岩石 矿物的X射线荧光光谱分析PDF电子书下载

目录 1

序言 1

第一章 X射线光谱的激发 1

（一）特征X射线谱 1

（二）荧光产额 3

（三）X射线和电子束对物质的穿透 7

1．X射线的吸收 7

2．X射线的散射 12

3．电子的韧致辐射 15

5．电子的反向散射 19

4．电子的散射 19

6．电子束强度的衰减 22

（四）一次特征谱的强度 22

1．电子碰撞引起原子电离的有效横截面的计算 23

2．近似分析中一次特征谱的强度计算 24

3．蒙特—卡罗法计算一次特征谱线的强度 28

（五）X射线连续谱的强度 32

1．韧致辐射的激发截面 32

2．重阳极的韧致辐射强度 33

3．克拉梅斯公式对电子散射和辐射吸收效应的校正 34

（六）X射线荧光光谱的强度 37

1．强度公式的推导 37

2．管窗滤过的一次辐射对X射线荧光光谱强度的影响 40

3．激发X射线荧光光谱的X射线管阳极材料的选择 42

第二章 X射线光谱的记录方法和X射线荧光光谱仪 44

（一）X射线辐射的探测器 44

1．正比计数器 44

2．闪烁计数器 47

3．半导体探测器 48

（二）X射线光学系统的基本类型和X射线辐射 50

的分光晶体 50

1．平面晶体的X射线光学系统 50

2．弯晶X射线光学系统 51

3．分析晶体 52

（三）荧光分析用的X射线管 55

1．X射线管辐射的光谱成分 58

2．X射线管电极接地的最佳方案 60

（四）现代X射线荧光光谱仪的主要类型 61

1．波长色散（晶体—衍射）光谱仪 62

2．能量色散光谱仪 64

第三章 基体效应 69

（一）试样材料对一次和二次辐射的吸收 69

（二）基体辐射激发的分析线强度 70

（三）样品的不均匀性对X射线荧光光谱强度的 73

影响 73

1．X射线荧光激发过程的蒙特—卡罗法模拟 74

2．不均匀样品中被激发的X射线荧光强度的分析式 80

（四）被测元素在化学键影响下的分析线位移 84

（五）样品的化学成分对X射线背景强度的影响 85

第四章 X射线荧光光谱的分析方法 88

（一）基本参数法 89

1．基本参数法分析的一般方案 89

2．非线性方程组的解法 90

3．灼烧样品和熔剂时稀释和损耗的计算 91

4．基本参数法分析时计算浓度的程序 92

5．分析实例 94

方案 96

1．吸收校正计算公式的推导 96

（二）大批分析多组分样品时基本参数法的简便 96

2．校正吸收时，由于衰减系数的不定性而引起的浓度测定误差 104

3．基体激发校正的简化表达式 107

（三）分析相似组成样品的理论校正法 112

（四）改变二次辐射选取角的理论校正法 116

（五）半经验校正法 120

1．二元标准法 121

2．半经验系数校正法 125

3．对分析线吸收校正的外标法 127

（六）经验校正法 130

1．比特季—勃里斯法 131

2．标准同被测元素含量相同的分析法 132

（七）等同的数学校正法 133

3．根据任意成分标准的分析 133

（八）固定校正值的分析 136

1．直接外标法 137

2．稀释法 140

3．内标法 147

第五章 分析样品的制备 156

（一）岩石、矿物粉末的不均匀性 156

（二）岩石和矿物熔融时的物理—化学过程 158

（三）熔剂的选择 161

（四）熔融矿物原料所用坩埚的要求 162

（五）岩石样品变成玻璃体的最佳条件 166

（六）熔融条件和原始混合物的状态 168

（七）由岩石熔体浇铸的辐射体 172

（八）玻璃状辐射体制备的自动化 174

（九）由熔体制备粉末辐射体的方法 175

（十）玻璃状辐射体的化学稳定性 177

第六章 X射线光谱分析的计量特征 179

（一）分析方法的重现性 179

（二）多级方差分析 182

（三）分析结果的准确度和精密度 185

（四）分析方法的灵敏度和被测元素的检出限 186

附录 199

参考文献 207