编程逻辑器件 305

9.3 宏单元模式 310

9.4 现场可编程门阵列 311

9.5 可编程逻辑软件 316

9.6 边界扫描逻辑 323

9.7 故障排除 329

小结 333

关键术语 333

是非测试题 334

自测题 334

习题 335

各节测试题答案 338

相关问题答案 338

是非测试题答案 338

自测题答案 338

第10章 存储器 339

10.1 存储系统层次结构 339

10.2 半导体存储器基础 342

10.3 随机存取存储器 345

10.4 只读存储器 355

10.5 可编程ROM 358

10.6 闪速存储器 360

10.7 存储器扩展 363

10.8 特殊类型的存储器 367

10.9 磁和光存储器 371

10.10 故障排除 375

小结 377

关键术语 378

是非测试题 378

自测题 378

习题 379

各节测试题答案 381

相关问题答案 382

是非测试题答案 382

自测题答案 382

第11章 数据传输 383

11.1 数据传输媒质 383

11.2 数据传输方式与传输模式 386

11.3 数字信号调制模拟信号 390

11.4 模拟信号调制数字信号 392

11.5 复用与解复用 397

11.6 传输媒质对数据质量的影响 401

小结 404

关键术语 405

是非测试题 406

自测题 406

习题 407

各节测试题答案 408

相关问题答案 409

是非测试题答案 409

自测题答案 409

第12章 信号转换与处理 410

12.1 太阳方位跟踪系统 410

12.2 模拟信号转换成数字信号 414

12.3 模-数转换方法 418

12.4 数-模转换方法 425

12.5 数字信号处理 431

12.6 数字信号处理器 432

小结 437

关键术语 437

是非测试题 437

自测题 437

习题 438

各节测试题答案 440

相关问题答案 441

是非测试题答案 441

自测题答案 441

第13章 数据处理与控制 442

13.1 基本计算机系统 442

13.2 实际计算机系统的考虑因素 445

13.3 CPU的基本操作 449

13.4 CPU的寻址模式 454

13.5 CPU的特定操作 458

13.6 操作系统和硬件 463

13.7 编程 465

13.8 微控制器和嵌入式系统 469

小结 474

关键术语 475

是非测试题 475

自测题 476

习题 476

各节测试题答案 478

相关问题答案 479

是非测试题答案 479

自测题答案 479

第14章 总线、网络和接口 480

14.1 总线基础 480

14.2 总线接口 484

14.3 并行总线 487

14.4 通用串行总线 492

14.5 其他串行总线 495

14.6 网络拓扑结构 500

14.7 网络协议技术 503

小结 507

关键术语 508

是非测试题 508

自测题 509

习题 510

各节测试题答案 512

相关问题答案 513

是非测试题答案 513

自测题答案 513

术语表 514