目录 1
原序 1
译者序 1
绪论 1
0.01 电磁波-水波的类似 2
0.02 无限空间中的电磁波 7
0.03 有限空间中的电磁波 10
0.04 微波测量有关的基本量 12
第1章 频率和波长的测量 25
1.01 频率和波长之间的关系 25
1.02 频率和波长测量中的一般考虑 26
1.03 用开缝线段测量波长 28
1.04 用L-C调谐电路频率计测量频率 36
1.05 用谐振腔频率计测量频率 39
1.06 用外差式频率计测量频率 49
1.07 用频率标准测量频率 55
1.08 谐振腔频率计的调整和校准 67
第2章 驻波比的测量 78
2.01 传输线上驻波的实例 78
2.02 一般的开缝线段技术 80
2.03 电压驻波比最小值位置的确定 88
2.04 高电压驻波比的测量 90
2.05 一些误差的根源 92
2.06 开缝线段的精密校准 94
2.07 电压驻波比的精密测量（开缝线段法） 97
2.08 电压驻波比的精密测量（谐振腔法） 100
2.09 电缆至电缆的电压驻波比 105
2.10 电缆至硬线的电压驻波比 105
3.01 定义 119
第3章 衰减的测量 119
3.02 测量衰减可用的一些方法 120
3.03 测辐射热计-伏特表法的设备要求 122
3.04 用测辐射热计-伏特表法测量衰减 129
3.05 射频替代法测量衰减 141
3.06 用中频替代法测量衰减 158
3.07 用音频替代法测量衰减 164
第4章 功率的测量 168
4.01 微波功率和功率测量的性质 168
4.02 低功率测量中的一般考虑 174
4.03 低功率测量的基本电桥电路方法 184
4.04 用于低功率测量的改进电桥电路 187
4.05 低功率测量的一般步骤 201
4.06 低功率技术推广至测量中、高功率电平 204
4.07 用量热器技术直接测量中和高功率电平 211
4.08 高功率测量的专用设备 216
4.09 可用的商品功率测量设备 218
4.10 器件的功率容量的测量（烧毁测试） 220
4.11 在脉冲功率条件下使用测辐射热计的特殊考虑 223
第5章 Q值的测量 230
5.01 Q值的定义 230
5.02 谐振电路的型式 232
5.03 基本测量技术 233
5.04 测量时的注意事项 238
5.05 半功率点（带宽）法测量Q值 239
5.06 开缝线段法测量Q值 251
5.07 Q值的衰减时间测量法 257
5.08 Q值测量的拐点法 259
第6章 阻抗的测量和其他等值表示法 261
6.01 两端（终端）结构的表示法 262
6.02 测量方法——两端结构 263
6.03 四端网络的表示法 270
6.04 各种表示法的效用 277
6.05 三点法 279
6.06 阻抗测量的半精密方法 285
6.07 半精密方法——耗散（有耗）的网络 295
6.08 测量的精密方法以及有关的表示法 312
6.09 多端网络 332
附录 用三个任意的输入输出测量来确定四端结构的等值电路参量 339
第7章 击穿功率和击穿电压的测量 341
7.01 影响击穿的因素 341
7.02 测量方法 342
7.03 击穿的检测 345
7.05 极限，误差和精确度 346
7.04 电离情况对击穿功率的影响 346
7.06 在60赫的击穿测试 350
第8章 传播常数的测量 352
8.01 绪论 352
8.02 由衰减测量确定衰减常数 355
8.03 由电压驻波比的测量确定衰减常数 357
8.04 由驻波图案导出衰减常数 360
8.05 用可变短路线测量衰减常数（在开缝线段和待测传输线之间存在不连续性） 363
8.06 用有耗短路线测量衰减常数（应用于低衰减值的测量） 367
8.07 相位常数的测量——开缝线段法 371
8.08 相位常数的测量——可变短路法 372
8.09 两种不同的导波波长的精密比较 373
第9章 频谱分析 377
9.01 频谱分析和雷达工作的关系 377
9.02 射频脉冲中的频率分布 378
9.03 典型的频谱分析器 381
9.04 频谱测量 389
9.05 低频频谱分析器 396
9.06 谐波和全景频谱分析器 398
9.07 回波谐振腔 401
第10章 介电常数的测量 404
10.01 复数的介电常数 405
10.02 介电常数的有关量 406
10.03 波导中的介质试样视为四端结构 407
10.04 介质测量技术对非均匀、非各向同性材料的应用 410
10.05 波导或同轴线中进行试验的介质试样的制备 411
10.06 含有解超越方程的介电常数两点测量法 411
10.07 含有两个电抗终端器的介电常数测量 418
10.08 高损耗材料介电常数的测量 422
10.09 介电常数不依赖于试样安放位置的测量 425
10.10 复数介电常数不依赖于试样长度的测量 427
10.11 无耗介电常数不依赖于试样安放位置的测量 428
10.12 无耗介电常数不依赖于试样长度的测量 430
10.13 由“距离不变量”表示法推导介电常数 431
附录Ⅰ 介质试样和波导之间空隙的修正 434
附录Ⅱ 测量设备中的耗散对测得的数据的修正 435
附录Ⅲ 复数超越方程的近似解 443
附录Ⅳ 平均法 444
第11章 射频泄漏的测量 447
11.01 绪论 447
11.02 屏蔽室屏蔽效率的测量 447
11.03 电缆的泄漏参量的测量 452
第12章 混合接头 466
