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雷达目标特征信号
雷达目标特征信号

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工业技术

  • 电子书积分:15 积分如何计算积分?
  • 作 者:黄培康主编
  • 出 版 社:北京:中国宇航出版社
  • 出版年份:2009
  • ISBN:9787800345623
  • 页数:466 页
图书介绍:本书以雷达目标作为研究对象,系统地阐述了雷达目标特征信号的基本内容及测量方法。其内容包括:雷达散射截面(RCS)、角闪烁、目标极化与相位特征、多散射中心与微波成像等特征信号;目标特征的测量方法、测量设备、室内与室外测试场;以及目标识别等方面。书中给出了在实践中常用的曲线、图表与数据。
《雷达目标特征信号》目录

第1章 概论&黄培康 2

1.1雷达目标特征信号的含义及其内容 2

1.2雷达与雷达目标的匹配 6

1.3雷达目标特征信号的应用 10

参考文献 17

第2章 雷达散射截面&黄培康等 20

2.1 RCS定义和分类 20

2.1.1 RCS定义 20

2.1.2宽带RCS 23

2.1.3 RCS分类 27

2.2 RCS计算方法概述 31

2.3几种定标体的RCS值 38

2.3.1金属导电球RCS精确值 38

2.3.2金属平板RCS精确值 40

2.4 RCS模型化 46

2.4.1模型化研究方法 46

2.4.2 RCS确定性模型 47

2.5 RCS起伏的统计特性及其特征量 53

2.5.1经典统计参数 54

2.5.2对数正态(Log-Normal)模型 55

2.5.3 Chi—平方分布(Chi-Square)模型 55

2.5.4赖斯分布模型 56

2.5.5非参数法统计模型 56

2.6 RCS减缩技术 59

2.6.1赋形 61

2.6.2雷达吸波材料 66

2.6.3有源与无源阻抗加载 72

2.6.4 RCS减缩的作用 74

2.7 RCS增强和仿真技术 75

2.7.1 RCS增强器 75

2.7.2 RCS仿真(物理复现) 80

参考文献 81

第3章 扩展目标的角闪烁&黄培康 殷红成 84

3.1角闪烁研究概况 84

3.2角闪烁的两种物理概念及其统一 87

3.3角闪烁的计算方法 91

3.4角闪烁统计特性及其参量 97

3.4.1两点目标角闪烁统计特性及其参量 97

3.4.2飞机目标的角闪烁统计特性 103

3.4.3角闪烁的频谱特性 107

3.5角闪烁抑制技术 108

3.5.1角闪烁与RCS的相关性 109

3.5.2角闪烁信号处理技术 112

3.5.3频率分集技术 115

3.5.4空间分集技术 118

3.5.5极化分集技术 118

3.6角闪烁增强技术 118

3.6.1无源法 119

3.6.2有源法 122

参考文献 124

第4章 目标极化特性和相位特性&殷红成 黄培康 126

4.1极化散射矩阵及其变换 126

4.1.1极化波 126

4.1.2极化散射矩阵 129

4.1.3线一圆极化散射矩阵变换 131

4.2散射矩阵的极化不变量 134

4.3双基地圆极化散射矩阵特性 141

4.4非正交二面角反射器的复散射矩阵 143

4.5完纯导电球的相位 148

4.6相位标定 150

4.6.1相位的相对标定法 150

4.6.2相位定标体 152

4.7相位特征信号的应用 153

4.7.1由相位求角闪烁 153

4.7.2由相位获得扩展目标的横向分辨力 159

4.8复散射矩阵的测量 160

4.8.1相对相位测量法 163

4.8.2纯幅度测量法 165

附录4A式(4-60)中Pv的计算公式 167

附录4B导电球后向散射截面和相位的计算程序 172

参考文献 175

第5章 多散射中心和微波成像&许小剑 黄培康 177

5.1多散射中心 177

5.1.1散射中心的客观存在 177

5.1.2散射中心的主要类型 183

5.1.3散射中心的解析近似 186

5.2计算机层析(CT)技术与旋转目标成像 190

5.2.1 CT技术简介 190

5.2.2目标散射函数和成像公式推导 193

5.2.3 CT成像与旋转目标成像之间的异同 197

