微波测量方法PDF电子书下载

目录 1

原序 1

译者序 1

绪论 1

0.01　电磁波-水波的类似 2

0.02　无限空间中的电磁波 7

0.03　有限空间中的电磁波 10

0.04　微波测量有关的基本量 12

第1章　频率和波长的测量 25

1.01　频率和波长之间的关系 25

1.02　频率和波长测量中的一般考虑 26

1.03　用开缝线段测量波长 28

1.04　用L-C调谐电路频率计测量频率 36

1.05　用谐振腔频率计测量频率 39

1.06　用外差式频率计测量频率 49

1.07　用频率标准测量频率 55

1.08　谐振腔频率计的调整和校准 67

第2章　驻波比的测量 78

2.01　传输线上驻波的实例 78

2.02　一般的开缝线段技术 80

2.03　电压驻波比最小值位置的确定 88

2.04　高电压驻波比的测量 90

2.05　一些误差的根源 92

2.06　开缝线段的精密校准 94

2.07　电压驻波比的精密测量（开缝线段法） 97

2.08　电压驻波比的精密测量（谐振腔法） 100

2.09　电缆至电缆的电压驻波比 105

2.10　电缆至硬线的电压驻波比 105

3.01　定义 119

第3章　衰减的测量 119

3.02　测量衰减可用的一些方法 120

3.03　测辐射热计-伏特表法的设备要求 122

3.04　用测辐射热计-伏特表法测量衰减 129

3.05　射频替代法测量衰减 141

3.06　用中频替代法测量衰减 158

3.07　用音频替代法测量衰减 164

第4章　功率的测量 168

4.01　微波功率和功率测量的性质 168

4.02　低功率测量中的一般考虑 174

4.03　低功率测量的基本电桥电路方法 184

4.04　用于低功率测量的改进电桥电路 187

4.05　低功率测量的一般步骤 201

4.06　低功率技术推广至测量中、高功率电平 204

4.07　用量热器技术直接测量中和高功率电平 211

4.08　高功率测量的专用设备 216

4.09　可用的商品功率测量设备 218

4.10　器件的功率容量的测量（烧毁测试） 220

4.11　在脉冲功率条件下使用测辐射热计的特殊考虑 223

第5章　Q值的测量 230

5.01　Q值的定义 230

5.02　谐振电路的型式 232

5.03　基本测量技术 233

5.04　测量时的注意事项 238

5.05　半功率点（带宽）法测量Q值 239

5.06　开缝线段法测量Q值 251

5.07　Q值的衰减时间测量法 257

5.08　Q值测量的拐点法 259

第6章　阻抗的测量和其他等值表示法 261

6.01　两端（终端）结构的表示法 262

6.02　测量方法——两端结构 263

6.03　四端网络的表示法 270

6.04　各种表示法的效用 277

6.05　三点法 279

6.06　阻抗测量的半精密方法 285

6.07　半精密方法——耗散（有耗）的网络 295

6.08　测量的精密方法以及有关的表示法 312

6.09　多端网络 332

附录　用三个任意的输入输出测量来确定四端结构的等值电路参量 339

第7章　击穿功率和击穿电压的测量 341

7.01　影响击穿的因素 341

7.02　测量方法 342

7.03　击穿的检测 345

7.05　极限，误差和精确度 346

7.04　电离情况对击穿功率的影响 346

7.06　在60赫的击穿测试 350

第8章　传播常数的测量 352

8.01　绪论 352

8.02　由衰减测量确定衰减常数 355

8.03　由电压驻波比的测量确定衰减常数 357

8.04　由驻波图案导出衰减常数 360

8.05　用可变短路线测量衰减常数（在开缝线段和待测传输线之间存在不连续性） 363

8.06　用有耗短路线测量衰减常数（应用于低衰减值的测量） 367

8.07　相位常数的测量——开缝线段法 371

8.08　相位常数的测量——可变短路法 372

8.09　两种不同的导波波长的精密比较 373

第9章　频谱分析 377

9.01　频谱分析和雷达工作的关系 377

9.02　射频脉冲中的频率分布 378

9.03　典型的频谱分析器 381

9.04　频谱测量 389

9.05　低频频谱分析器 396

9.06　谐波和全景频谱分析器 398

9.07　回波谐振腔 401

第10章　介电常数的测量 404

10.01　复数的介电常数 405

10.02　介电常数的有关量 406

10.03　波导中的介质试样视为四端结构 407

10.04　介质测量技术对非均匀、非各向同性材料的应用 410

10.05　波导或同轴线中进行试验的介质试样的制备 411

10.06　含有解超越方程的介电常数两点测量法 411

10.07　含有两个电抗终端器的介电常数测量 418

10.08　高损耗材料介电常数的测量 422

10.09　介电常数不依赖于试样安放位置的测量 425

10.10　复数介电常数不依赖于试样长度的测量 427

10.11　无耗介电常数不依赖于试样安放位置的测量 428

10.12　无耗介电常数不依赖于试样长度的测量 430

10.13　由“距离不变量”表示法推导介电常数 431

附录Ⅰ 介质试样和波导之间空隙的修正 434

附录Ⅱ 测量设备中的耗散对测得的数据的修正 435

附录Ⅲ　复数超越方程的近似解 443

附录Ⅳ　平均法 444

第11章　射频泄漏的测量 447

11.01　绪论 447

11.02　屏蔽室屏蔽效率的测量 447

11.03　电缆的泄漏参量的测量 452

第12章　混合接头 466

