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    VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试,本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础,介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分...

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    夏宇闻编著2001 年出版292 页ISBN:7040092522

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