12.01 混合接头的某些例子 466
12.02 待测量的定义 469
12.03 输入电压驻波比的测量 471
12.04 隔离的测量 473
12.05 耦合系数的测量 479
12.06 电压驻波比的测量——不平衡电桥法 482
12.07 功率比较——用混合接头 486
12.08 TBX-1BR阻抗电桥 488
12.09 803A型甚高频阻抗电桥 491
12.10 IM-96/U驻波指示器 492
12.11 1602-A型特高频导纳电桥 494
第13章 定向耦合器特性的测量 497
13.01 定向耦合器的元件 497
13.02 双定向耦合器 498
13.03 待测量的定义 498
13.04 主线电压驻波比的测量 499
13.05 辅线电压驻波比的测量 503
13.06 耦合度的测量 505
13.07 主线介入损失的测量 507
13.08 方向性的测量 509
13.09 方向性结果的一般意义 535
13.10 各种测量方向性方法的比较 539
第14章 噪声的发生 540
14.01 噪声的一般分类 540
14.02 噪声的类型和噪声的发生 541
14.03 噪声发生器 552
14.04 噪声指数测量 567
14.05 噪声测量仪器 570
第15章 半导体二极管特性的测量 579
15.01 变频损耗的测量 579
15.02 噪声温度、噪声指数、噪声比的测量 595
15.03 Y因数的测量 600
15.04 仿真半导体二极管的结构 602
15.05 半导体二极管灵敏度的测量 604
15.06 射频阻抗的测量 609
15.07 中频阻抗的测量 612
15.08 平衡半导体二极管 618
15.09 使用和贮藏半导体二极管的注意事项；错误的测试 621
15.10 半导体二极管的机械和电结实性 622
15.11 半导体二极管和发射机的关系 622
15.12 半导体二极管烧毁的原因 624
15.13 半导体二极管烧毁的理论 625
15.14 半导体二极管烧毁测试 627
第16章 接收机特性的测量 635
16.01 噪声指数 636
16.02 用各种发生器测量噪声指数 637
16.03 用不同的检波器测量噪声指数 642
16.04 单级噪声指数的测量 648
16.05 射频响应曲线的测量 649
16.06 射频增益或传输损耗；镜频和中频抑制 653
16.07 射频增益的测量——高阻抗变频器 653
16.08 射频增益的测量——低阻抗变频器 656
16.09 作射频测量的一般注意事项 659
16.10 统调的测量 661
16.11 加热漂移的测量 661
16.12 重复频率漂移的测量 662
16.13 自动频率控制调谐系数的测量 662
16.14 本地振荡器辐射的测量 663
16.15 变频增益的测量 664
16.16 振荡器注入的测量 665
16.17 中频响应曲线的测量 667
16.18 中频增益的测量 669
16.19 对于脉冲调制的中频响应 671
16.20 中频脉冲响应的测量 672
16.21 自动增益控制特性的测量（中频） 674
16.22 栅地-阴地级联放大器中和的测量 675
16.23 检波器效率和线性的测量 675
16.24 等值加载的测量 677
16.25 鉴频器响应曲线的测量 678
16.26 自动增益控制特性（第二检波器）的测量 679
16.27 自动频率控制特性的测量 684
16.28 视频响应曲线的测量 687
16.29 视频增益的测量 689
16.31 直流恢复电路特性 690
16.30 视频脉冲响应的测量 690
16.32 超再生式接收机测量 692
16.33 半导体二极管-视频接收机测量 694
第17章 调速管特性的测量 696
17.01 反射式调速管的工作 696
17.02 在谐振腔间隙中的场引起的电子注的速度调制 697
17.03 在反射极区域的聚束 697
17.04 振荡的模式 698
17.05 谐振腔对波导的耦合 699
17.06 反射式调速管模式的测量 700
17.07 效率的测量 705
17.08 频率牵引的测量 705
第18章 磁控管特性的测量 709
18.01 磁控管效率 709
18.02 磁控管效率的测量 709
18.03 磁控管的稳定性 715
18.04 磁控管熄火数的测量 717
18.05 磁控管的频率牵引 724
18.06 频率牵引的测量 725
第19章 双工管特性的测量 732
19.01 双工管的功用 732
19.02 双工管的一般性质 733
19.03 泄漏能量 735
19.04 收发管和前置收发管中总泄漏功率的测量 736
19.05 尖峰能量的测量 740
19.06 平顶功率的计算 744
19.07 直接耦合功率和衰减 744
19.08 电弧泄漏功率 747
19.09 谐波泄漏 747
19.10 电弧的损耗 748
19.11 收发管和前置收发管恢复时间的测量 751
19.12 反收发管恢复时间的测量 754
第20章 天线测量 757
20.01 天线特性的定义 757
20.02 设备要求 758
20.03 辐射图案的测量 760
20.04 输入阻抗的测量 767
20.05 偏振的测量 768
20.06 增益的测量 770
附录 773
A．史密斯图的应用 773
B．雷基图的应用 781
C．传输线图的应用 784
D．阻抗匹配技术及其限制 812
索引 827