IAEA核保障统计概念与技术 修订第4版PDF电子书下载

目录 1

第一章　引言 1

参考文献 2

第二章　概率基本概念 3

2.1　引言 3

2.2　概率 3

2.2.1　概率定律 3

2.3　随机变量 5

2.4　概率密度函数 5

2.4.1　超几何密度函数 5

2.4.2　正态密度函数 6

2.5　参数和矩 7

2.5.1　均值 7

2.5.2　标准偏差和方差 7

2.6　组合密度函数 8

2.6.1　协方差和相关系数 8

2.7　抽样分布 9

2.7.1　统计数 9

2.7.2　样本均值和样本方差 9

2.7.3　样本均值的抽样分布 9

2.7.4　样本方差的抽样分布 10

2.7.5　t统计量 10

2.8　随机抽样 11

2.7.6　F统计量 11

附录2.1　正态分布的坐标和值域 13

附录2.2　卡方x2分布 18

附录2.3　t分布 20

附录2.4　F分布 21

第三章　统计推断 25

3.1　引言 25

3.2　估计 25

3.2.1　点估计 25

3.2.2　置信区间估计 25

3.2.3　模型中的参数估计 26

3.3　假设检验 26

4.2　误差来源 30

4.2.1　统计抽样误差 30

第四章　测量误差 30

4.1　误差定义 30

4.2.2　总体测量误差 31

4.2.3　材料取样误差 31

4.2.4　分析测量误差 31

4.2.5　其它误差 32

4.2.6　统计抽样误差分布 32

4.3　误差表达模式 32

4.3.1　加法模式 33

4.3.2　其它模式 33

4.4.1　随机误差 34

4.4　误差的种类 34

4.4.2　系统误差（偏差） 35

4.4.3　短期系统误差 36

4.5　误差的影响 37

4.5.1　对设施MUF值的影响 37

4.5.2　对视察员与设施操作员数据比对方面的影响 38

4.6　误差的估算 39

4.6.1　标准样品的测量 39

4.6.1.1　单标准样品 39

4.6.1.2　几个标准样品 41

4.6.1.3　标准样品在不同时间内的测量 44

4.6.2.1　常规标定方法和转换标定方法 47

4.6.2　测量系统的标定 47

4.6.2.2　线性标定；恒方差 49

4.6.2.3　线性标定；非恒方差 52

4.6.2.4　单点标定 55

4.6.2.5　SAM-2仪器对铀-235百分率的标定 59

4.6.2.6　几个标定数据集；线性模型 61

4.6.2.7　线性标定，累积模型 62

4.6.2.8　几个标定数据集；累积模型 65

4.6.2.9　非线性标定 66

4.6.2.10　非线性标定；几个标定数据集 69

4.6.3　非标准物质的测量 69

4.6.3.1　重复测量；方差分析 70

4.6.3.2　双重测量；成对差 71

4.6.3.3　格拉布（Grubb）分析法；两种测量方法 72

4.6.3.4　格拉布（Grabb）分析法：多于两种测量方法，方法的相对偏差不变 78

4.6.3.5　两个以上非恒量相对偏差的测量方法 85

4.6.3.6　不同实验组合参数的估算 87

4.6.3.7　在有异常数据情况下标准误差的计算 90

4.6.4　在有舍入误差情况下的误差计算 92

4.6.5　实验室间测试数据 92

4.6.5.1　单一标准参考物质 92

4.6.5.2　几个样本；非标准物质 97

4.6.5.3　实验室相关的随机误差 100

4.6.5.4　视察样品分发到几个试验室 101

4.6.6　同位素相关技术 107

参考文献 109

第五章　误差传递 111

5.1　误差传递定义 111

5.2　误差传递，加法模式 111

5.3　通用的误差传递，泰勒级数 113

5.3.1　显函数 113

5.3.2　隐函数 115

5.4　计算MUF方差 122

5.4.1　MUF定义 122

5.4.2　误差传递公式的直接应用 123

5.4.3.1　假设 124

5.4.3　通用方法的元素MUF的方差 124

5.4.3.2　符号说明 125

5.4.3.3 MUF随机误差的方差 125

5.4.3.4 MUF系统误差的方差 129

5.4.3.5　恒定的绝对误差情况 135

5.4.4　累加MUF方差 137

5.4.4.1　连续MUF分析 137

