《半导体器件的可靠性 第2集》PDF下载

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  • 作  者:中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
  • 出 版 社:北京:科学技术文献出版社;重庆分社
  • 出版年份:1976
  • ISBN:
  • 页数:68 页
图书介绍:

第二部分 单块微电路的构造 1

第四部分 线性单块微电路 1

第三部分 数字单块微电路 1

目录 1

第一部分 导论 1

单块微电路的应用 1

单块微电路的失效机构 58

第一部分 导论 58

第二部分 单块微电路制造过程中产生的缺陷 58

第三部分 失效机构的讨论 58

第四部分 筛选方法 58

第五部分 纠正措施 58