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现代测试技术
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工业技术

  • 电子书积分:17 积分如何计算积分?
  • 作 者:陈光〓等编著
  • 出 版 社:成都:电子科技大学出版社
  • 出版年份:2002
  • ISBN:7810658670
  • 页数:554 页
图书介绍:
《现代测试技术》目录

8.6.4边缘扫描测试 44 1

目 录 1

5.2.2倒数计数器 26 1

4.4.2相位噪声的定义和表示 24 1

9.5.5网络连接技术 54 1

第一章测量技术基础 1

1.1.1 测量过程 1

1.1测量误差理论 1

1.1.2测量值的数学期望和方差 2

1.1.3随机误差的统计处理 3

1.1.4标准偏差的传递 6

1.1.5有限次测量的算术平均值及其方差 6

1.1.6测量结果的置信概率 7

1.1.7异常数据的剔除 7

1.1.8测量不确定度的表征方法 8

1.2测量信息论基础 10

1.2.1测量信息论的原理 11

1.2.2用误差熵计算不确定度 13

1.2.3采用最大信息熵原理估计误差概率分布 14

1.3测量过程的统计控制 17

1.3.1基本概念 17

1.3.2测量过程的统计控制参数 17

1.3.3测量过程统计控制的检验方法 18

1.4校准方法学 20

1.4.1 校准方法 20

1.4.2计量标准 21

1.4.4校准的要求 23

1.4.3校准类型 23

1.4.5互检和检验 24

1.4.7对校准标准的要求 25

1.4.6仪器特性和校准测试 25

1.5基本的电子标准 26

1.5.1国际测量单位制 27

1.5.2标准的可溯源性 31

第二章测试仪器平台 32

2.1 测试仪器平台的基本结构 32

2.1.1 基本概念 32

2.1.2测试仪器的信息流程 33

2.1.3测试仪器平台的结构 36

2.2.1传感器的通用结构 37

2.2传感器 37

2.2.2传感器的分类及转换原理 38

2.2.3传感器的主要技术指标 43

2.3.1模数转换器的基本概念 44

2.3模数转换器 44

2.3.2模数转换器的静态误差和测试 48

2.3.3模数转换器的动态误差和测试 51

2.4.1基本概念 57

2.4测试信号的处理 57

2.4.2傅里叶变换 59

2.4.3离散傅里叶变换 59

2.4.4窗口化 62

2.4.5模拟滤波器 65

2.4.6数字滤波器 68

2.4.7混频 73

2.4.8检波和解调技术 74

2.4.9衰减和放大 75

2.4.10测试结果的类型 77

2.4.11信号处理硬件 83

2.5.1微处理器在仪器中的作用 84

2.5测试仪器中的微处理器 84

2.5.2微处理器在仪器中的工作 85

2.5.3测试仪器的硬件结构 86

2.5.4仪器软件的编程 88

2.5.5仪器固件的开发 89

4.1.3任意波形合成器 1 89

2.5.6人机界面 90

2.5.7校准和误差修正 91

第三章基本电参量测量 92

3.1.1 引言 92

3.1.2数字多用表 92

3.1 电压、电流和电阻测量仪器 92

3.1.3直流电压测量技术 93

3.1.4交流电压测量技术 95

3.1.5电流测量技术 98

3.1.6电阻测量技术 100

3.1.7测量误差源 102

3.1.8电压表的技术指标 111

3.2示波器 114

3.2.1引言 114

3.2.2 通用示波器 115

3.2.3垂直放大器 117

3.2.4水平控制(时基)与触发 125

3.2.5模拟示波器 132

3.2.6数字示波器 141

3.2.7示波器的探头 153

3.3.2基本的功率定义 157

3.3功率测量 157

3.3.1概述 157

3.3.3传送类功率测量 159

3.3.4接收类功率测量 160

3.3.5热敏电阻传感器及相应功率计 161

3.3.6热偶式功率计 163

3.3.7二极管功率传感器 164

3.3.9多反射的影响 166

3.3.8峰值功率测量 166

3.3.1 0指标 167

3.3.1 1校准 168

4.1信号源 169

4.1.1信号的表征与生成方法? 169

第四章信号的产生与分析 169

4.1.2通用信号发生器 177

4.1.4微波信号的生成方法 200

4.2固态微波信号源 200

4.3频谱分析仪 222

4.3.1概述 222

4.3.2频谱仪的工作特性 227

4.3.3现代频谱分析仪的设计 234

4.3.4频谱仪的附件 240

4.4.1 为什么需要测量相位噪声 240

4.4相位噪声测量与仪器? 240

4.4.3相位噪声的时域测量方法 242

4.4.4相位噪声的频域测量法 243

4.4.5相位噪声的测量与分析 246

4.4.6微波信号源相位噪声的测量 252

4.4.7各种相位噪声测试系统测试灵敏度的对比 254

5.1概述 256

5.1.1时间与频率的数字化测量 256

第五章时间与频率测量 256

5.1.2时间与频率测量仪器 257

5.2.1基本计数器 260

5.2电子计数器的原理与组成 260

5.2.3连续计数器 263

