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抗辐射设计与辐射效应
抗辐射设计与辐射效应

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工业技术

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  • 作 者:沈自才,丁义刚著
  • 出 版 社:北京:中国科学技术出版社
  • 出版年份:2015
  • ISBN:9787504667380
  • 页数:345 页
图书介绍:抗辐射设计是航天、航空及核技术等工程中非常重要的环节,辐射环境对其敏感材料与器件的效应需要给予重点关注与研究。作者从辐射环境、辐射效应、辐射损伤机制、辐照试验、辐射屏蔽、抗辐射设计方法、辐射加固保证等方面对抗辐射设计所涉及的内容进行阐述,对漆类材料、聚合物材料、光学材料、MOS工艺器件、二极管、双极晶体管、FPGA、CCD等典型材料与器件的辐射损伤机理和辐射效应数据进行梳理与总结。本书可为从事抗辐射设计的工程技术人员提供指导,可为从事应用于辐射环境下的材料和电子元器件研制提供理论支持,亦可作为高校、科研院所的教学参考用书。
《抗辐射设计与辐射效应》目录

第一部分 抗辐射设计 3

第1章 概论 3

1.1概述 3

1.2辐射源及分类 3

1.3基本概念与单位 4

1.4常用辐射测量方法 8

第2章 辐射环境 13

2.1概述 13

2.2俘获辐射带 13

2.3太阳宇宙射线 26

2.4银河宇宙射线 35

2.5次级辐射粒子 42

2.6太阳电磁辐射 43

2.7空间等离子体 46

2.8太阳活动对空间辐射环境的影响 50

2.9核反应堆辐射环境 52

2.10核武器辐射环境 53

2.11激光辐射 53

第3章 辐射损伤机制 57

3.1概述 57

3.2辐射损伤模式 57

3.3带电粒子与物质的相互作用 59

3.4中子与物质的相互作用 64

3.5光子与物质的相互作用 66

第4章 辐射效应 70

4.1概述 70

4.2单粒子效应 78

4.3电离总剂量效应 85

4.4表面充放电效应 92

4.5内带电效应 94

4.6位移损伤效应 97

4.7辐射生物学效应 101

4.8辐射诱导传感器背景噪声效应 105

第5章 辐照试验 110

5.1概述 110

5.2辐照源 110

5.3试验标准与规范 120

5.4参数与测试 127

5.5试验流程 131

第6章 辐射屏蔽 139

6.1概述 139

6.2辐射输运过程 139

6.3屏蔽分析方法 144

6.4常用的粒子输运蒙特卡罗程序 149

6.5辐射屏蔽模型 154

第7章 抗辐射设计 158

7.1概述 158

7.2抗辐射设计程序 158

7.3辐射设计余量 161

7.4辐射计算 162

第8章 辐射加固保证 184

8.1概述 184

8.2电离总剂量效应加固保证 185

8.3位移损伤效应加固保障 189

8.4单粒子效应加固保证 191

8.5辐射诱导背景噪声评估 200

第二部分 典型材料与元器件辐射效应 207

第9章 漆类材料辐射效应 207

9.1概述 207

9.2漆类材料辐射损伤机制 207

9.3部分漆类材料辐射效应 210

第10章 聚合物材料辐射效应 219

10.1概述 219

10.2聚合物材料辐射损伤机制 221

10.3辐射导致聚合物性能的变化 224

10.4部分聚合物及聚合物基材料辐射效应 225

第11章 光学材料辐射效应 243

11.1概述 243

11.2光学材料辐射损伤机制 243

11.3玻璃材料辐射效应 245

11.4光纤的辐射效应 250

第12章MOS工艺器件辐射效应 255

12.1概述 255

12.2 MOS工艺器件辐射损伤机制 255

12.3 MOS工艺器件辐射效应 257

第13章 双极晶体管辐射效应 271

13.1概述 271

13.2辐射损伤机制 272

13.3双极晶体管辐射效应 275

13.4低剂量率增强效应 277

13.5偏置对辐射效应的影响 280

第14章 光电二极管辐射效应 282

14.1概述 282

14.2光电二极管辐射损伤机制 283

14.3部分光电二极管的辐射效应 284

第15章FPGA辐射效应 298

15.1概述 298

15.2 FPGA辐射损伤机制 299

15.3 FPGA辐射损伤效应 301

第16章CCD辐射效应 310

16.1概述 310

16.2 CCD辐射损伤机制 311

16.3 CCD辐射损伤效应 316

附录A:常用单位名称、单位符号及换算关系 328

附录B:全书缩略语和专用名词对照表 329

附录C:太阳黑子数周期的极大值和极小值 334

附录D: Z≤28的GCR粒子刚度谱和参数 335

附录E: Z≥29的GCR粒子刚度谱和参数 337

索引 340

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