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第一章 材料的组织形貌、结构及其测试分析 1

实验1 铸铁的显微组织分析（金相显微镜） 1

实验2 玻璃微珠的扫描电子显微镜形貌分析 6

实验3 奥氏体不锈钢的透射电子显微镜分析 12

实验4 X射线衍射物相分析 17

实验5 X射线光电子能谱分析 24

实验6 椭偏仪测量薄膜厚度 30

实验7 粉体比表面积的测定 35

实验8 用激光粒度分析仪测定粉体的粒度分布 38

第二章 材料的力学性能及其测试分析 42

实验9 铸铁和低碳钢硬度的测量 42

实验10 铸铁和低碳钢的拉伸与压缩实验 50

实验11 金属的疲劳实验 56

实验12 材料的摩擦磨损实验 61

实验13 金属丝弹性模量的测量 67

实验14 材料断裂韧性KIC的测量 71

实验15 薄膜与基体界面结合强度的测量 76

第三章 材料的物理性能及其测试分析 79

实验16 材料的综合热分析 79

实验17 金属材料线膨胀系数的测定 85

实验18 不良导体导热系数的测定 89

实验19 陶瓷材料热稳定性的测定 94

实验20 半导体材料吸收光谱测试分析 97

实验21 光电效应和普朗克常数的测定 102

实验22 硅太阳能电池光伏特性的测量 107

实验23 荧光光谱的测定 112

实验24 绝缘材料介电常数的测量与分析 116

实验25 材料压电系数的测定 119

实验26 热电偶温差电动势的测量 121

实验27 材料电化学阴极极化曲线的测试与分析 126

实验28 半导体材料霍尔效应的测定 130

实验29 微纳米粉体Zeta电位的测定 134

实验30 铁磁材料磁滞回线和磁化曲线的测定 139

实验31 铁磁材料高温居里点的测定 143

实验32 钙钛矿结构氧化物的巨磁电阻效应 148

实验33 四探针法测量硅膜的电阻 153

第四章 材料的物理制备技术 159

实验34 蒸发镀膜技术 159

实验35 溅射镀膜技术 162

实验36 等离子体烧结制备技术 165

附录 平面布氏硬度值计算表 170

参考文献 174