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第一章 自动测试系统概论 1

1.1 什么是自动测试系统 1

1.2 自动测试系统的组成 1

1.3 自动测试系统的发展概况 2

1.3.1 第一代自动测试系统 2

1.3.2 第二代自动测试系统 3

1.3.3 VXI总线自动测试系统 5

1.4 VXI总线自动测试系统的特点 6

1.5 自动测试系统的发展方向 6

第二章 VXI总线规范 9

2.1 引言 9

2.2 VXI总线系统结构 10

2.2.1 VXI总线系统的主计算机及其接口 12

2.2.2 VXI总线主机箱及模块（Module） 14

2.2.3 器件（Device） 15

2.2.4 资源管理器和0槽服务 17

2.3 VXI总线的总线构成及功能 18

2.3.1 VME总线的特点及结构 24

2.3.2 VXI增加的总线 31

2.4 VXI总线系统的通信协议 38

2.4.1 器件寄存器的基地址及地址分配 39

2.4.2 配置寄存器 40

2.4.3 通信寄存器 42

2.4.4 数据的传送协议 45

2.4.5 其它协议 49

2.5 VXI总线器件的操作 49

2.5.1 VXI总线器件的初始化与自检过程 49

2.5.2 优先级中断 53

第三章 VXI总线接口电路及模块设计 58

3.1 引言 58

3.2 VXI总线接口设计方案 58

3.2.1 消息基器件的VXI总线接口方案 58

3.2.2 带有智能芯片的寄存器基器件的VXI总线接口方案 62

3.2.3 无智能芯片的寄存器基器件的VXI总线接口方案 62

3.3 VXI总线任意波形发生器模块硬件设计 64

3.3.1 技术指标及合成波形的工作原理 64

3.3.2 接口设计方案 65

3.3.3 接口电路的实现 66

3.3.4 模块的功能电路设计 70

3.4 VXI总线高性能数据发生器模块的硬件设计 76

3.4.1 技术指标及基本工作原理 76

3.4.2 VXI总线接口方案 77

3.4.3 接口控制方式的选择 77

3.4.4 VXI总线接口电路的实现 78

3.5 零槽控制器模块硬件设计 84

3.5.1 引言 84

3.5.2 模块的基本结构 84

3.5.3 模块的功能与技术指标 84

3.5.4 模块的硬件电路设计 84

第四章 VXI总线即插即用规范 92

4.1 VXI总线即插即用规范的提出 92

4.2 VXI总线即插即用系统及其特点 93

4.3 系统框架 94

4.3.1 系统框架的概念 94

4.3.2 系统框架的定义与描述 95

4.4 仪器驱动程序 98

4.4.1 VPP仪器驱动程序的由来 98

4.4.2 VPP仪器驱动程序的特点 99

4.4.3 仪器驱动程序的结构模型 100

4.4.4 仪器驱动程序函数简介 102

4.4.5 仪器驱动程序功能面板 104

4.5 虚拟仪器软件结构VISA 106

4.5.1 VISA简介 106

4.5.2 VISA的结构 107

4.5.3 VISA的特点 108

4.5.4 VISA的现状 109

4.5.5 VISA的应用举例 109

4.5.6 VISA资源描述 112

4.5.7 VISA中事件的分析与处理 116

4.5.8 VISA的资源定义 118

4.5.9 软面板规范 139

4.5.10 VPP知识库文件及其它VPP规范 141

第五章 自动测试系统软件设计 144

5.1 软件设计的要求及关键技术 144

5.1.1 自动测试系统软件设计的要求 144

5.1.2 软件设计的关键技术 144

5.2 软件开发环境 145

5.2.1 Lab Windows/CVI简介 145

5.2.2 Lab View与HP VEE简介 146

5.3 软面板的设计 147

5.3.1 VXI软面板的设计原则 147

5.3.2 软面板设计举例 149

5.4 VISA在编程中的应用 152

5.4.1 VISA应用例1 152

5.4.2 VISA应用举例 154

