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氧化物与化合物半导体基础
氧化物与化合物半导体基础

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工业技术

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  • 作 者:徐毓龙著
  • 出 版 社:西安:西安电子科技大学出版社
  • 出版年份:1991
  • ISBN:7560601529
  • 页数:396 页
图书介绍:
《氧化物与化合物半导体基础》目录

目录 1

第一篇 金属氧化物半导体基础 4

第一章 金属氧化物的晶体结构和能带结构 4

1-1金属氧化物的晶体结构 4

1-1-1一些预备知识 4

1-1-2MO型金属氧化物的典型晶体结构 15

1-1-3MO2型金属氧化物的典型晶体结构 21

1-1-4AB2O4型复合金属氧化物的晶体结构 23

1-1-5M2O3型金属氧化物的晶体结构 25

1-1-6ABO3型复合金属氧化物的晶体结构 26

1-1-7ReO3型金属氧化物的晶体结构 28

1-2金属氧化物的能带 29

1-2-1引言 29

1-2-2八面体间隙中的d电子 31

1-2-3过渡金属氧化物的能带难题 34

1-2-4金属氧化物晶体的能带结构 36

1-2-5实际金属氧化物的能带结构 41

主要参考文献 42

第二章 金属氧化物的点缺陷理论基础 44

2-1金属氧化物晶体中的点缺陷 44

2-1-1克勒格尔—温克点缺陷符号 45

2-1-2固有原子缺陷 45

2-1-3金属氧化物中的杂质 48

2-1-4原子点缺陷的施主或受主作用及它们的能级位置 49

2-1-5金属氧化物晶体中的电子点缺陷 51

2-2-1质量作用定律 52

2-2金属氧化物晶体的点缺陷理论基础 52

2-2-2描写点缺陷形成及转化过程的准化学反应式 54

2-2-3质量作用定律的简单应用——MO型晶体和环境气氛间的平衡 55

2-2-4只有金属子晶格中含有费伦克尔缺陷的MO型金属氧化物的平衡缺陷浓度 59

2-2-5解点缺陷浓度联立方程组的布劳威尔(Brouwer)方法 61

2-3固态点缺陷理论小结 71

主要参考文献 74

3-1-1费伦克尔缺陷全部电离时MO型金属氧化物的K—V图 76

第三章 金属氧化物晶体中各种典型点缺陷结构的K—V图 76

3-1纯金属氧化物MO的K—V图 76

3-1-2肖脱基缺陷全部电离时MO型金属氧化物的K—V图 79

3-1-3肖脱基缺陷部分电离时MO型金属氧化物的K—V图 83

3-1-4只有反结构缺陷的MO型金属氧化物的K—V图 88

3-1-5含有肖脱基和反结构缺陷的MO型金属氧化物的K—V图 91

3-2含有杂质的MO型金属氧化物的K—V图 96

3-2-1只有一种杂质的MO型金属氧化物的K—V图 97

3-2-2含有两种类裂杂质的MO型金属氧化物的K—V图 108

3-3低温K—V图 113

3-3-1只有氧空位的MO型晶体的低温载流子浓度 114

3-3-2金属子晶格有费伦克尔缺陷的MO型蕊体的低温K—V图 115

3-4一个实际氧化物半导体材料的K—V图 119

3-5点缺陷平衡浓度和温度的关系 128

主要参考文献 133

第四章 非化学计量金属氧化物和点缺陷 134

4-1非化学计量金属氧化物和原子点缺陷 135

4-2非化学计量金属氧化物MO1+δ的δ与气氛分压的关系 137

4-3复合缺陷和非化学计量金属氧化物 140

4-4非化学计量金属氧化物实例 144

4-4-1岩盐矿结构的MO型金属氧化物 145

4-4-2金红石结构的MO2型金属氧化物 146

4-4-3ReO3型结构的金属氧化物 147

4-4-4钙钛矿型结构和类钙钛矿型结构的金属氧化物 148

4-5点欲陷有序化和结构相变 159

主要参考文献 160

第五章 典型金属氧化物的缺陷结构和输运性质 162

5-1金属氧化物材料中的输运现象 162

5-1-1金属氧化物中的电子输运现象 162

