自动测试系统集成技术PDF电子书下载

第1章自动测试系统概述 1

1.1 自动测试系统的发展 1

1.1.1 自动测试系统的概念与组成 1

目 录 1

1.1.2 自动测试系统的应用范围 3

1.1.3 自动测试系统的发展概况 3

1.2自动测试设备和测试程序集 7

1.2.1 自动测试设备 7

1.2.2 ATE的类型 14

1.2.3测试程序集 19

1.3.1 ATE的开发过程及研制策略 21

1.3 自动测试系统的研制过程和研制策略 21

1.3.2TPS开发过程 26

1.4通用自动测试系统简介 31

1.4.1早期的自动测试系统 31

1.4.2近期的通用自动测试系统 37

1.5开关系统设计 41

1.6 自动测试系统研制中涉及的主要标准 42

1.6.1系统研制及软件开发标准 42

1.6.2硬件系统组建标准 47

1.6.3测试及诊断信息标准 48

1.7.1虚拟仪器的概念和结构 51

1.7虚拟仪器技术对自动测试系统发展的影响 51

1.7.2 ATE中的虚拟测量仪器 53

1.7.3 ATE中的虚拟激励源 53

1.7.4虚拟仪器的软件框架 54

1.7.5虚拟仪器对军用ATE发展的影响 56

1.8通用测试语言ATLAS 56

1.8.1 IEEE 716-95与ARINC 626-3的比较 57

1.8.2 ATLAS 2000的主要特点 63

1.8.3 ATLAS 2000对现有的ATLAS语言的主要改进 65

1.9.2维修分级与综合诊断策略 66

1.9.1故障检测与诊断策略 66

1.9维修故障诊断策略和诊断技术 66

1.9.3智能故障诊断方法综述 70

第2章测试总线技术 84

2.1测试总线的概念 84

2.1.1总线的基本规范内容 84

2.1.2总线的性能指标 85

2.1.3总线的类型 86

2.2 GPIB通用接口总线 87

2.2.2 GPIB及IEEE488的发展 87

2.2.2 IEEE488.1标准 88

2.2.3 IEEE488.2标准 96

2.2.4 IEEE488的性能扩展 102

2.2.5 HS 488高速挂钩协议的GPIB接口总线 103

2.3 VME总线 105

2.3.1 VME总线概述 105

2.3.2 VME总线标准的形成与发展 106

2.3.3 VME总线的系统体系结构 109

2.3.4 VME总线的硬件机械结构 111

2.3.5 VME64x的信号定义和连接器结构 115

2.3.6 VME总线的应用 118

2.4 VXI总线 118

2.4.2 VXI总线的机械构造 119

2.4.1 VXI总线的特点 119

2.4.3 VXI总线的电气性能 122

2.4.4 VXI技术的发展和新的技术规范 130

2.4.5 MXI接口总线 132

2.5 CompactPCI和PXI总线 136

2.5.1 CompactPCI总线技术 137

2.5.2 PXI总线技术 141

2.6 USB/IEEE1394通用串行总线 148

2.6.1 USB概况 148

2.6.2 USB的基本性能 149

2.6.3 USB系统的架构和通信模型 150

2.6.4 USB集线器 153

2.6.5 USB总线协议和数据流类型 155

2.6.6 USB设备的配置和通用操作 156

2.6.7USB物理接口的特性 157

2.6.8 IEEE1394 159

第3章 自动测试系统的软件控制技术 161

3.1虚拟仪器设备控制概念 161

3.2即插即用软件标准 162

3.3虚拟仪器系统结构 164

3.3.1概述 164

3.3.2软件交互调试工具 165

3.3.3 VISA技术入门术语 166

3.4IVI可互换虚拟仪器 169

3.4.1仪器驱动程序概述 169

3.4.2 IVI仪器驱动程序 171

3.4.3用户如何使用IVI仪器驱动程序 171

3.4.4 IVI仪器驱动程序结构 171

3.4.5 IVI驱动程序举例 176