5.4.5　通用方法的同位素MUF方差 142

5.4.5.1　总量和元素测量误差引入的同位素MUF方差 143

5.4.5.2　同位素测量引入的同位素MUF方差 145

5.4.6　其它因素对MUFF和它的方差的影响 148

5.5　？方差的计算，差值统计分析 149

5.5.1　？的定义 150

5.5.2　误差传递公式直接应用的？方差 151

5.5.3　？方差通用方法 154

5.5.3.1　假设 154

5.5.3.2　符号说明 154

5.5.3.3 ？随机误差方差 155

5.5.3.4 ？系统误差的方差 158

5.5.4　同位素？的方差 165

5.6　（MUF-？）统计分析 170

5.6.1　（MUF-？）的应用 170

5.6.2　（MUF-？）方差 171

参考文献 174

6.1　视察的目的 176

6.1.1　衡算统计对转移情况的响应 176

第六章　视察计划的设计 176

6.2　视察活动 178

6.2.1　属性视察活动 178

6.2.2　变量视察活动 179

6.3　视察方案设计准则 179

6.3.1　属性视察准则 179

6.3.2　变量视察准则 180

6.3.2.1　属性方式的变量视察准则 181

6.3.2.2　用？确定变量方式的变量视察准则 181

6.4.1　属性视察样本量（总体缺陷） 182

6.4.1.1　规定层的属性视察样本量 182

6.3.2.3　用（MUF-？）确定变量方式的变量视察准则 182

6.4　视察样本量的选择 182

6.4.1.2　所有层的属性视察样本量 184

6.4.1.3　博奕论结果 186

6.4.1.4　在规定的时间内对存量层抽样 187

6.4.2　变量视察样本量 188

6.4.2.1　变量视察样本量—属性模型 188

6.4.2.2　博奕论的结果 191

6.4.2.3　变量视察样本量—变量方式 192

6.5　视察计划的评价—单个检验 205

6.5.1　主要检验与辅助检验之间的区别 205

6.5.2　属性视察检验 206

6.5.3 ？k检验和收发差检验 208

6.5.4 ？检验 210

6.5.5 MUF检验 212

6.5.6　（MUF-？）检验 213

6.6　目标量的检出总概率 215

6.6.1　属性检验和（MUF-？）检验 216

6.6.2　属性、？和MUF检验 218

参考文献 224

附录6.1　计算二元正态概率的函数T（h,a）的函数表A 226

附录6.2　计算二元正态概率的函数（续）T（h,a）的函数表B 234

附录6.3　？和MUF检验显著水平的可选择值 242

7.1.1　抽取随机样本 243

7.1.1.1　随机数表 243

第七章　执行视察计划 243

7.1　现场活动 243

7.1.1.2　小型计算器 244

7.1.1.3　计算机 246

7.1.2　属性视察的缺陷准则 247

7.1.2.1　整体缺陷——属性检验仪 247

7.1.2.2　部分缺陷——变量检测仪 249

7.1.3　比较同位素分布的缺陷准则 250

7.1.4　缺陷的置信区间 253

7.1.4.1　缺陷数 253

7.2.1.1　正态性检验 256

7.2　视察后活动 256

7.2.1　假设的补充检验 256

7.2.1.2　随机性检验 259

7.2.1.3　方差检验 263

7.2.1.4　Dk及发方／收方差值的检验 265

7.2.1.5　衡算工作的国标标准 266

7.2.2　假设的基本检验 266

7.2.2.1 ？检验 267

7.2.2.2 MUF检验 267

7.2.2.3 （MUF-？）检验 268

7.2.3 MUF的置信区间 269

7.2.3.1　基于MUF的置信区间 269

7.2.3.2　基于（MUF-？）的置信区间 271

7.3　缺陷的影响：D和（MUF-？）的一般分析 272

7.3.1　引言 272

7.3.2　给定层的广义差统计量 272

7.3.3　所有K层的广义差统计量 280

7.3.4　广义的（MUF-？T）统计量 282

7.3.5　调整后的MUF的置信区间 283

7.3.6 （MUF-？T）与（MUF-？）的比较 283

参考文献 284

附录7.1　随机数 286

附录7.2 An-i+1系数 301

附录7.3 W-检验临界值 304