5.2.4微波计数器 264

5.2.5脉冲微波计数器 266

5.3电子计数器的主要技术特性 266

5.3.1通用计数器的技术特性 266

5.3.2微波计数器的技术特性 273

5.4.1概述 275

5.4 时间与频率间隔分析仪 275

5.4.2原理与组成 276

5.4.3主要技术特性 278

5.4.4 FTIA的应用 279

5.5 寸间与频率标准 282

5.5.1概述 282

5.5.2石英晶体振荡器 283

5.5.3原子频率标准 285

5.5.4铯CS133原子频标 286

5.5.5铷泡原子频标 287

5.5.6氢频率标准和氢脉泽 290

第六章电路元器件的测试 292

6.1 阻抗测试的原理及仪器 292

6.1.1 阻抗测试技术和误差分析 292

6.1.2连接和隔离 297

6.1.3阻抗测试仪器(RLC) 300

6.2.1曲线记录仪 312

6.2半导体测试 312

6.2.2源监控器(SMU) 317

6.2.3数字插头电子(PE)仪器 323

6.2.4半导体测试系统 327

6.3网络分析仪 329

6.3.1 网络特性 329

6.3.2网络分析系统和精度分析 331

6.3.3标量网络分析仪 336

6.3.4矢量网络分析仪 340

6.4微波无源器件 344

6.4.1 同轴传输线及同轴无缘器件 344

6.4.2平行平面传输线及平行平面无源器件 351

6.4.3波导及波导无源器件 357

7.1.1光信号源 370

7.1光信号的产生及分析 370

第七章光电子测试 370

7.1.2光功率计 373

7.1.3光信号分析仪 375

7.1.4光谱分析仪 376

7.1.5光波偏振分析仪 377

7.2光学元件分析仪 379

7.2.1调制域元件分析仪 379

7.2.2波长域元件分析仪 380

7.2.3基于反射的元件分析仪 381

7.3 光学时域反射计 383

7.3.1光学时域反射计原理 383

7.3.2 光学时域反射计的技术指标 384

7.3.3 光学时域反射计的应用 385

第八章数据域测试 386

8.1数据域测试的概念 386

8.1.1数据域测试的重要性 386

8.1.2数据域测试的基本理论及方法简述 387

8.2.1数字信号发生器的作用 390

8.2数字信号发生器 390

8.2.2数字信号发生器的结构 391

8.2.3数据的产生 392

8.2.4数据流的特征 392

8.2.5数字信号发生器的主要技术指标 396

8.3逻辑分析仪 400

8.3.1逻辑分析仪的基本组成 400

8.3.2数据的捕获与触发跟踪 401

8.3.3数据流的高速存储 404

8.3.4 数据的建立时间和保持时间 406

8.3.5数据的显示 406

8.3.6逻辑分析仪的主要特点及技术指标 408

8.3.7数字测试系统 409

8.4.1 概述 411

8.4规约分析仪 411

8.4.2通信规约的结构 412

8.4.3 通信规约举例 413

8.4.4基本结构及操作 416

8.4.5规约分析仪的性能指标 418

8.5.1基本概念 421

8.5误码率测试仪 421

8.5.2误码源 422

8.5.3误码测量 423

8.5.4误码率测试仪的结构 431

8.5.5误码率测试仪的技术指标 435

8.6可测性设计 439

8.6.1可测性的测度 439

8.6.2可测性的改善设计 440

8.6.3结构可测性设计 440

第九章计算机辅助测试(CAT)平台 448

9.1.1 CAT平台 448

9.1 基本概念 448

9.1.2 CAT平台的基本结构 449

9.1.3程控仪器及接口 449

9.1.4 CAT控制器 452

9.1.5软件系统 453

9.2 GPIB接口 455

9.2.1 GPIB的发展历史 455

9.2.2 GPTB系统的基本结构 457

9.2.3 GPIB总线信号 459

9.2.4 GPIB接口功能 462

9.2.5 GPIB总线接口消息 463

9.2.6电气与机械特性 466

9.2.7 GPIB控制器 468

9.2.8 GPIB测试编程语言 476

9.3.1模块化仪器的标准化 485

9.3 VXIbus系统 485

9.3.2机械结构 486

9.3.3 VXI总线信号 487

9.3.4 VXT器件 491

9.3.5 VXI总线系统的通信协议 494

9.3.6 VXI测试系统 497

9.4仪器的程控 505

9.4.1器件数据的标准化 505

9.4.2 IEEE488.2标准 506

9.4.3可程控仪器标准命令SCPI 517

9.5 CAT平台 523

951 虚拟仪器 523

9.5.2仪器驱动器 527

95.3可视化测试编程环境 531

9.5.4开关器件 538

9.5.6 CAT平台实例 545

习题和思考题 547

第一章习题和思考题 547

第二章习题和思考题 547

第三章习题和思考题 548

第四章习题和思考题 549

第五章习题和思考题 550

第六章习题和思考题 550

第七章习题和思考题 550

第八章习题和思考题 551

第九章习题与思考题 551

参考文献 553

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