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引言 1

目录 1

参考文献 3

第一章 本征变量 4

第一节 不稳定核的辐射类型和衰变纲图 4

一、γ辐射和内转换 5

二、同质异能跃迁 6

三、级联γ射线的角关联 8

四、特征X射线激发 9

五、β跃迁（EC、β+和β-） 11

第二节 射线与物质的相互作用过程 13

二、康普顿散射 17

一、光电效应 17

三、电子偶生成 20

四、轫致辐射 22

第三节 γ射线探测器 25

参考文献 26

第二章 闪烁探测器 28

第一节 闪烁原理 28

一、能带模型 28

二、发光条件 29

三、发光材料 30

四、闪烁机理 30

五、闪烁体分类 31

一、反射体和盒 33

第二节 闪烁的探测 33

二、光学耦合和光导 35

三、光电倍加管 36

1．光阴极 36

2．打拿极和阳极 38

3．磁屏蔽 40

4．光电倍加管的暗噪声 41

5．光电倍加管的增益漂移效应 42

第三节 NaI(T1)晶体 43

一、物理性质 43

6．光电倍加管的装接方法 43

二、制备 48

三、表面效应 48

四、机械加工 49

五、封装技术 52

参考文献 57

第三章 半导体γ射线探测器 59

第一节 一般考虑 59

一、半导体性质 60

1．本征半导体 60

2．非本征半导体 61

二、探测器条件 63

三、结型探测器 64

第一节 碘化钠探测器的计算效率 1 66

四、γ探测器 66

第二节 锂离子漂移过程和锗－锂系统 68

一、锂离子漂移 68

二、离子成对 69

二、全能峰效率的实验测定 1 71

三、锂沉积 71

第三节 锂漂移探测器的制备 72

一、关于材料的考虑 72

二、锂漂移锗探测器的制备 73

2．锂离子漂移 74

1．锂扩散 74

1．碘逃逸峰 1 74

3．净化漂移 76

4．制造过程中探测器的检查 76

三、探测器的装配和表面灵敏度 77

四、温度灵敏度和补偿精确度 79

1．同轴型Ge(Li)探测器 80

五、探测器结构 80

2．其它结构 81

六、关于低温恒温器的考虑 82

第四节 Ge（Li）探测器的特性 84

一、工作温度 84

三、线性 85

二、锗探测器中的辐射损伤 85

四、探测效率 85

第五节 其它半导体γ探测器 87

第六节 锂漂移硅探测器 88

参考文献 88

第一节 正比气体计数器 91

第四章 用作低能谱仪的正比计数器 91

第二节 具有内放大的半导体探测器 96

参考文献 96

第五章 仪器 97

第一节 放大装置 97

一、前置放大器 98

二、脉冲成形 99

三、低噪声前置放大器的设计 102

1．电子管前置放大器 102

2．场效应晶体管前置放大器 103

四、其它脉冲成形网络 103

五、用于高分辨率能谱测量的线性放大器 109

六、基线恢复 110

一、模拟－数字转换器 111

第二节 分析装置 111

二、数据存储 112

四、死时间校正 114

三、分析器特性 114

五、线性 115

六、稳定性 117

七、其它放大器条件 118

八、切割放大器 120

九、高压电源 121

第三节 特殊谱仪装置 122

一、全吸收谱仪和反符合装置 122

二、康普顿谱仪 126

三、电子偶谱仪 128

四、符合能谱测量 131

第四节 探测器屏蔽的设计和探测器本底来源的分析 137

参考文献 140

第六章 能量分辨和时间分辨 144

第一节 闪烁谱仪的统计学 145

一、脉冲幅度分辨率 145

1．统计学 145

2．实验 147

1．光脉冲 151

二、时间分辨率和脉冲形状 151

2．单电子谱 152

3．阳极脉冲对脉冲幅度分辨率的影响 152

第二节 Ge(Li)探测器的能量分辨率 153

一、探测器噪声 154

二、载流子数目的统计分散 155

三、锗探测器的脉冲形状和时间分辨率的基本限制 157

第三节 正比气体计数器的能量分辨率 161

参考文献 162

第七章 探测器的刻度 165

第二节 碘化钠探测器实验效率的刻度 170

一、用克莱因－仁科的康普顿散射微分截面测量全能峰效率 170

三、从绝对蜕变率测得的实验全能峰效率 172

四、测量全能峰效率中的特殊效应 174

2．复杂衰变纲图对全能峰刻度的影响 175

第三节 锗探测器的刻度 177

参考文献 180

第二节 种类的测定和能量刻度 182

第一节 源的制备 182

第八章 放射性核素的种类、纯度及其数量的γ能谱测定 182

第三节 纯度检查和使γ射线谱复杂化的效应 186

第四节 峰面积的确定 188

第五节 定性探测和定量测定的极限 189

第六节 数据处理 191

一、闪烁能谱的分解 191

二、Ge(Li)能谱的分析 197

参考文献 199

第九章 具体应用 201

第一节 示踪剂应用 202

一、方法研究 203

二、同位素稀释分析 204

三、放射性试剂法 207

第二节 活化分析 209

一、一般考虑 209

二、中子源和截面 210

1．同位素中子源 210

2．核反应堆 211

3．中子发生器 216

四、带电粒子活化 218

三、光子活化 218

五、放射性核素的生成 219

六、活化分析概要 224

1．绝对法 224

2．比较法 225

3．单一比较法 225

七、非破坏性活化分析 226

八、放射化学分离 227

九、灵敏度 232

十、精确度和准确度 234

十一、应用 238

第三节 裂变产物研究 242

第四节 全身计数器、扫描器和闪烁照像机 246

第五节 非色散X射线能谱测量法 249

参考文献 252

附录ⅠX射线的特征吸收能量及特征发射能量（以千电子伏为单位） 257

附录Ⅱγ射线能谱图汇编（碘化钠探测器） 262

附录Ⅲγ射线能谱图汇编（锗探测器） 405

附录Ⅳ正圆柱形碘化钠晶体的本征效率 581

附录Ⅴ内转换系数 602

附录Ⅵ核素的光子能量、原子序数和半衰期序列表 604

附录Ⅶ由中子轰击所产生的同位素的精确γ射线能量汇编 653