12.01　混合接头的某些例子 466

12.02　待测量的定义 469

12.03　输入电压驻波比的测量 471

12.04　隔离的测量 473

12.05　耦合系数的测量 479

12.06　电压驻波比的测量——不平衡电桥法 482

12.07　功率比较——用混合接头 486

12.08　TBX-1BR阻抗电桥 488

12.09　803A型甚高频阻抗电桥 491

12.10　IM-96/U驻波指示器 492

12.11　1602-A型特高频导纳电桥 494

第13章　定向耦合器特性的测量 497

13.01　定向耦合器的元件 497

13.02　双定向耦合器 498

13.03　待测量的定义 498

13.04　主线电压驻波比的测量 499

13.05　辅线电压驻波比的测量 503

13.06　耦合度的测量 505

13.07　主线介入损失的测量 507

13.08　方向性的测量 509

13.09　方向性结果的一般意义 535

13.10　各种测量方向性方法的比较 539

第14章　噪声的发生 540

14.01　噪声的一般分类 540

14.02　噪声的类型和噪声的发生 541

14.03　噪声发生器 552

14.04　噪声指数测量 567

14.05　噪声测量仪器 570

第15章　半导体二极管特性的测量 579

15.01　变频损耗的测量 579

15.02　噪声温度、噪声指数、噪声比的测量 595

15.03　Y因数的测量 600

15.04　仿真半导体二极管的结构 602

15.05　半导体二极管灵敏度的测量 604

15.06　射频阻抗的测量 609

15.07　中频阻抗的测量 612

15.08　平衡半导体二极管 618

15.09　使用和贮藏半导体二极管的注意事项；错误的测试 621

15.10　半导体二极管的机械和电结实性 622

15.11　半导体二极管和发射机的关系 622

15.12　半导体二极管烧毁的原因 624

15.13　半导体二极管烧毁的理论 625

15.14　半导体二极管烧毁测试 627

第16章　接收机特性的测量 635

16.01　噪声指数 636

16.02　用各种发生器测量噪声指数 637

16.03　用不同的检波器测量噪声指数 642

16.04　单级噪声指数的测量 648

16.05　射频响应曲线的测量 649

16.06　射频增益或传输损耗；镜频和中频抑制 653

16.07　射频增益的测量——高阻抗变频器 653

16.08　射频增益的测量——低阻抗变频器 656

16.09　作射频测量的一般注意事项 659

16.10　统调的测量 661

16.11　加热漂移的测量 661

16.12　重复频率漂移的测量 662

16.13　自动频率控制调谐系数的测量 662

16.14　本地振荡器辐射的测量 663

16.15　变频增益的测量 664

16.16　振荡器注入的测量 665

16.17　中频响应曲线的测量 667

16.18　中频增益的测量 669

16.19　对于脉冲调制的中频响应 671

16.20　中频脉冲响应的测量 672

16.21　自动增益控制特性的测量（中频） 674

16.22　栅地-阴地级联放大器中和的测量 675

16.23　检波器效率和线性的测量 675

16.24　等值加载的测量 677

16.25　鉴频器响应曲线的测量 678

16.26　自动增益控制特性（第二检波器）的测量 679

16.27　自动频率控制特性的测量 684

16.28　视频响应曲线的测量 687

16.29　视频增益的测量 689

16.31　直流恢复电路特性 690

16.30　视频脉冲响应的测量 690

16.32　超再生式接收机测量 692

16.33　半导体二极管-视频接收机测量 694

第17章　调速管特性的测量 696

17.01　反射式调速管的工作 696

17.02　在谐振腔间隙中的场引起的电子注的速度调制 697

17.03　在反射极区域的聚束 697

17.04　振荡的模式 698

17.05　谐振腔对波导的耦合 699

17.06　反射式调速管模式的测量 700

17.07　效率的测量 705

17.08　频率牵引的测量 705

第18章　磁控管特性的测量 709

18.01　磁控管效率 709

18.02　磁控管效率的测量 709

18.03　磁控管的稳定性 715

18.04　磁控管熄火数的测量 717

18.05　磁控管的频率牵引 724

18.06　频率牵引的测量 725

第19章　双工管特性的测量 732

19.01　双工管的功用 732

19.02　双工管的一般性质 733

19.03　泄漏能量 735

19.04　收发管和前置收发管中总泄漏功率的测量 736

19.05　尖峰能量的测量 740

19.06　平顶功率的计算 744

19.07　直接耦合功率和衰减 744

19.08　电弧泄漏功率 747

19.09　谐波泄漏 747

19.10　电弧的损耗 748

19.11　收发管和前置收发管恢复时间的测量 751

19.12　反收发管恢复时间的测量 754

第20章　天线测量 757

20.01　天线特性的定义 757

20.02　设备要求 758

20.03　辐射图案的测量 760

20.04　输入阻抗的测量 767

20.05　偏振的测量 768

20.06　增益的测量 770

附录 773

A．史密斯图的应用 773

B．雷基图的应用 781

C．传输线图的应用 784

D．阻抗匹配技术及其限制 812

索引 827