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半导体器件的可靠性第2集

半导体器件的可靠性第2集

半导体器件的可靠性第2集PDF电子书下载

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作者：中国科学技术情报研究所重庆分所编辑
出版社：北京：科学技术文献出版社；重庆分社
出版年份：1976
ISBN：
页数：68 页

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《半导体器件的可靠性第2集》目录

标签：分所半导体可靠性科学技术器件

第二部分单块微电路的构造 1

第四部分线性单块微电路 1

第三部分数字单块微电路 1

目录 1

第一部分导论 1

单块微电路的应用 1

单块微电路的失效机构 58

第一部分导论 58

第二部分单块微电路制造过程中产生的缺陷 58

第三部分失效机构的讨论 58

第四部分筛选方法 58

第五部分纠正措施 58

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