目录 1
序 1
前言 1
1 实验基础知识 1
1.1 概述 1
1.2 常用半导体电子元器件的识别与简单测试 3
1.3 常用电子仪器及其测量技术的简单介绍 10
1.4 测量误差及数据处理 22
1.5 电子电路的安装与调试 25
2.1 TTL集成逻辑门参数的测试实验 29
2 逻辑门应用实验 29
2.2 集电极开路门电路及三态门电路的研究实验 35
2.3 CMOS传输门应用实验 41
3 组合电路应用实验 47
3.1 用小规模集成电路进行组合逻辑电路设计实验 47
3.2 字符编码显示电路实验 52
3.3 编码器和译码器实验 57
3.4 数据选择器应用实验 62
3.5 数据选择器和数据分配器应用实验 66
3.6 组合逻辑电路冒险现象遇见的研究实验 71
4 时序电路应用实验 75
4.1 触发器基本功能测试实验 75
4.2 同步时序电路逻辑设计实验 81
4.3 变速时钟发生器实验 86
4.4 任意进制分频器实验 90
4.5 集成移位寄存器应用实验 97
5 脉冲信号产生与整形实验 100
5.1 基本门电路产生脉冲信号实验 100
5.2 集成单稳触发器应用实验 104
5.3 集成施密特触发器应用实验 109
5.4 555定时器典型应用实验 114
5.5 555定时器兴趣实验 119
6 数模转换和模数转换实验 123
6.1 D/A转换实验 123
6.2 数据采集原理（A/D）实验 129
6.3 数模转换器应用实验 133
7 综合实验 140
7.1 报时式数字时钟制作实验 140
7.2 按键扫描编码显示电路实验 145
7.3 数字式电容测试仪制作实验 148
7.4 生理刺激反应时间测试仪制作实验 154
附录1 常用逻辑器件索引表 158
附录2 部分集成逻辑器件型号对照表 160
附录3 部分集成器件管脚与功能 164
附录4 部分CMOS集成器件管脚与功能 181
参考文献 185