5.4.3 VISA应用举例 155

5.4.4 VISA应用举例 155

5.5 仪器驱动程序的设计 158

5.5.1 仪器驱动程序的设计步骤 158

5.5.2 仪器驱动程序设计举例 161

5.6 中断编程 163

5.6.1 VXI系统中的事件及处理方法 163

5.6.2 回调函数法处理VXI事件用到的函数 164

5.6.3 用回调函数法处理VXI中断例程 165

5.7 ODBC技术 166

5.8 自动测试软件框架 166

5.8.1 自动测试软件框架提出的原因和核心内容 166

5.8.2 自动测试软件框架结构 167

5.8.3 自动测试软件框架的使用方法 168

5.8.4 自动测试流程库的结构 168

5.8.5 自动测试软件框架的主调流程 170

5.8.6 自动测试软件框架的扩充升级 170

5.9 IVI规范 171

5.9.1 引言 171

5.9.2 IVI技术的发展背景及特点 171

5.9.3 应用IVI技术构建自动测试系统 174

第六章 VXI总线自动测试系统的集成 177

6.1 引言 177

6.2 需求分析 178

6.3 确定系统体系结构 178

6.3.1 外置计算机体系结构 178

6.3.2 内嵌计算机体系结构 181

6.3.3 几种体系结构的对比 181

6.4 测试设备选择 182

6.4.1 VXI总线仪器模块的选择 182

6.4.2 VXI主机箱的选择 184

6.4.3 确定被测对象接口 184

6.4.4 配置系统 184

6.5 软件开发环境的选择 185

6.6 软件设计与开发 185

6.6.1 VXI总线测试系统的软件构成 185

6.6.2 软件开发 186

6.7 文件编制 187

6.8 模块化软件结构设计方法 187

6.9 PXI模块仪器系统简介 187

6.9.1 引言 187

6.9.2 PXI总线的提出 188

6.9.3 PXI系统与VXI系统的比较 189

6.9.4 PXI的基本性能及特点 189

6.9.5 PXI模块仪器系统的构成 191

6.9.6 PXI模块仪器系统的应用 192

第七章 IEEE 488.1标准接口系统 194

7.1 引言 194

7.2 标准接口系统的性能和母线结构 195

7.2.1 基本概念 195

7.2.2 标准接口系统的基本性能 197

7.2.3 母线结构及信号线 199

7.2.4 母线电缆和接插头 201

7.2.5 寻址 202

7.3 接口功能与器件接口功能设置 205

7.3.1 接口功能 205

7.3.2 器件内部接口功能设置 208

7.4 信息编码及传递 209

7.4.1 消息分类 209

7.4.2 消息编码 210

7.4.3 消息的传递 216

7.5 接口功能状态图 217

7.5.1 状态图的表示方法 217

7.5.2 DT接口功能状态图 219

7.5.3 L（LE）接口功能状态图 219

7.5.4 AH口功能状态图 222

7.5.5 T（TE）接口功能状态图 224

7.5.6 SH接口功能状态图 227

7.5.7 C接口功能状态图 229

7.6 接口系统的运行 231

7.6.1 三线连锁挂钩过程 231

7.6.2 数传内容与传递方式 232

7.6.3 常用操作序列 232

7.7 初级接口功能的实现 239

7.7.1 常用的GPIB接口芯片 239

7.7.2 μpD7210芯片介绍 239

7.7.3 计算机的GPIB接口 242

7.8 GPIB软件设计举例 243

7.8.1 采用BASIC语言的编程举例 243

7.8.2 采用ISA库函数的编程举例 244

7.9 IEEE 488.2标准与SCPI简介 246

7.9.1 IEEE 488.2标准 246

7.9.2 可程控仪器标准命令——SCPI 250

附录A SR、RL、PP、DC接口功能状态图 253

附录B IEEE488.2需要的IEEE488.1功能子集 255

附录C ASCII码表（7比特） 256

参考文献 257