转换器接口技术 第2辑 ST-711和ST-732模拟A/D-D/A计算机I/O系统PDF电子书下载

序言 1

第一章 引论 2

1.1 概述 2

1.2 功能介绍 2

1.3 技术指标 4

总体指标 4

模拟输入 4

编程与体系结构 6

模拟输出 6

电压输出 6

电流环输出 7

接口连接器 7

物理特征 7

电源功耗 8

第二章 体系结构和编程 9

2.1 概述 9

2.1.1 重复单一通道输入 9

2.1.2 顺序输入扫描 9

2.1.3 随机通道输入 9

2.2 存贮器基本地址分配 9

2.3 读／写格式 10

2.3.1 命令寄存器（M+0，写） 10

2.3.2 状态寄存器（M+0，读） 11

2.3.3 增益和多路转接器地址寄存器（M+1，写／读） 11

2.3.4 末通道寄存器（M+2，写） 12

2.3.5 清除中断位（M+3，写） 12

2.3.6 ADC数据（M+4、M+5，读） 13

2.3.7 DAC数据（M+8、M+9，M+A、M+B，写） 13

2.4 编程 14

第三章 用户选择和装配 15

3.1 存贮器基本地址选择 15

3.2 传输回答延迟 16

3.3 中断 16

3.4 A/D转换器的启动 17

3.5 电流环输入 18

3.6 多路转接器的输入配置 19

3.7 模／数转换器量程和输出编码选择 19

3.8 数／模转换器输出量程和输入编入编码选择 20

3.9 校准过程 20

PAG失调调整 21

ADC校准 21

数／模转换器校准过程 23

典型的DAC校准实例 23

第四章 输入—输出引脚连接 26

4.1 概述 26

4.2 总线接口（P1） 26

4.3 辅助连接器（P2） 28

4.4 模拟输出连接器（J1） 28

4.5 模拟输入连接器（J2和J3） 28

第五章 诊断测试程序 31

5.1 概述 31

5.2 测试方式 31

5.2.1 PGA失调调整（控制字符—C） 31

5.2.2 A/D校准测试（控制字符—D） 31

5.2.3 A/D扫描测试（控制字符—E） 32

5.2.4 起搏器和中断测试（控制字符—F） 32

5.2.5 D/A校准测试（控制字符—G） 32

5.2.6 D/A锯齿波测试（控制字符—H） 32

5.3 测试设备 33

5.4 诊断程序装入 33

5.5 启动测试程序 33

5.6 典型的诊断测试过程 34

5.7 诊断程序清单 35

5.8 诊断测试程序说明 49

5.8.1 概述 49

5.8.2 诊断测试程序流程图 50

5.8.3 子程序库 51

键盘输入例行程序 51

打印回车换行例行程序 52

打印例行程序 52

十六进制ASCII码转换成二进制例行程序 53

二进制转换成ASCII例行程序 54

输出四个十六进制数据例行程序 54

输入十六进制字符的例行程序 56

5.8.4 诊断测试功能模块 57

D/A锯齿波测试模块 57

D/A校准测试模块 57

PGA失调调整测试模块 58

A/D校准测试模块 59

A/D扫描测试模块 61

起搏器和中断测试模块 64

第六章 ST—732编程举例 68

6.1 伪指令表 68

6.2 ADC非中断子程序 69

6.2.1 LDDATA子程序 69

6.2.2 读随机通道非中断子程序 69

6.2.3 读重复单一通道非中断子程序 70

6.2.4 顺序通道非中断子程序（SCAN）1 71

6.2.5 顺序通道非中断子程序（SCAN0）2 72

6.3 ADC中断程序编程 76

6.3.1 中断服务子程序 76

EOC中断服务 76

EOS中断服务 78

6.3.2 中断子程序 78

用起搏器时钟启动的顺序通道扫描 78

用起搏器时钟启动的重复单一通道方式 79

起搏器时钟启动的随机通道方式 80

程序启动的顺序通道扫描方式 80

程序启动的重复单一通道方式 81

程序启动的随机通道方式 81

6.3.3 中断编程举例 82

连续转换举例 82

有限连续转换举例 83

重复单一通道（Ⅰ）举例 84

重复单一通道（Ⅱ）举例 84

第七章 ST—732的主要器件 86

7.1 模拟器件 86

7.1.1 16通道CMOS多路转接器MX—1606 86

特点 86

概述 86

技术指标 87

结构和引脚排列 88

技术说明 89

7.1.2 带采样保持器的12位微电子A/D转换器ADC-HS12B 92

特点 92

概述 92

结构和引脚排列 93

技术指标 94

技术说明 96

使用说明 98

校准过程 100

7.1.3 带输入寄存器的12位混合工艺D/A转换器DAC—HK系列 101

特点 101

概述 101

技术指标 102

技术说明 104

结构和引脚排列 104

DAC—HK12的使用 105

校准过程 108

7.1.4 SPST CMOS模拟开关HI—201 109

特点 109

概述 110

技术指标 110

7.1.5 单片JFET输入的宽带运算放大器LF356 114

应用场合 114

特点 114

技术指标 114

7.1.6 通用运算放大器LM741 116

7.1.7 电源模块BPM—15/15？—D5 118

7.2 数字器件 119

第八章 ST—732硬件分析 129

8.1 概述 129

8.2 ST—732控制原理 129

8.2.1 多总线和定时 129

8.2.2 基本地址译码和禁止信号产生电路 133

8.2.3 板内地址译码和控制信号产生电路 134

8.2.4 总线收发电路 136

8.2.5 装入命令（写M+0） 137

8.2.6 传输响应延迟产生电路 137

8.2.7 装入PGA和通道地址（写M+1） 138

8.2.8 装入末通道地址（写M+2）和EOS产生电路 139

8.2.9 数字多路转接器和板忙触发器 140

8.2.10 ADC控制逻辑 142

8.2.11 中断控制电路 145

8.3 A/D转换 147

8.3.1 ADC定时逻辑 147

8.3.2 通道转接器 149

8.3.3 可编程增益放大器 150

8.3.4 A/D转换器 151

8.3.5 A/D运行时间的估算 151

8.3.6 通道的扩展问题 153

8.4 D/A转换 155

8.4.1 保持寄存器 155

8.4.2 D/A转换器 155

8.4.3 电流环驱动电路 155

8.4.4 DAC的通道扩展 155

附录：ST—711/732逻辑图（四幅） 158