5-1-2金属氧化物中的离子输运现象 167

5-1-3由输运现象得到缺陷结构的有用信息 172

5-2氧化镁(MgO)及其固溶体 175

5-2-1氧化镁 175

5-2-2固溶体Co1-xMgxO 191

5-3氧化镍(NiO)的输运性质和缺陷结构 194

5-3-1一般性质和输运机制 194

5-3-2点缺陷结构和高温电导 198

5-3-3杂质的影响 201

5-4氧化铁的电性质与缺陷结构 205

5-4-1相图和晶体结构 205

5-4-2输运性质和缺陷结构 208

5-5二氧化钛(TiO2)和二氧化锡(SnO2)的电性质和缺陷结构 212

5-5-1能带结构 214

5-5-2电子输运性质 215

5-5-3缺陷结构 219

5-5-4作为气敏材料的SnO2 221

5-6高电导金属氧化物ReO3和RuO2 225

5-6-1三氧化铼ReO3 225

5-6-2二氧化钌RuO2 227

5-7α-Al2O3 234

5-8钛酸钡(BaTiO3)和钛酸锶(SrTiO3) 242

5-8-1电导和固有原子缺陷 243

5-8-2杂质的影响 248

5-8-3BaTiO3陶瓷的PTC效应 255

5-9铁酸镧(LaFeO3)及其固溶体 256

5-9-1LaFeO3 257

5-9-2固溶体La1-χSrχFeO3 264

5-10V2O3,金属—绝缘体相变 268

5-10-1晶体结构及电阻率 269

5-10-2V2O3及其固溶体(V1-xMx)2O3的相图 271

5-10-3V2O3的输运性质 272

5-10-4V2O3的能带结构 273

5-10-5V2O3的相变理沦 275

5-11金属氧化物陶瓷高温超导材料 278

5-11-1陶瓷高温超导材料的发现 278

5-11-2陶瓷高温超导材料的晶体结构和电子结构 280

5-11-3陶瓷高温超导材料的制备研究 284

5-11-4陶瓷高温超导材料的现况和问题 285

主要参考文献 288

第二篇 化合物半导体基础 291

第六章 化合物半导体的能带结构和缺陷结构 291

6-1化合物半导体的能带结构 293

6-1-1引言 293

6-1-2化合物半导体的能带结构 297

6-1-3混溶晶体——固溶体的能带 308

6-2化合物半导体中的杂质和缺陷结构 315

6-2-1Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体中的杂质 315

6-2-2Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体中的杂质 320

6-2-3化合物半导体中的缺陷 321

6-3化合物半导体中的点缺陷K—V图 326

6-3-1引言 326

6-3-2CdTe中的点缺陷平衡 327

主要参考文献 334

7-1化合物半导体的特点及其应用 336

第七章 典型化合物半导体的缺陷结构及电子输运性质 336

7-2化合物半导体的散射机制和输运性质 341

7-2-1散射机制 341

7-2-2输运性质 343

7-3各种重要化合物半导体的输运性质和缺陷结构 348

7-3-1重要的Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体 349

7-3-2Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体和ZnO 358

7-3-3Ⅳ-Ⅵ族化合物半导体 361

7-3-4混溶晶体 363

主要参考文献 368

附录一 测量金属氧化物半导体材料的高温电导率的四探针法 369

1.高温电导率与氧分压关系的测定 369

2.电导率与温度关系的测量 371

附录二 电子输运现象的数值解法 371

1.用迭代法计算输运系数的计算机程序 372

2.用蒙多卡罗法计算热电子电导率和扩散系数的计算机程序 386

附录三 主要导电金属氧化物的室温电阻率 395

主要参考文献 396

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