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绪论 1

0.1 测试技术的含义 1

0.2 测试技术的地位和作用 1

0.3 测试技术的发展方向 2

第1章 测试系统的基本特性 4

1.1 测试系统的静态特性 4

1.1.1 测试系统的静态数学模型 4

1.1.2 静态特性的基本参数 4

1.1.3 静态特性的品质指标 5

1.2 测试系统的动态特性 7

1.2.1 测试系统的动态数学模型 7

1.2.2 测试系统的动态特性 8

1.2.3 测试系统的动态特性参数 10

第2章 测试系统的信号获取 13

2.1 传感器的基本知识 13

2.1.1 传感器的定义 13

2.1.3 传感器的发展方向 14

2.1.2 传感器的分类 14

2.2 温度传感器 16

2.2.1 热电阻 16

2.2.2 热敏电阻 18

2.2.3 热电偶 20

2.2.4 电流集成型温度传感器AD590 26

2.2.5 数字式温度传感器DS18B20 32

2.3 金属应变式传感器 37

2.3.1 金属应变片的工作原理 37

2.3.2 金属应变片的结构和分类 38

2.3.3 金属应变片的主要特性及参数 39

2.3.4 金属应变片的测量电桥 40

2.3.5 金属应变式传感器的应用 44

2.4 电容式传感器 44

2.4.1 变间隙式电容传感器 45

2.4.2 变面积电容传感器 46

2.4.3 变介电常数式电容传感器 47

2.4.4 电容式传感器的测量电路 48

2.4.5 电容式传感器的应用 52

2.5 光电式传感器 53

2.5.1 光电元件 53

2.5.2 光电元件的特性 58

2.5.3 光电传感器的应用 61

2.6 光纤传感器 63

2.6.1 光纤传感器的基本原理 64

2.6.2 光纤的种类及主要参数 65

2.6.3 光纤传感器的组成与分类 67

2.6.4 光纤传感器的应用 68

2.7 智能传感器 71

2.7.1 智能传感器的构成及特点 71

2.7.2 智能传感器的应用 72

3.1 A/D转换器接口 74

3.1.1 A/D转换的基本原理 74

第3章 测试系统的接口技术和总线技术 74

3.1.2 A/D转换器的主要参数 78

3.1.3 A/D转换器的选择原则 79

3.1.4 A/D转换器与微处理器的接口方法 80

3.1.5 常用A/D转换器及接口电路设计 81

3.2 串行通信接口 89

3.2.1 串行通信接口概述 89

3.2.2 数据传送方式 89

3.2.3 串行通信方式 90

3.2.4 串行通信中的调制解调器 91

3.2.5 串行通信的接口标准——RS-232C 92

3.2.6 串行通信的接口电路设计 94

3.3 总线技术 99

3.3.1 总线概述 99

3.3.2 常用的总线标准 103

3.3.3 PC系列总线 109

4.1 被测信号种类 114

第4章 智能测试系统设计 114

4.2.1 系统硬件组成 115

4.2 智能测试系统的基本结构及功能 115

4.2.2 系统软件结构 116

4.3 智能测试系统的设计原则 118

4.3.1 组建测试系统的基本原则 118

4.3.2 组建测试系统的基本方法 118

4.4 单片机自动测试系统 121

4.4.1 数据采集系统的结构 121

4.4.2 单片机自动测试系统的软件结构 132

4.4.3 标度变换 133

4.4.4 单片机自动测试系统的设计 136

4.5 PC机自动测试系统 139

4.5.1 PC机的选择原则 139

4.5.2 PC机自动测试系统的设计实例 140

4.6 分布式自动测试系统 146

4.6.2 化学发光免疫定量测量仪的结构 147

4.6.1 化学发光免疫定量测定方法 147

4.6.3 单片机与PC机的串行通信 148

第5章 虚拟仪器技术 151

5.1 概述 151

5.1.1 虚拟仪器的概念 151

5.1.2 虚拟仪器的特点及意义 152

5.1.3 虚拟仪器的现状及发展前景 153

5.2 虚拟仪器的构成形式 154

5.2.1 PC-DAQ型 154

5.2.2 标准通用接口型 155

5.2.3 闭环控制型 157

5.3 虚拟仪器的开发平台 158

5.3.1 虚拟仪器开发平台的种类 158

5.3.2 LabVIEW软件开发平台的特点 158

5.3.3 图形化程序设计方法 160

5.4.2 选择仪器的组建方式 161

5.4.1 虚拟仪器软件开发环境的比较与选择 161

5.4 虚拟仪器的开发思路 161

5.4.3 软件设计 162

5.5 基于LabVIEW的虚拟仪器设计 163

5.5.1 虚拟频率信号采集系统的开发 163

5.5.2 基于网络的虚拟测试系统 168

第6章 测试系统的抗干扰技术 171

6.1 干扰因素 171

6.2.2 电磁耦合 172

6.2.1 静电耦合 172

6.2 干扰进入系统的基本形式 172

6.2.3 共阻抗耦合 173

6.2.4 漏电流耦合 173

6.2.5 传导耦合 174

6.2.6 辐射电磁场耦合 174

6.3 共模干扰与差模干扰 174

6.3.1 差模干扰 174

6.4.1 接地技术 175

6.4 测试系统的抗干扰措施 175

6.3.2 共模干扰 175

6.3.3 共模干扰抑制比 175

6.4.2 屏蔽技术 179

6.4.3 滤波技术 182

6.4.4 隔离技术 185

6.4.5 印刷电路板布线抗干扰方法 187

6.4.6 软件抗干扰方法 190

6.5 抗干扰实验 191

6.5.1 静电放电试验 191

6.5.2 快速瞬变脉冲群试验 192

6.5.3 抗雷击浪涌实验 192

6.6 测控系统抗干扰设计实例 193

6.6.1 硬件的抗干扰设计 194

6.6.2 软件的抗干扰设计 197

参考文献 197