5.3旋转目标成像的两维分辨力 201

5.3.1点扩展函数的概念 201

5.3.2旋转目标成像的极限分辨力 201

5.3.3旁瓣抑制技术 205

5.3.4关于分辨力的讨论 206

5.4小角度旋转目标成像 207

5.4.1径向分辨力与信号带宽 208

5.4.2横向分辨力与信号多普勒频率 212

5.4.3小角度旋转成像时的两维分辨力 215

5.5距离一多普勒两维分辨的成像算法 219

5.5.1远场条件下的两维解耦合 220

5.5.2两维插值FFT法 222

5.5.3滤波—逆投影法 223

5.5.4近场条件下的修正滤波—逆投影法 224

参考文献 226

第6章 目标散射的测量技术和测量设备&樊正芳 林桂森 黄培康 229

6.1概述 229

6.2相对标定法和绝对标定法 230

6.2.1相对标定法 231

6.2.2绝对标定法 233

6.3远场测量条件 236

6.3.1经典的远场条件 238

6.3.2准远场条件 244

6.4 RCS测量误差 254

6.4.1 RCS测量的误差因素 254

6.4.2背景回波与最小可用RCS电平 258

6.4.3相干误差的统计分析 263

6.5连续波体制 271

6.6脉冲波体制 273

6.7线性调频连续波(LFM-CW)系统 277

6.8脉冲体制的阶跃变频系统 286

6.9连续波体制的阶跃变频系统 297

参考文献 302

第7章 全尺寸目标散射测试外场&林桂森 黄培康 308

7.1场地类型 308

7.1.1吊挂倾斜场 309

7.1.2地面平面场 310

7.1.3地面自由空间场 313

7.2地面平面场RCS测量原理 314

7.3地面反射特性的影响 317

7.3.1地面反射系数与相对功率增益 317

7.3.2地表状态与反射系数 318

7.4地面铺覆和杂散干扰抑制 323

7.4.1地面铺覆 323

7.4.2杂散干扰抑制 326

7.5 RCS数据的表示和简化 331

7.5.1姿态角与坐标系 332

7.5.2 RCS数据的表示 337

7.5.3 RCS数据的简化 352

参考文献 363

第8章 低散射背景的室内测试场&印国泰 杨爱秋 黄培康 365

8.1室内测试场 365

8.1.1引言 365

8.1.2缩比模型的RCS测量 366

8.1.3现代室内测试场 368

8.2微波暗室及其性能 372

8.2.1微波暗室的评价指标 372

8.2.2微波暗室的设计 373

8.2.3雷达吸波材料 377

8.2.4微波暗室性能的测试方法 382

8.3低散射背景技术 385

8.3.1引言 385

8.3.2低散射目标支架 386

8.3.3矢量场相减技术 389

8.3.4软件距离门和硬件选通门技术 391

8.4紧缩场技术 393

8.4.1引言 393

8.4.2紧缩场类型 394

8.4.3紧缩场的边缘处理技术 398

8.4.4紧缩场的机械加工 402

8.4.5紧缩场的主要参数 403

参考文献 405

第9章 目标识别&黄培康 许小剑 庄钊文 407

9.1目标识别模型 407

9.2特征信号提取 409

9.2.1目标RCS起伏特征 410

9.2.2多频测量 410

9.2.3目标瞬态响应特征 411

9.2.4波形综合技术 415

9.2.5高分辨力技术 418

9.2.6极化特征 421

9.2.7目标运动调制与非线性散射特征 422

9.3特征空间变换 422

9.3.1卡南—洛伊夫(K-L)变换 422

9.3.2沃尔什变换 427

9.3.3梅林变换 430

9.3.4离散度准则 433

9.4判据准则与分类器设计 436

9.4.1贝叶斯分类器 436

9.4.2线性分类器 437

9.4.3最近邻分类器 440

9.4.4序贯分类器 441

9.5目标识别应用示例 441

9.5.1特征提取 442

9.5.2模糊识别原理 443

9.5.3目标特征数据库的建立 444

9.5.4分类判决 445

9.5.5识别结果 448

参考文献 450

附录 金属导电球后向RCS数据表 453

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