数据域测试及仪器 数字系统的故障诊断及可测性设计 第3版PDF电子书下载

绪论 1

一、测试技术的新领域 1

二、数据域测试的基本方法 2

三、计算机辅助测试 3

四、可测性和内测试 4

五、数据域测试仪器 5

第一章　数据域测试的基本概念 7

第一节　数字系统的测试 7

一、数字系统测试的必要性和复杂性 7

二、故障模型与测试 9

三、故障冗余 12

四、完备测试集与故障等价 13

五、测试矢量的产生 14

六、测试响应的观测 15

七、复杂系统的分级测试 15

第二节　穷举测试法 16

一、单输出无扇出电路 16

二、带汇聚扇出的单输出电路 19

三、各输出不依赖于全部输入的多输出电路 22

第三节　故障表方法 23

一、固定式列表计划侦查 23

二、固定计划定位 24

三、适应性计划侦查和定位 27

习题 33

第二章　组合逻辑电路的测试 35

第一节　通路敏化 35

一、敏化通路 35

二、通路敏化法 36

三、关于一维敏化的讨论 38

四、多维敏化 40

第二节　d算法 41

一、d算法的基础知识 41

二、d算法的基本步骤 43

三、d算法举例 44

四、扩展d算法 49

五、关于多故障的讨论 54

第三节　临界通路法 55

第四节　布尔差分法 56

一、布尔差分的基本概念 56

二、布尔差分的特性 56

三、求布尔差分的方法 57

四、单故障的测试 58

五、多重故障的测试 64

六、主路径敏化法 66

第五节　故障字典 68

习题 69

第三章　时序逻辑电路的测试 73

第一节　迭接电路法 73

一、基本思想 73

二、同步时序电路的组合迭接 74

三、异步时序电路的组合迭接 76

第二节　时序故障表法 79

一、故障侦查 79

二、故障定位 86

第三节　状态变迁检查法 87

一、初始状态的设置 88

二、状态的识别 91

三、故障的测试 92

四、区分序列的存在性 93

第四节　时延测试 95

一、DPmax的测试 96

二、电路-时间方程 97

习题 100

第一节　存储器的测试 105

一、RAM中的故障类型 105

第四章　微机系统的测试 105

二、测试的若干原则性考虑 106

三、存储器测试方法 107

四、方法的比较 113

第二节　微处理器的测试 115

一、μP的算法产生测试 115

二、μP功能性测试的一般方法 117

三、μP功能性测试的系统图方法 122

第三节　利用被测系统的应用程序进行测试 124

一、基本概念 125

二、应用程序的模型化 125

三、关系图 126

四、测试的组织 129

五、通路测试的算法 131

第四节　利用总线观察进行测试 134

习题 135

第五章　数字系统的计算机辅助测试 136

第一节　计算机辅助测试的基本概念 136

一、概述 136

二、CAT的结构模型 136

三、测试算法 137

四、逻辑和功能描述 138

一、DALG-Ⅱ程序 139

第二节　d算法程序 139

六、输出 139

五、数据库 139

二、实用中的具体问题 142

第三节　扩展d算法程序 143

一、系统结构 143

二、SXMS测试码自动生成系统 144

三、SXMDIAG故障测试系统 148

第四节　PODEM算法 150

一、基本概念 152

第五节　微处理器测试产生程序 152

二、RTL语言简介 153

三、测试码的生成 154

第六节　故障模拟 158

一、基本概念 158

二、故障模拟方法 159

三、并行模拟 159

四、演绎模拟 161

五、同时故障模拟 163

习题 164

第六章　可测性设计 165

一、基本定义 166

第一节　可测性的测度 166

二、标准单元的可测性分析 167

三、可控性和可观测性的计算 170

第二节　可测性设计方法 171

一、可测性的改善设计 171

二、结构可测性设计 173

三、其他可测试性设计方法简介 177

第三节　组合电路的异或门串联结构 179

一、Reed-Muller展开式 179

二、异或门串联电路结构测试分析 181

第四节　内测试设计 182

一、多位线性反馈移位寄存器 183

二、伪随机数发生器 185

三、特征分析器 186

四、内测试电路设计 188

第五节　边缘扫描技术 191

一、JTAG边缘扫描可测性设计的结构 191

二、工作方式 193

三、边缘扫描单元的级连 195

四、JTAG应用举例 195

五、JTAG的特点 197

习题 197

一、数字信号发生器的作用 199

第一节　数字信号发生器 199

第七章　数据域测试仪器 199

二、数字信号发生器的结构 200

三、数据的产生 201

四、数据流的特征 201

五、数字信号发生器的主要技术指标 205

第二节　特征分析仪 209

一、特征分析仪的基本原理 209

二、特征分析仪的故障侦出率 210

三、特征分析仪的基本结构 213

四、特征分析仪的工作 213

五、“特征”设计 219

一、逻辑分析仪的特点及其主要技术指标 221

第三节　逻辑分析仪 221

二、逻辑分析仪的基本结构 224

三、数据捕获 224

四、数据显示 233

五、应用 238

第四节　GP-IB母线分析仪 248

一、概述 248

二、母线分析仪的作用和功能 249

三、HP-59401A母线分析仪的内部组织 251

四、国产母线分析仪举例 253

一、规约分析仪的原理 256

第五节　规约分析仪 256

二、规约分析仪的基本结构 257

三、规约分析仪的技术指标 258

四、规约分析仪的应用与分类 259

第六节　数字传输测试 260

一、数字传输测试的基本概念 260

二、数据通信传输测试 265

三、PDH传输测试及仪器 267

四、SDH传输测试 269

第七节　数字通信测试 274

一、数字通信测试的基本概念 274

二、矢量信号发生器 275

三、矢量信号分析仪 280

第八节　开发系统 282

一、概述 282

二、开发系统的基本结构 283

三、仿真器 284

四、简易开发系统 293

五、通用开发系统 294

六、HP64000逻辑开发系统简介 299

习题 301

参考文献 302