第4章自动测试系统硬件集成技术 199

4.1 自动测试系统硬件组成 199

4.2 自动测试设备的类型及框图 200

4.3.1影响自动测试系统硬件集成的主要因素 202

4.3 自动测试系统硬件集成 202

4.3.2自动测试系统硬件集成过程 203

4.3.3测试系统硬件集成策略 210

4.4控制器的选择与配置 210

4.4.1外置控制器 211

4.4.2嵌入式控制器 212

4.5开关系统设计 213

4.5.1开关系统设计原则 213

4.5.2开关的类型和开关模块的拓扑结构 214

4.5.3典型开关产品性能参数比较 216

4.5.4延长开关寿命的设计 217

4.5.5开关系统的配置 218

4.5.6开关系统设计举例 220

4.6信号接口装置设计 222

4.6.1信息接口装置的类型 222

4.6.2通用信号接口装置机械结构 224

4.6.3通用测试接口的定义与连接 225

4.6.4接口适配器的设计 227

4.6.5 ATE系统校准策略与校准适配器的设计 230

4.7可靠性与安全性设计 233

4.7.1可靠性设计 233

4.7.2抗干扰设计 234

4.7.3安全性设计 239

第5章 自动测试系统软件研制技术 243

5.1测试软件的组成及结构 243

5.1.1测试软件技术的发展 243

5.1.2虚拟测试系统的概念及组成 244

5.1.3虚拟测试系统的体系结构 247

5.2 自动测试系统的应用软件开发工具 251

5.2.1 LabVIEW 252

5.2.2 MeasurementStudio（测量工作室） 253

5.2.3 LabWindows/CVI 255

5.2.4TestStand（测试站） 260

5.2.5 PAWS 264

5.2.6 TestBase 269

5.2.7虚拟仪器测试环境VITE 273

5.2.8通用数据采集工作站软件包DAS 279

5.3通用测试语言及其应用 283

5.3.1 ATLAS发展概况 283

5.3.2 ARINC626和IEEE716的特点 287

5.3.3 ATLAS2000语言 288

5.4.1研制计划 300

5.4.2需求分析 300

5.4专用自动测试系统的软件研制 300

5.4.3系统设计 301

5.4.4程序设计 307

5.4.5软件测试 315

5.5通用测试软件研制技术基础 317

5.5.1组件设计技术 318

5.5.2虚拟仪器接口对象模型技术 321

5.5.3模型驱动体系结构设计技术 324

5.5.4故障诊断 326

5.6.1系统资源接口设计 334

5.6测试程序集的开发方法 334

5.6.2测试程序设计 335

5.7 自检、自校及可靠性、安全性设计 337

5.7.1 自检 338

5.7.2软件维护过程 338

5.7.3 自校 339

5.7.4可靠性及安全性 340

第6章 自动测试系统的集成方法与步骤 342

6.1 ATS开发与集成过程 342

6.2测试需求分析及文件编写 344

6.2.1测试需求分析的内容 344

6.2.2测试需求文档举例 345

6.3 自动测试系统总体方案设计 356

6.3.1系统电气连接形式 356

6.3.2控制方式 357

6.3.3系统总线构型 357

6.3.4系统结构 358

6.4自动测试系统硬件设计 361

6.4.1硬件需求分析 361

6.4.2测试资源选型 362

6.4.3检测接口装置及信号定义 362

6.5.1 自动测试系统软件结构 363

6.5 自动测试系统软件研制过程 363

6.5.2软件文档 364

6.5.3软件平台设计 366

6.5.4测试程序设计 369

6.5.5软件研制过程 371

6.6系统验收测试 372

6.6.1概述 372

6.6.2常规验收 373

6.6.3定期试验 374

6.6.4可靠性验收试验和维修性验证试验 374

附录1 自动测试系统部分成果项目 375

附录2英文缩写词 381