第一篇 元器件基础知识 1
第1章 电子元器件的基本概念及分类 2
1.1 电子元器件概述 2
1.1.1 狭义的电子元器件 2
1.1.2 通义的电子元器件 2
1.1.3 广义的电子元器件 3
1.2 元器件的主要类别及功能 3
1.2.1 单片集成电路 3
1.2.2 半导体分立器件 4
1.2.3 混合集成电路 4
1.2.4 真空电子器件 5
1.2.5 微波电路及组件 5
1.2.6 通用元件 6
1.2.7 光电子器件 6
1.2.8 机电元件及组件 7
1.2.9 特种元器件 8
1.2.10 电子元器件封装外壳 9
本章参考文献 10
第2章 检验及电子元器件检验 11
2.1 检验的基本概念 11
2.1.1 检验的分类 12
2.1.2 检验的一般步骤和内容 13
2.1.3 检验的作用 14
2.1.4 质量概念的发展与检验 15
2.1.5 可靠性与检验 16
2.2 电子元器件检验概述 17
2.2.1 鉴定检验 17
2.2.2 质量一致性检验 17
2.2.3 筛选检验 18
2.2.4 过程控制检验 18
2.2.5 检验项目 18
本章参考文献 21
第3章 元器件检验的标准体系概述 22
3.1 我国的标准体系 22
3.1.1 标准主分类 23
3.1.2 标准的性质 23
3.1.3 标准基础分类 23
3.1.4 标准层次 24
3.1.5 标准领域 25
3.2 电子元器件标准体系 26
3.2.1 电子元器件国家标准 27
3.2.2 电子元器件行业标准 27
3.2.3 电子元器件军用标准 28
3.3 电子元器件检验标准体系 32
本章参考文献 33
第二篇 元器件测试技术 35
第4章 集成电路测试技术 36
4.1 器件类型及参数 36
4.1.1 器件类型 36
4.1.2 器件参数 37
4.2 对标准的理解 39
4.2.1 集成电路测试方法标准 39
4.2.2 标准的技术内容 39
4.2.3 复杂电路测试标准 40
4.2.4 集成电路测试标准的发展方向 41
4.3 参数的测试方法 42
4.3.1 数字集成电路的参数测试方法 42
4.3.2 模拟集成电路的参数测试方法 48
4.4 工程应用经验 50
4.4.1 ATE测试平台 50
4.4.2 集成电路测试支撑技术 54
4.4.3 集成电路测试案例 59
4.5 测试技术的发展趋势 70
本章参考文献 71
第5章 分立器件测试技术 73
5.1 器件类型及参数 73
5.1.1 二极管 73
5.1.2 晶体管 79
5.1.3 晶闸管 81
5.1.4 场效应管 83
5.2 对标准的理解 88
5.2.1 解读GJB 128A—97 89
5.2.2 解读测试相关标准 90
5.2.3 测试一般注意事项 90
5.3 参数测试方法 91
5.3.1 二极管参数测试方法 91
5.3.2 晶体管参数测试方法 100
5.3.3 晶闸管参数测试方法 108
5.3.4 场效应管参数测试方法 112
5.4 工程应用经验 117
5.5 测试技术的发展趋势 118
本章参考文献 119
第6章 混合集成电路测试技术 121
6.1 器件类型及参数 121
6.1.1 DC/DC变换器 121
6.1.2 EMI电源滤波器 122
6.1.3 I/F、V/F变换器 122
6.1.4 脉宽调制放大器 122
6.2 对标准的理解 123
6.2.1 GJB 2438A—2002《混合集成电路通用规范》 123
6.2.2 GB/T 15138—1994《膜集成电路和混合集成电路外形尺寸》 125
6.2.3 GJB 2440A—2006《混合集成电路外壳通用规范》 125
6.2.4 SJ 20646—97《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》 125
6.3 参数的测试方法 126
6.3.1 DC/DC变换器参数测试方法 126
6.3.2 EMI滤波器参数测试方法 134
6.3.3 V/F、I/F变换器参数测试方法 136
6.3.4 脉宽调制放大器参数测试方法 138
6.4 工程应用经验 140
6.4.1 DC/DC变换器 141
6.4.2 V/F变换器 142
6.5 测试技术的发展趋势 142
本章参考文献 143
第7章 真空电子器件测试技术 144
7.1 真空电子器件的类型及参数 144
7.1.1 真空电子器件的分类 144
7.1.2 行波管 145
7.1.3 速调管 147
7.1.4 微波功率模块（MPM） 147
7.1.5 磁控管 148
7.1.6 正交场放大管 149
7.1.7 光电倍增管 149
7.1.8 天线开关管 150
7.1.9 显像管 150
7.1.10 真空光源 151
7.2 对标准的理解 152
7.3 参数的测试方法 155
7.3.1 通用测试方法 155
7.3.2 微波管主要参数测试方法 161
7.3.3 光电管及光源主要参数测试方法 166
7.4 工程应用经验 176
7.5 测试技术的发展趋势 176
本章参考文献 177
第8章 微波电路及组件测试技术 179
8.1 器件类型及参数 179
8.1.1 微波混合集成电路与组件 179
8.1.2 微波通用元件 182
8.1.3 微波毫米波器件与电路 183
8.1.4 微波毫米波磁性元器件 188
8.2 对标准的理解 189
8.2.1 对SJ 20645—97的理解 190
8.2.2 对GB 1462—92的理解 191
8.2.3 对GJB 1648A—2011的理解 191
8.3 参数测试方法 192
8.3.1 晶体振荡器测试方法 192
8.3.2 微波混频器测试方法 205
8.3.3 微波功率放大器参数测试方法 208
8.4 工程应用经验 215
8.5 测试技术的发展趋势 217
本章参考文献 217
第9章 通用元件测试技术 219
9.1 几种通用元件 219
9.1.1 电阻器 219
9.1.2 电容器 221
9.1.3 电感器和变压器 223
9.2 测试参数定义 223
9.2.1 电阻器 223
9.2.2 电容器 224
9.2.3 电感器和变压器 226
9.3 对标准的理解 227
9.3.1 电阻器 227
9.3.2 电容器 228
9.3.3 电感器和变压器 230
9.4 参数测试方法 231
9.4.1 电阻器 231
9.4.2 电容器 234
9.4.3 电感器和变压器 237
9.5 工程应用经验 239
9.5.1 电阻器 239
9.5.2 电容器 240
9.6 测试技术发展趋势 242
本章参考文献 242
第10章 光电子器件测试技术 243
10.1 器件类型及参数 243
10.1.1 红外光电及焦平面探测器组件 243
10.1.2 发光二极管（LED） 247
10.1.3 光电耦合器 248
10.1.4 激光器 248
10.1.5 微光像增强器 249
10.1.6 光纤光缆 250
10.1.7 图像传感器 250
10.1.8 液晶显示器 251
10.2 对标准的理解 252
10.2.1 红外光电及焦平面组件测试和试验标准讨论 252
10.2.2 平板显示器件测试和试验标准讨论 254
10.2.3 对光电器件标准的理解 254
10.3 参数测试方法 255
10.3.1 红外焦平面阵列探测器件特性参数测试方法 255
10.3.2 液晶显示器特性参数测试方法 264
10.3.3 光发射器件参数的测试方法 265
10.3.4 光敏器件参数的测试方法 269
10.3.5 光电耦合器件参数的测试方法 272
10.4 工程应用经验 277
10.4.1 光电子器件测试工程应用经验 277
10.4.2 红外焦平面阵列测试与评价工程应用经验 279
10.5 光电子器件测试技术发展趋势 282
本章参考文献 282
第11章 机电元件及其组件测试技术 284
11.1 几种机电元件及其组件介绍 284
11.1.1 继电器 284
11.1.2 连接器 285
11.1.3 电线电缆 288
11.2 测试参数定义 290
11.2.1 继电器 290
11.2.2 连接器 291
11.2.3 电线电缆 295
11.3 对标准的理解 299
11.3.1 继电器 299
11.3.2 连接器 299
11.3.3 电线电缆 301
11.4 参数测试方法 303
11.4.1 继电器 303
11.4.2 连接器 305
11.4.3 电线电缆 308
11.5 工程应用经验 315
11.5.1 继电器 315
11.5 2连接器 319
11.5 3电线电缆 327
11.6 机电元件测试技术发展趋势 329
本章参考文献 330
第12章 特种元件测试技术 332
12.1 几种特种元件介绍 332
12.1.1 传感器 332
12.1.2 石英晶体谐振器 334
12.1.3 声表面波器件 335
12.2 主要电性能参数 336
12.2.1 传感器 336
12.2.2 石英晶体谐振器 338
12.2.3 声表面波器件 339
12.3 对标准的理解 342
12.3.1 传感器 342
12.3.2 石英晶体谐振器 343
12.3.3 声表面波器件 344
12.4 参数测试方法 344
12.4.1 传感器 344
12.4.2 石英晶体谐振器 348
12.4.3 声表面波器件 349
12.5 工程应用经验 350
12.5.1 传感器 350
12.5.2 石英晶体谐振器 351
12.5.3 声表面波器件 351
12.6 测试技术发展趋势 351
本章参考文献 352
第13章 外壳与电子功能材料测试技术 353
13.1 外壳等电子功能材料介绍 353
13.1.1 外壳 353
13.1.2 电子功能材料 357
13.2 测试参数定义 357
13.2.1 外壳测试参数 357
13.2.2 半导体材料 358
13.2.3 磁性材料参数 359
13.2.4 结构陶瓷材料参数 359
13.3 对标准的理解 360
13.3.1 外壳 360
13.3.2 半导体材料 362
13.3.3 磁性材料 363
13.3.4 结构陶瓷材料 363
13.4 参数测试方法 363
13.4.1 外壳测试方法 363
13.4.2 半导体材料测试方法 366
13.4.3 磁性材料测试方法 372
13.4.4 结构陶瓷材料测试方法 374
13.5 工程应用经验 376
13.6 测试技术的发展趋势 376
13.7 前沿的新型功能材料 378
本章参考文献 382